发布时间:2020-05-04 17:26 原文链接: 超声波测厚示值失真原因分析

HCH-2000C测厚仪产品概述

HCH-2000C型超声波测厚仪测量范围:0.8-199.9mm,显示精度:0.1mm,本内部电路采用数字电子技术与微电脑技术,外部采用金属机壳制造而成,仪器体积小、功耗低、功能强、抗摔打、抗振动、触摸按键操作更直观,是您在实际应用中的仪器。使用本仪器可以方便无损地检测锅炉、压力容器、管道、金属工件、玻璃、塑料、有机玻璃等的厚度。

 

二、HCH-2000C测厚仪产品性能

1、测量范围:0.8-199.9mm(45#钢)

2、显示精度:0.1mm

3、测量误差:1%×厚度值+/-0.1mm

4、测量方式:手动存储测量

5、存储容量:600个测量点

6、探头频率:5MHz

7、声速范围:1000--9990M/S

8、电源范围:1.2--1.5V碱性电池或充电电池

9、外型尺寸:50mm*124mm*24mm

10、藕合指示:被测件与探头藕合良好时 

11、使用环境:温度-10°C ~ 60°C       相对湿度小于90%

12、自动断电:本仪器待机五分钟将自动关机

 

 

 

 

HCH-2000C型超声波测厚仪配置单

 

 

   1、HCH-2000C主机                     1台

   2、探头 (  φ8 )                               1支

   3、耦合剂                                      1瓶

   4、七号电池                                  2节

   5、使用说明书                              1份

   6、保修卡、合格证                       1份

   7、手提箱                                       1只

选配件:

  高温、铸铁、小管径探头

超声波测厚示值失真原因分析:

超声波测厚在实际应用中,尤其是在役设备的监测中,如果出现示值失真,偏离实际厚度的现象,结果造成管线(设备)隐患存在,就是依据错误的数据更换了管件,造成大量材料浪费。根据我公司几年来超声波测厚的跟踪使用情况,将示值失真现象及原因分析如下:

1、无示值显示或示值闪烁不稳定原因分析:这种现象在现场设备和管道检测中时常出现,经过大量现象和数据分析,归纳原因如下:

   (1)工件表面粗糙度过大,造成探头与接触面耦合效果差,反射回波低,甚至无法接收到回波信号。在役设备、管道大部分是表面锈蚀,耦合效果极差。

   (2)工件曲率半径太小,尤其是小径管测厚时,因常用探头表面为平面,与曲面接触为点接触或线接触,声强透射率低(耦合不好)。

   (3)检测面与底面不平行,声波遇到底面产生散射,探头无法接受到底波信号。

   (4)铸件、奥氏体钢因组织不均匀或晶粒粗大,超声波在其中穿过时产生严重的散射衰减,被散射的超声波沿着复杂的路径传播,有可能使回波湮没,造成不显示。

   (5)探头接触面有一定磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂,长期使用会使其表面粗糙度增加,导致灵敏度下降,从而造成不显示或闪烁。

   (6)被测物背面有大量腐蚀坑。由于被测物另一面有锈斑、腐蚀凹坑,造成声波衰减,导致读数无规则变化,在极端情况下甚至无读数。

 


相关文章

日立分析发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪

2018年6月19日,英国牛津:日立分析仪器公司(日立分析仪器),是日立高新技术公司(TSE:8036)旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日,日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪......

德国EPKMinitest720FN1.5涂层测厚仪

-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性 -测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用 -FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基......

韩国_XRF2000L_荧光金属镀层测厚仪

产品介绍 XRF-2000L荧光金属镀层测厚仪产品描述: 应用 :测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92&nb......

X射线珠层测厚仪校准规范通过审定填补国内空白

根据广西质量技术评价认证中心关于召开《X射线珠层测厚仪》广西地方校准规范审定会的通知要求,广西质量技术评价认证中心于6月22日在南宁组织有关专家对由国家珍珠及珍珠制品质量监督检验中心和广西计量检测研究......

横河电机发布WEBFREXNV在线测厚仪

横河电机集团宣布最新研发出了WEBFREXNV在线测厚仪,该仪表用于测量并控制薄膜、薄板的厚度,从而确保其厚度一致。WEBFREXNV具有操作和监视功能得到改善的操作站。该新产品预计将于6月30日发布......

牛津仪器推出新款X射线荧光镀层测厚仪XStrata920

牛津仪器推出最新款快速可靠的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪X-Strata920,其稳定性和可靠性大大提升,加上圆滑的新设计,使其成为性价比极高的分析工具。稳定性和可靠性提升性能增强符合安全标准圆滑的......

GE检测控制技术推出高性能新型测厚仪

近日,GE检测控制技术推出的新型测厚仪DMSGo是一款高端测厚仪,既简单易用,又能在一系列可选择的格式下提供准确、全面的厚度检测数据。它具有创新的操纵杆控制技术、全方面的可见性、高分辨率的色彩显示功能......