XOS 将HDXRF技术应用于玩具和消费品中的管制元素的快速检测高清 X 射线荧光 (HDXRF) 是新一代管制元素检测技术,可帮助制造商和监管机构解决这一重要的公共健康问题。HDXRF 将快速检测和精确度的优势进行了前所未有的结合。
HDXRF 的优点
快速得出结果
更快的测量速度使其能够检查更多的玩具;比传统分析技术快 100 多倍。
准确度
HDXRF 具有极低的检测限值,可提供真正可靠的结果,从而显著减少测试结果误报的几率。
小光斑
查看光斑直径为 1 mm 的微区,而不会降低速度或数据质量。
使用方便
HDXRF 分析仪具有非常大的样品室,基本无需样品制备,并且几乎可以测量任何类型的产品。
无损
测试后,产品可以返回生产线、货架或消费者处。
多用途
HDXRF 可以测试小至沙粒,大至校车的产品。
实验室外
这种多功能系统适用于从原产地到最终用户的制造设施、配送中心和零售点。
什么是 HDXRF?
HDXRF 是一种元素分析技术,它使用双曲面弯晶 (DCC) 光学晶体捕获来自发散源的 X 射线并将其重新引导至产品表面上形成强聚焦光束,以此来增强测量强度。下图显示了用于提供消费品含铅量测量的基本 HDXRF 配置。
HDXRF 使用 DCC 光学晶体测量消费品中的有毒金属。
HDXRF 的主要优点是单色激发消除了荧光峰下的 X 射线散射本底,大大提高了检测性能。这种新的分析方法使得各种材料中许多相关元素的检测限值可低至十亿分率 (ppb)。以下是对玩具中的铅含量进行一秒测量的情况对比。
用传统 XRF(左)和 HDXRF(右)对真实塑料玩具进行的测量。请注意,铅峰 (Pb) 在传统 XRF 中几乎看不到 但 HDXRF 消除了本底干扰,因此可立即测得铅含量。
上述内容来源于XOS官网
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