2016北京市电子显微学年会召开探讨电镜技术应用新进展

发布时间：2016-12-21 04:09 原文链接： 2016北京市电子显微学年会召开探讨电镜技术应用新进展

　　分析测试百科网讯 2016年12月20日，2016年度北京市电子显微学年会在北京天文馆召开，会议旨在推动北京及周边省市广大电子显微学学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。来自电子显微学领域相关单位的200余人参加了此次会议。

2016年度北京市电子显微学年会现场

　　北京理化分析测试技术学会桂三刚为会议致辞。

北京理化分析测试技术学会桂三刚

　　本次电子显微学年会有中国科学院物理研究所白雪东、北京市神经外科研究所孙异临、北京大学高鹏、国家纳米科学中心彭开武、河南化工技师学院管铮、中国科学院生物物理研究所章新政、北京科技大学王涵等专家带来的关于电镜领域研究进展的报告，并有 GATAN、卡尔蔡司、日本电子、天美（中国）、FEI、徕卡公司、布鲁克、 TESCAN公司、镇江乐华、飞纳中国等带来最新仪器设备介绍及相关应用技术进展。

　　电子显微学研究进展及应用

中国科学院物理研究所白雪东

　　中国科学院物理研究所白雪东带来的报告题目是《原位透射电镜技术与科研进展》。近年来，原位透射电镜技术发展迅速，可用于原子尺度物理/化学观测表征、低维纳米结构光电性质及其外场调控等科研工作中。白雪东在报告中介绍了基于Ag电极电阻存储器（RRAM）机理研究、Ag⁺纳米颗粒电迁移过程与导电通道的形成、氧空位序的产生、迁移与修复动力学过程等内容。

北京市神经外科研究所孙异临

　　北京市神经外科研究所孙异临的报告题目是《生物医学电镜样品制备中容易出现的问题及对策》。调细节决定成败，电镜技术工作中的每一个细节都决定了实验结果的成败，包括标本制样技术和电镜的调试和使用。生物电镜样品制备中容易出现的问题有标本固定不及时或固定不彻底、铅/铀染色液污染、超薄切片出现刀痕/颤痕、切片被其他物质污染、人为假象等，孙异临在报告中对假象出现的原因以及应对措施进行了详细介绍。

北京大学高鹏

　　北京大学高鹏的报告题目是《铁电薄膜材料中的铁电、铁弹畴翻转》。

国家纳米科学中心彭开武

　　国家纳米科学中心彭开武带来了题为《扫描电镜在纳米材料领域的应用》的报告。报告中对纳米中心扫描电镜概况、纳米材料的SEM表征的理想工作条件和合理的图像解释进行了介绍。纳米材料尺寸小、轻元素/生物材料、导电性差，纳米材料表现出微米/块体材料不同的特点。纳米材料的SEM表征常采用低电压模式，且还需要有高分辨能力。针对表征目的，选取理想的工作条件及合理的图像解释。

河南化工技师学院管铮

　　河南化工技师学院管铮与大家分享了题为《电子显微镜技术专业最新教学进展》的报告，报告中介绍了河南化工技师学院及学院电子显微镜技术专业的情况，包括专业培养体系、教师实训环节、毕业生工作情况、专业未来展望等内容。

中国科学院生物物理研究所章新政

　　中国科学院生物物理研究所章新政的报告题目是《冷冻电镜简介以及光合作用捕光复合物PSⅡ-LHCH的单颗粒高分辨结构分析》，报告中对冷冻电镜三维重构原理和过程进行简介，重点介绍了PSⅡ-LHCH的单颗粒高分辨结构分析。

北京科技大学王涵

　　北京科技大学王涵的报告题目是《纳米多孔镁3D结构的微观表征技术研究》，三维表征方法有X射线成像、TEM TOMO、3D-FIB等，报告从微观三维结构表征的意义、技术种类、比较以及在纳米多孔镁上的应用等方面进行了介绍。

　　电子显微学技术进展及应用

GATAN公司雷运涛

　　GATAN公司雷运涛的报告题目是《高速衍射成像及其应用》。报告从衍射成像数据的表征、高速衍射成像的方法与系统构成、高速衍射成像好处、以及应用实例进行了介绍。相机的速度已经不再是4D STEM的限制因素，Gatan OneView IS和K2 IS这些高速相机，使高速衍射成像轻松成为现实，从而在更短的时间内采集更多的衍射花样（数据），这意味着更好的统计性、更高的精度、更小的试样损伤、更少的污染和飘移。

