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扫描隧道显微镜（STM）发明于二十世纪八十年代初，这一强大的工具赋予人们研究和操控微观体系的能力。传统的单探针STM可以用来研究样品的形貌和材料局域的电子结构等性质，然而其无法测量低维体系的横向电输运特性。为了将输运测试能力与极高空间分辨率相结合，人们陆续开发了双探针、三探针甚至四探针等多探针STM系统。其中，四探针STM同时兼容标准的四端输运测试方式，可以更准确对样品输运性质进行原位表征。 国际上第一代商业化超高真空（UHV）四探针STM系统是由知名的科研仪器生产商德国Omicron公司所生产。作为世界上最早的商用化多探针系统（型号： UHV Nanoprobe），其在实际应用中无法有效地对纳米体系原位形貌与输运研究，如：通常条件下无法获得原子级分辨图像，亦不能形成稳定的点电极接触。上述不足是由该系统的设计缺陷所致：首先，系统的机械振动隔绝设计相对简单，成像时存在严重噪音。其次，降温时仅有样品被冷......阅读全文
在科研中常见的几种科研型显微镜主要有扫描探针显微镜，扫描隧道显微镜和原子力显微镜几种，下面对这几种显微镜逐一做以介绍：扫描探针显微镜 扫描探针显微镜（ScanningProbeMicroscop
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}一、磁力显微镜（MFM）磁力显微镜（ Magnetic Force Microscopy，MFM），也是运用一种受迫振动
以石墨烯为代表的二维原子晶体材料的准粒子（如激子、狄拉克费米子等）由于量子限域效应，显示出室温量子霍尔效应等新奇量子特性，也促进了相关新型电子、光电子器件的应用等相关研究。获得本征的电学输运特性、光电特性等物理性质乃至最终的器件应用的关键在于大面积、高质量样品的生长。近年来，中国科学院物理研究所
如今扫描隧道显微镜（STM）已经成为表面科学中一种极其重要的测量分析手段，用于对固体表面形貌的测量和费米面附近电子态的探测，但是它无法直接识别表面原子的种类。本文介绍了将扫描探针与电子能谱技术相结合以便在微区表面识别原子的预研究工作，包括两个相关实验：超快电压脉冲阈值实验和扫描探针俄歇谱仪（Scan