发布时间:2020-05-11 10:33 原文链接: 浅析测厚准确性的影响因素

测厚是一项重要的检验项目。测厚的方法除了常规的卡尺、千分尺等机械方法外,还有超声波测厚、射线测厚、磁性测厚、电流法测厚等等。在厚度检验过程中,影响测量结果准确性的因素较多,在测厚操作中需要特别注意的几个问题。  

  影响测厚准确性的因素

  测厚仪本身的精度和声速的校对。每台测厚仪都有相应的精度,如常用的测厚仪精度为士0.1+1%丁,其中下为待测工件的厚度。测厚仪本身精度的影响会使实测厚度和真实厚度值之间产生偏差,在具体测量时应根据实际要求选择相应精度的测厚仪。由超声波测厚仪的工作原理可知声速是测量厚度值的决定因素,所以测厚前应按说明书对测厚仪进行测试、校准,并根据不同工况条件、设备情况调整声速。

探头和辊合剂的选择。使用超声波测厚仪时正确选择探头和祸合剂也是保证测量结果准确性的重要因素。如测量高温工件时仍选用普通探头,极易造成示值偏高、示值跳动,有时还会损坏探头;待测设备表面不平整或测量小管径管道时,测厚仪应选用小直径探头,如果探头选用过大会造成探头和被测物表面接触不好,导致探头接收的脉冲波信号强度不够,测厚仪示值偏低。

 藕合剂是施加在探头与待测工件之间,以保证二者实现软接触的流体传声介质,其作用在于排除空气,填充间隙,减少探头磨损。在选用藕合剂时应尽量选用声阻抗接近工件的声阻抗,以提高声压的透射率,提高测量准确性。

  容器的缺陷及腐蚀情况的影响

  母材存在夹层。如测厚仪示值减少很多,有时甚至超过正常值一半,且内外表面检查无异常缺陷,这种情况下应考虑是母材存在夹层的原因。探头发射的脉冲波遇到夹层即发生反射,这时测量所得厚度值并非工件的全部厚度,而是工件表面到夹层所在处的厚度值。遇到这种情况应继续增加测定点或用超声波探伤仪查明夹层分布情况及与母材表面倾斜度,以便做出综合安全状况评价。

  局部存在严重腐蚀坑。局部腐蚀一般可能是机械磨损或冲刷磨损,也可能是局部腐蚀,此时测量厚度值会明显降低。如为磨损腐蚀可以磨损腐蚀面为中心向四周扩展增加测厚点数,可大致摸清这种壁厚减薄的性质、范围及深度;如为点腐蚀则测厚仪示值偏低程度与蚀孔深成正比,但稍稍改变测点位置,示值即可回升,通常可采用小范围增加测点数量即可判明腐蚀范围和深度。

内壁存在弧坑、损伤。制造过程中可能存在弧坑、缩孔、损伤等缺陷,制造完成内壁不便进入检查,如测厚过程中探头正好处于此位置,必然会出现示值偏低情况。

  临氢介质的氢腐蚀。测定临氢介质的压力容器壁厚时,若出现壁厚“增值”现象,应考虑氢腐蚀的可能性。这种情况对设备危害极大,需慎重对待,必须辅以其它检验、检测手段方可判明,做出科学结论。

  测厚时的注意事项

  认真查阅原始技术资料和历次检验报告,对设备本身内部结构、介质对材料的腐蚀特点、生产工艺流程、制造成型的原生缺陷及上一检验周期的腐蚀情况做到心中有数,如有必要还可详细询问操作、运行人员。

  测厚前按说明书对测厚仪进行测试、校准,包括选用不同类型探头、藕合剂及根据不同工况条件、设备情况调整声速等。

  根据检验规程,测点位置选择应具代表性,且保证有足够的测定点数,测定后标图记录,以便下次检验中进行互相对比、判断。




相关文章

日立分析发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪

2018年6月19日,英国牛津:日立分析仪器公司(日立分析仪器),是日立高新技术公司(TSE:8036)旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日,日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪......

德国EPKMinitest720FN1.5涂层测厚仪

-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性 -测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用 -FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基......

韩国_XRF2000L_荧光金属镀层测厚仪

产品介绍 XRF-2000L荧光金属镀层测厚仪产品描述: 应用 :测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92&nb......

X射线珠层测厚仪校准规范通过审定填补国内空白

根据广西质量技术评价认证中心关于召开《X射线珠层测厚仪》广西地方校准规范审定会的通知要求,广西质量技术评价认证中心于6月22日在南宁组织有关专家对由国家珍珠及珍珠制品质量监督检验中心和广西计量检测研究......

横河电机发布WEBFREXNV在线测厚仪

横河电机集团宣布最新研发出了WEBFREXNV在线测厚仪,该仪表用于测量并控制薄膜、薄板的厚度,从而确保其厚度一致。WEBFREXNV具有操作和监视功能得到改善的操作站。该新产品预计将于6月30日发布......

牛津仪器推出新款X射线荧光镀层测厚仪XStrata920

牛津仪器推出最新款快速可靠的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪X-Strata920,其稳定性和可靠性大大提升,加上圆滑的新设计,使其成为性价比极高的分析工具。稳定性和可靠性提升性能增强符合安全标准圆滑的......

GE检测控制技术推出高性能新型测厚仪

近日,GE检测控制技术推出的新型测厚仪DMSGo是一款高端测厚仪,既简单易用,又能在一系列可选择的格式下提供准确、全面的厚度检测数据。它具有创新的操纵杆控制技术、全方面的可见性、高分辨率的色彩显示功能......