卡尔蔡司公司任祺君

　　卡尔蔡司公司任祺君的报告题目是《ZEISS多尺度、多功能研究解决方案及在材料科学研究中的应用》，报告中对ZEISS多尺度、多功能显微镜系统进行简介，并介绍了SEM-AFM多尺度、多功能测量系统在石墨烯研究中的应用，从石墨烯制备方法的表征，到力学性质、层数与质量的表征，SEM-AFM显微镜系统、SEM-Raman显微镜系统、Crossbeam-HIM关联显微镜系统在其中均有应用。

捷欧路（北京）科贸有限公司韩广达

　　捷欧路（北京）科贸有限公司韩广达的报告题目是《日本电子新型多功能场发射透射电镜JEM-F2000简介》，JEM-F2000具有多功能和智能化的特点。多功能：超高能量分辨率的冷场枪0.3Ev，独有背散射/二次电子探头、超大固体角的双能谱探测器1.7sr，23小时保温的液氮冷阱，多重TEM图像观察方式；智能化：瞬间实现TEM/STEM切换，自动调节聚焦、Z高度、象散、对比度，一键自动更换样品杆，智能地随放大倍数调节样品台步长。

天美（中国）科学仪器有限公司王勐

　　天美（中国）科学仪器有限公司王勐的报告题目是《日立表面科学技术最新应用方案》，报告中介绍了HF5000、FlexSEM 1000、AFM 5500M的特点及主要指标等。HF5000的设计理念是高精度、高稳定、功能丰富齐全、自动化、人性化；FlexSEM 1000的特点是设计紧凑、自动化程度高、操作界面简洁、低电压高分辨观察；日立原子力显微镜AFM 5500M具有自动化、可靠性、共通性的特点。

FEI公司韩伟

　　FEI公司韩伟的报告题目是《利用Xe等离子双束完成大尺寸加工、三维表征和分析》。

徕卡公司吴长江

　　徕卡公司吴长江介绍了《徕卡电镜制样技术最新进展》。在电镜应用中,要想获得真实的图片,制样技术至关重要。制样技术有生物或固体材料样品的超薄切片，生物或胶体化学的断裂复型，生物样品的临界点干燥，固体材料样品的离子切割抛光，环境敏感型固体材料样品的离子切割抛光等，而透射电子显微镜制样技术可以超薄切片、投入冷冻、断裂复型、离子减薄，扫描电子显微镜制样技术可以进行超薄切片、临界点干燥、冷冻断裂、离子切割/抛光。吴长江在报告中对超薄切片技术及其在材料科学学领域的应用实例进行了介绍。

布鲁克纳米分析部王慧敏

　　布鲁克纳米分析部王慧敏的报告题目是《超高空间分辨率(<10nm)的能谱分析及痕量元素(<10ppm)的检测技术》。显微成分分析的两大难题是提高EDS空间分辨率和提高显微分析成分检测限，王慧敏介绍布鲁克XFlash FlatQUAD平插式能谱仪EDS空间分辨率提高至6nm，Micro-XRF将SEM中成分检测限提高至7ppm。

TESCAN公司顾群

　　TESCAN公司顾群的介绍了《TESCAN电镜技术新进展与应用》，介绍了Triglav UHR COLUMN及其应用，如纳米材料、立体成像等，并介绍了拉曼光谱扫描电镜一体化RISE、TOF-SIMS等。

镇江乐华电子科技有限公司秦姗

　　镇江乐华电子科技有限公司秦姗介绍了《连续超薄切片自动收集器最新技术》，报告从仪器的结构、组成、工作流程、应用实例等方面进行了介绍一种自动化带式收集连续超薄切片扫描电镜成像技术，该技术可以用于绘制脑连接图谱、构建线虫三维结构数据库、捕捉细胞内、组织内发生的小概率事件等，并且自动化收集收集，收集质量高，不丢失，次序不混乱，仪器稳定性能好，与徕卡切片机稳定结合。