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如何提高扫频精度?如何扫频方法选择?

为了提高扫频精度,首先要确保自适应求解收敛,然后,可以根据需求和不同扫频方法的特点选择扫频方法,以便得到精确的扫频结果。快速扫频(fast sweep)和插值扫频(interpolating sweep)对扫频的点数不敏感,适应于相对带宽较宽的扫频或多个频点扫频,能够显著缩短仿真时间,求解频率设定为扫频带宽的中心频率偏高(对于相对带宽较宽的插值扫频可适当调高求解频率,以使高频段取得较好的收敛);快速扫频可以将“Save Fields”选中,得到各个扫频点的场分布和辐射特性,而插值扫频仅能获得结构的矩阵参数。离散扫频是利用自适应求解后的网格剖分重新求解电磁场,其仿真时间与扫频点数成正比,一般适应于扫描频点数较少(小于10),或者需要得到不同频点的辐射特性时。......阅读全文

电力变压器绕组变形测试仪使用方法

变压器绕组变形测试仪(频响法)用于测试6KV及以上电压等级电力变压器及其它特殊用途的变压器,电力变压器在运行或者运输过程中不可避免地要遭受各种故障短路电流的冲击或者物理撞击,在短路电流产生的强大电动力作用下,变压器绕组可能失去稳定性,导致局部扭曲、鼓包或移位等变形现象,这样将严重影响变压器的安全运行

电力变压器绕组变形测试仪性能特点

电力变压器绕组变形测试仪性能特点变压器绕组变形测试仪(频响法)用于测试6KV及以上电压等级电力变压器及其它特殊用途的变压器,电力变压器在运行或者运输过程中不可避免地要遭受各种故障短路电流的冲击或者物理撞击,在短路电流产生的强大电动力作用下,变压器绕组可能失去稳定性,导致局部扭曲、鼓包或移位等变形现象

各种计算电磁学方法比较

微波EDA 仿真软件与电磁场的数值算法密切相关,在介绍微波EDA 软件之前先简要的介绍一下微波电磁场理论的数值算法。所有的数值算法都是建立在Maxwell方程组之上的,了解Maxwell方程是学习电磁场数值算法的基础。计算电磁学中有众多不同的演法,如时域有限差分法(FDTD)、时域有限积分法(FIT

2449.8万!这所高校发布采购建设分析测试中心平台

  分析测试百科网讯 近日,海南省教学仪器设备招标中心受招标人海南大学委托,采购场发射透射电子显微镜、基质辅助激光解析电离串联飞行时间质谱仪、纳米喷雾干燥仪、石英晶体微天平、多功能样品前处理平台、热重-红外图像-气质联用原位反应系统、显微傅里叶变换红外光谱仪+光声光谱检测器、差示扫描量热

网络分析仪的原理及应用(二)

网络分析仪结构  网络分析仪可以分为标量(只包含幅度信息)和矢量(包含幅度和相位信息)两种分析仪。标量分析仪曾一度因其结构简单,成本低廉而广泛使用。矢量分析仪可以提供更好的误差校正和更复杂的测量能力。随着技术的进步,集成度和计算效率的提高,成本的降低,矢量网络分析仪的使用越来越普及。  网络分析仪有

海底输电工程地质勘察中的声波探测技术

  我国拥有300多万平方公里的海域和18000公里的海岸线,沿海分布有6000多个岛屿。随着发展需求增长,我国对海洋资源的开发利用越来越重视。国防建设、海岛开发、海上风电场、海洋油气资源等的开发利用均需要电力的支撑,从而需要开展海底输电工程建设。  从1951年日本明石海峡敷设了世界上第一条22k

科技部发布《“十三五”医疗器械科技创新专项规划》

  分析测试百科网讯 近日,根据《中华人民共和国国民经济和社会发展第十三个五年规划纲要》、《“十三五”国家科技创新规划》、《“健康中国2030”规划纲要》等总体部署,为加速推进医疗器械科技产业发展,科技部特制定《“十三五”医疗器械科技创新专项规划》。以下为规划原文:  “十三五”医疗器械科技创新专项

“零距离”体验安捷伦移动实验室

  【导语】2011年8月23日,笔者在位于北京望京的安捷伦科技总部和安捷伦移动实验室进行了一次亲密接触,不得不感慨安捷伦领先科技在服务民生做出的努力,不断的技术更新过程中,安捷伦总是把仪器开发与专业用户的需求紧密联系,不断尝试,这一次安捷伦呈现的小

张韫宏:光谱探秘大气气溶胶物理化学过程

  分析测试百科网讯 光谱技术已迈过百年历史长河,中国的光谱分析技术亦可追溯到上世纪50年代,今日中国的光谱技术已从国际上“跟跑”跃升到部分领域领跑的地位。在这背后,光谱研究领域的老中青三代科学家,克服了严峻的挑战、付出了辛勤的汗水。伴随着将在成都召开的第21届全国分子光谱学学术会议暨2020年光谱

扫描电镜SEM针对半导体行业的应用

半导体工业由于半导体器件体积小、重量轻、寿命长、功率损耗小、机械性能好. 因而适用的范闸极广。然而半导体器件的性能和稳定性在很大程度上受它表面的微观状态的影响。一般在半导体器件试制和生产过程巾包括了切割、研磨、抛光以及各种化学试剂处理等一系列工厅, ~正是在这些过程巾,会造成表面的结构发生惊人的变化

扫描电镜在半导体行业的应用分析

1.质量监控与工艺诊断硅片表面站污常常是影响微电子器件生产质量的严重问题。扫描电镜可以检查和鉴定站污的种类、来源,以清除站污,如果配备 X 射线能谱仪,在观察形态的同时,可以分析 这些站污物的主要元素成分。用扫描电镜还可以检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜 也能显示其异质的结构。在器件加工中,扫描电镜

关于《国家先进污染防治技术目录》的公示

  为贯彻《中华人民共和国环境保护法》,落实党中央、国务院对有关工作的要求,按照工作计划,我部征集和筛选了一批固体废物处理处置领域和环境噪声和振动控制领域的先进技术,编写形成《国家先进污染防治技术目录(固体废物处理处置领域)》(公示稿)和《国家先进污染防治技术目录(环境噪声和振动控制领域)》(公示稿