精微高博申报ANTOP国产热分析技术领航奖进入大众评审，诚邀您投票！

　　2026年度ANTOP奖申报正如火如荼进行中！由北京精微高博仪器有限公司申报的“国产热分析技术领航奖”进入大众评审阶段。在此诚邀业界各位老师，为北京精微高博仪器有限公司投上宝贵一票！您的每一票，都是对行业的鼓励，更是对行业未来的投票。

　　奖项名称：国产热分析技术领航奖

　　奖项主体：TGA系列热重分析仪

　　申报单位：北京精微高博仪器有限公司

　　申报理由

　　自主研发的悬挂式超微量天平，分辨率为0.1 μg，灵敏度高，稳定性好；

　　独特的微型炉体设计，可极大减小浮力效应，动态基线漂移≤25 ug，且无需浮力校正；

　　可灵活选择不同的温度控制范围：室温至1000°C/1200°C/1500°C；

　　采用水冷式炉体，其冷却系统可高效降温；

　　可与质谱仪(MS)或傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)联用，用于实时的逸出气体分析(EGA)。

　　投票通道

　　欢迎广大行业老师们为北京精微高博仪器有限公司投上一票！

　　产品介绍

　　TGA系列热重分析仪配备了自主研发的高灵敏度微量天平和微型加热炉，相较于传统热重分析技术，既能够提供高精度的重量测试，又可以显著减少浮力效应，表现出优秀的温度响应能力。

　　TGA系列仪器凭借卓越的性能和可靠性，被广泛应用于塑料、橡胶、胶粘剂、纤维、制药、环境能源、石油化工和食品科学等不同行业领域，满足客户对包括材料分解温度、质量损失百分比、各组分含量和残余质量等参数的表征分析需求。

　　产品概览

　　自动气体切换控制

　　通过多路进气装置可以实现实验过程中的自动气体切换功能。该装置采用集成化设计，将四个或六个气路整合至一个模块中，以满足在不同测试过程中频繁切换气体的要求。该设备具有广泛的兼容性，既适用于ISI全系列仪器，也可以联合其他品牌的各种仪器使用。

　　逸出气体分析

　　TGA可以与其他分析仪器联用，实现逸出气体的实时监测与定性分析。如质谱仪（MS）或傅里叶变换红外光谱仪 （FTIR）等。精微高博提供的高性能质谱仪可与TGA进行联用，实现更加精确的气体分析功能。

　　自动炉体升降功能

　　该仪器配备了自动升降炉体系统，简化了实验操作，同时避免因人为操作不当而引发设备损坏或安全事故。

　　宽广的温度范围

　　ISI提供的了多种炉体选择，以适应不同材料对测试温度的特定需求，最高温度可达1500℃，满足各种实验和工业应用的高标准要求。

　　水冷降温

　　利用循环水浴装置实现炉体水冷降温，能够有效地快速降低炉体温度，显著缩短实验时间。SY系列全自动循环水浴装置支 持-10℃至90℃的温控范围，采用无氟制冷系统，并配有7英寸一体化触摸屏，可自动识别温差并提供断电保护功能。

　　高灵敏度天平

　　自主研发的TGA微量天平具备卓越的灵敏度和称量精度，分辨率可达到0.1 μg，可以实现对微量样品的高精度称量。

　　低漂移技术

　　微量天平通过低漂移设计，极大限度地减少了环境因素对测量结果的影响，确保了称量过程中的数据高度稳定。

　　隔热天平设计

　　天平采用隔热设计，能够有效隔离外界温度波动对称量的干扰。在高温或快速温度变化的实验条件下，确保天平内部温度的稳定性，防止外部热源影响称量结果，从而提供更为精确的热重数据。

　　微型加热炉

　　微型加热炉能够显著减少气体的浮力效应。这使得TGA在无需做任何额外的空白试验下产生的动态曲线漂移小于25μg。此外，微型炉体设计能够快速响应温度变化，最高可达300℃/min，显著缩短了实验时间，提升工作效率。

　　精准的温度控制

　　采用先进的环绕型加热技术和独特的双PID控制系统，确保样品在加热或冷却过程中精准遵循设定的温度曲线。温度控制精度达到±0.1℃，极大地减少了温度波动对实验结果的影响。

　　关于ANTOP奖项：

　　我国分析测试行业发展迅猛，从落后到跻身世界前列发展势头强劲，据日媒报道，在科学领域的论文的影响力上，中国已经首次超越美国，位列世界第一。这是无数的科研工作者不懈努力的成果，凝聚了无数从业人员的智慧和汗水，闪现出大量新颖精湛的技术和工具。

　　铭记是历史前行的动力！分析测试百科网特别设立“ANTOP”，用以记录最被行业人士认同、对行业产生卓越贡献或独特影响的人/物/事。

　　我们希望促进行业发展的每一个“标识”，都能被发现，都应被记载！

　　ANTOP三大特色：

　　1、打破条框：奖项名称自主设置，人/物/事类型不限，更能彰显申报者独一无二的特色和优势；

　　2、打破暗箱：360°+交互式展示参选内容，让申报者更充分表现，接受更公开审视；

　　3、打破权威：专业评审+行业网友联合评选，既保证专业公正，又调动行业参与。

　　申报条件：

　　无论是开创一个新的品类、研究出新的分析方法、最优质的产品性能、最好的用户口碑……我们希望记录分析测试行业前进的每一步!

　　申报正在开放中，我们希望寻找并记录下这样的您：

　　您可以是单位申报、也可以个人申报，只要在分析测试行业取得的各类可证明的突出成绩，并满足以下几点，就可申报本奖项哦：

　　1、申报者须为分析测试百科网注册会员；

　　2、参选内容有利于推动分析测试行业的正向发展；

　　3、参选内容必须有现实可查的证明材料；

　　4、所申报奖项的内容可以量化；

　　ANTOP频道全新升级，更大的平台，记录更好的你！

　　申报流程

ANTOP申报评审流程

　　注：奖项权利人为个人，所申报的应用类奖项不收取任何费用

　　申报须知：

　　2026年度ANTOP奖项申报开放自1月1日开始，全年接受申报；

　　2026年度ANTOP奖预计5月份进行第一次颁奖，请抓紧时间申报；

　　2026年度ANTOP奖预计11月份进行本年度最后一次颁奖；

　　2026年10月20日后申报的奖项将会延后至2027年颁发，并归为ANTOP2027范畴；

　　请进入“ANTOP频道页面”点击申报按钮 ，频道链接： （https://www.antpedia.com/antop/ ）

　　ANTOP奖仅限分析测试百科网会员单位申报，请在登录状态下申报。

　　咨询联系：刘会兰

　　邮箱：huilan_liu@antpedia.net

　　电话：010-85777622