硫同位素的热电离质谱(TIMS)测定方法

《质谱学报》2007年02期   
 
  硫同位素的热电离质谱(TIMS)测定方法
  张苗云;王世杰;洪冰;邱勇军
  　　环境样品的硫同位素比值能够提供硫的来源及其在环境中扩散迁移的相关信息。正离子热电离质谱测定硫同位素的方法,所需的样品量极低,适合无法采集到足够硫含量的环境样品中硫同位素的分析,分析精度在0.5‰~2‰之间,为深入了解大气环境中挥发性硫化物的汇、源及全球环境的硫循环提供了可能。
【作者单位】：中国科学院地球化学研究所环境地球化学国家重点实验室;中国科学院地球化学研究所环境地球化学国家重点实验室;中国科学院地球化学研究所环境地球化学国家重点实验室;金华市环境监测中心站 贵州贵阳550002;中国科学院研究生院;北京100049;金华市环境监测中心站;浙江金华321000;贵州贵阳550002;贵州贵阳550002;浙江金华321000
【关键词】：硫同位素;正离子;热电离质谱
【基金】：浙江省科技计划项目(2004C33072);金华市科技计划项目(2003-2-222)
【分类号】：X830.2;O657.63
【DOI】：CNKI:SUN:ZPXB.0.2007-02-008
【正文快照】：
　　硫同位素的测定有多种方法,诸如气体质谱法、等离子质谱(ICP-MS)法、二次离子质谱(SIMS)法、连续流质谱(CF-IRMS)法及热电离质谱(TIMS)法等。热电离质谱是基于经分离纯化的试样在Re、Ta、Pt等高熔点的金属带表面上,通过高温加热产生热致电离的一门质谱技术。主要应用于地球化学