黑色硅与拉曼光谱“结合”，可超灵敏检无损检测毒害物质

　　分析测试百科网讯 来自远东联邦大学（FEFU）的科学家与来自俄罗斯科学院（RAS），澳大利亚和立陶宛大学的科学家合作，改进了超灵敏非分光光谱鉴定分子指纹技术。

　　一组物理学家通过实验证实，通过使用黑色硅（b-Si）基底的表面增强拉曼光谱（SERS）能够非常可靠地检测到并识别有毒物质，爆炸物，污染物以及其他危险物质的分子指纹图谱。这项工作的结果发表在权威科学杂志Nanoscale上。

黑色硅针状表面结构，其中针由单晶硅制成

　　研究小组负责人Alexander Kuchmizhak博士表示：“使用SERS光谱检测最小的分子时，它们与纳米结构底物的相互作用是至关重要的，该平台允许超灵敏的鉴定”。 亚历山大是FEFU自然科学学院理论与核物理系的研究员。 他还补充说：“贵金属基材料具有的化学活性扭曲了自身特征分子信号。”

　　“由于硅的特殊形态，黑色硅显着增强了所需分子的信号，但这种纳米材料不支持催化转化物的分析，因为这种材料可能在被分析额金属基底中，基于化学物质的“黑色硅”底物是独一无二的：绝对的化学惰性，无创性，可以支持强大的非失真信号”Alexander Kuchmizhak表示。

　　通过使用易于实现的可扩展的等离子蚀刻技术可以制造这种基板，因此这种基本具有良好的商业应用前景。具有高检测准确度的、价格便宜的非金属基材对于常规SERS应用是有希望的，其中非侵入性对检测过程非常重要。

　　通过国家之间广泛的科学合作，最终发现了黑色硅的宝贵性质。