测厚仪的测试条件

 测厚仪与其他仪器一样，使用前既要掌握仪器性能，也需了解测试条件。使用磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的，所以，被测基体的电磁物理特性与物理尺寸会影响到测量值的可靠性。
一.基体表面曲率 在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。
二.基体金属zui小厚度 基体金属必须有一个给定的zui小厚度，使探头的电磁场能完全包容在基体金属中，zui小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，便可以得到准确的直读厚度值。

三.如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。测量该点的覆层厚度，需要在相同条件的无覆层表面进行预先校准后测量。

四.不论是基体或是覆层，越粗糙，测量值越不可靠。在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。为获得可靠的数据，基体的平均粗糙度应小于覆层厚度的5％。对于表面杂质应予以去除。
五.探头测量板的作用力 探头测量时的作用力应是恒定的,并应尽可能小,才不致使软的覆层发生形变，以致测量值下降或产生大的波动，必要时，可在两者之间垫一层硬质、不导电，具有一定厚度的硬性薄膜。这样通过减去薄膜厚度就能适当地得到剩磁。
六.外界恒磁场、电磁场和基体剩磁 应该避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量。残存的剩磁，根据检测器的性能可能导致或多或少的测量误差，但是如结构钢，深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。
七.覆层材料中的铁磁成份和导电成份 覆层中存在某些铁磁成分，如某种颜料时，会对测量值产生影响，在这种情况下，对用作校准的对比试样覆层应具有与被测物覆层相同的电磁特性，经校准后使用。使用的方法可以是将同样的覆层涂在铝或铜板试样上，用电涡流法测试后获得对比标准试样。