简述测厚仪的测量原理

 测厚仪是用来测量物体厚度的仪器，它是利用微波和激光技术制成的。它分为激光测厚仪，X射线测厚仪，薄膜测厚仪等。测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
    它的测量原理：

　　器测量出从安装支架到物体表面的距离，进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。

　　激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化,进而可计算出被测物体的实际移动距离。　测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。