二次离子质谱的原理组成和结构
二次离子质谱Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:离子探针分析仪，即离子探针（Ion Probe Analyzer，IPA），又称二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用电子光学方法把惰性气体等初级离子加速并聚焦成细小的高能离子束轰击样品表面，使之激发和溅射二次离子，经过加速和质谱分析，分析区域可降低到1-2μm直径和5nm的深度，正是适合表面成分分析的功能，它是表面分析的典型手段之一。 应用离子照射样品产生二次离子的基础研究工作最初是R.H.斯隆（1938）和R.F.K.赫佐格（1949）等人进行的。1962 年R.卡斯塔因和G.斯洛赞在质谱法和离子显微技术基础上研制成了直接成像式离子质量分析器。1967 年H.利布尔在电子探针概念的基础上，用离子束代替电子束，以质谱仪代替X 射线分光计研制成扫描......阅读全文
SIMS介绍
当固体样品被几keV能量的一次离子溅射时，从靶发射出来的一部分颗粒被电离。二次离子质谱法是使用质谱仪分析这些二次离子。离子轰击下固体表面的二次离子发射提供了有关其最上面的原子层的元素、同位素和分子组成的信息。根据化学环境和溅射条件（离子、能量、角度），二次离子产生率会有很大的变化。这会增加该技术的量
SIMS是什么
次级离子质谱
二次离子质谱仪（SIMS）
二次离子质谱仪（SIMS）分析方法介绍美信检测 失效分析实验室 1.简介 二次离子质谱仪（secondary ion mass spectroscopy，简称SIMS），是利用质谱法分析初级 离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱仪分 析对象包括金属及合金、半导
2026年国际SIMS会议定于广州举行
10月14日，记者从香港科技大学（广州）获悉，中国广州已成功获得2026年国际SIMS会议的举办权。这将是国际SIMS会议首次由中国主办，大会将在香港科技大学（广州）举行。 据介绍，香港科技大学（广州）材料表征与制备中心主任、先进材料学域兼任教授翁禄涛是申办此次国际会议中国团队中的核心成员，他同
结合锡铋合金，SIMS有了新用途
水是地球演化的重要介质。名义上无水矿物中的水含量对岩石矿物的物理化学性质有深刻影响，是重要的地球化学指标，氧同位素对矿物本身以及水的来源也具有重要指示意义。这两个指标的同时测试，不仅能拓展仪器功能，使大型二次离子质谱（SIMS）仪器的使用效率提升一倍，还可避免因地质样品中广泛存在的不
结合锡铋合金，SIMS有了新用途
水是地球演化的重要介质。名义上无水矿物中的水含量对岩石矿物的物理化学性质有深刻影响，是重要的地球化学指标，氧同位素对矿物本身以及水的来源也具有重要指示意义。这两个指标的同时测试，不仅能拓展仪器功能，使大型二次离子质谱（SIMS）仪器的使用效率提升一倍，还可避免因地质样品中广泛存在的不均匀性而导致
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）介绍美信检测失效分析实验室 【摘要】飞行时间二次离子质谱仪（Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry， TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微 量的二次离子，根据二次
动态二次离子质谱分析（D-SIMS）
动态二次离子质谱分析（D-SIMS）1. 飞行时间二次离子质谱技术二次离子质谱技术（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry，D-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子的质量来测定元素种类，具有极
ToF-SIMS助力研究人员解开“塔利怪物”之谜
分析测试百科网讯 莱斯特大学的研究团队最近解开了一块3亿年前的化石“塔利怪物”之谜，利用独有的眼部表征技术，确定古老的“塔利怪物”为古代脊椎动物。 被俗称为“塔里怪物”的古老生物化石，是在北美洲的伊利诺伊州煤炭采石场被发现的， “塔利怪物”化石具有一个条纹状的身体，一条长长的尾巴，在其头部还具
SIMS(secondary ion mass spectroscopy)二次离子质谱图文
1.仪器介绍二次离子质谱（SIMS）是一种用于通过用聚焦的一次离子束溅射样品表面并收集和分析喷射的二次离子来分析固体表面和薄膜的组成的技术。SIMS是最灵敏的表面分析技术，元素检测限为百万分之几到十亿分之一。Schematic of a typical dynamic SIMS instrument