薄膜测厚仪的技术特征和测量原理

薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

技术特征

严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择

系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定

实时显示测量结果的大/小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断

配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性

系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果

系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看

标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输

支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告  

测量原理

使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。

非接触式薄膜测厚仪的出现，大大提高了纸张等片材厚度测量的精度，尤其是在自动化生产线上，得到广泛应用。