薄膜厚度测量仪和纸张测厚仪型号

一、测厚仪概述

测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

二、测试应用

三、产品技术特点

• 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

• 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

• 厚度测量仪支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择

• 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定

• 实时显示测量结果的zui大值、zui小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断

• 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性

• 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果

• 系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看

• 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输

• 支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告 

四、执行标准

ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

五、技术指标