EDXLE能量色散型X射线荧光分析装置

　　EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，zei近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。

　　主要特点：

　　利用“筛选分析”画面，操作简单方便

　　从主成分判定到条件选择全部实现自动处理

　　标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能

　　拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品

　　配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到zei小程度

　　配备保护功能，限制条件或数据的变更

　　配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

　　主要规格

　　测定对象：固体、液体、粉状

　　测定范围：13^AL~90^U

　　样品室尺寸：zei大370(W)×320(D)×约155(H)mm

　　X射线发生部

　　X射线管：Rh靶

　　电压：5~50kV

　　电流：1~1000μA

　　冷却方式：风冷(附风扇)

　　照射面积：3、5、10mm(直径)四种切换

　　一次滤光片：5种(含OPEN6种)自动切换

　　检测器

　　检测器类型：Si-PIN半导体检测器

　　数据处理部

　　内存：512M以上

　　HDD：40GB

　　分辨率：1024*768以上

　　OS：windowsVISTA

　　环境设置

　　温度条件：10~30℃(温度变化在2℃以内)

　　湿度条件：40~70%(不结露)