镀层测厚仪应用领域:
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
镀层测厚仪性能特点:
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
可以满足微小测试点的需求,zui小可达0.2mm
高精度移动平台可定位测试点.
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
镀层测厚仪技术指标:
型号:EXF-10B
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析检出限可达2ppm,zui薄可测试0.005μm。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
工作温度:15℃至30℃ 湿度:≤80%
电源: 交流220V±5V
外型尺寸:670mm×470mm×370mm
测量仓:520mm×370mm×105mm
重量:70kg
2018年6月19日,英国牛津:日立分析仪器公司(日立分析仪器),是日立高新技术公司(TSE:8036)旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日,日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪......
-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性 -测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用 -FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基......
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