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STM 控制系统的功能框图如图 1 所示。STM控制系统通常包括数字部分和模拟部分，数字部分包括DAC 和ADC 功能，可以直接采用PC机扩展AD 和 DA 采集卡的方式。模拟部分通常实现为单独的模块，主要功能就是完成反馈控制。探针样品偏置电压的大小由操作者决定，通过PC机的DA 输出来提供。隧道电流的设定值也是由操作者来设定，通过DA输出给反馈控制系统。两路DA 输出（DAC-X 和DAC-Y）提供扫描器做光栅扫描的驱动信号。反馈控制系统包括隧道电流的前置放大器(位于STM扫描头中)，差分放大器，低通滤波器，放大器A4和A5，压电陶瓷驱动器。图 1 STM控制系统的功能框图 操作者首先选择合适的工作参数（隧道电流值和偏置电压），然后驱动马达进行探针样品的粗逼近。在这个阶段没有隧道电流，扫描器在z方向伸长到最大。当探针样品接近到可以产生可测量的隧道电流时，反馈控......阅读全文
随着生活水平的不断提高,人们对健康的关注越来越多,对疾病的重视也从病发治疗提升到了病前预防。在疾病预防方面,生化检验已经成为检测和预防人类疾病的重要手段和客观依据。全自动酶免分析仪是基于酶免分析系统设计出的一种高效便捷的检测设备,是大中型医疗机构进行临床诊断所必备的仪器。通过对病人的血液或尿液等体液
20世纪80年代初期，扫描隧道显微技术（Scanning Tunneling Microscopy，以下略称为STM）问世[1]。以后仅十余年，以STM为代表的扫描探针显微技术（Scanning Probe Microscopy, SPM）迅速发展，应用也已经拓展到了包括物理、化学、生物、材料等众多
厦门大学杭纬课题组在Science子刊《科学进展》发文研究纳米级激光质谱成像新方法。厦门大学杭化学化工学院教授 杭纬 分析测试百科网讯 2017年12月8日，厦门大学化学化工学院杭纬教授课题组在Science 子刊《科学进展》（Science Advances）发表文章，标题为《Tip-enh
X射线荧光分析方法因其具有对试样无损坏、多元素快速分析、准确性高、分析速度快、不污染环境等特点，适合直接用于生产的过程控制和检测中，具有广阔的市场前景和相当的研究意义。本文针对RoHS检测的需求，分析了X射线荧光分析技术的理论基础，明确了能量色散X射线荧光光谱仪的工作原理及相应光谱分析软件设计方法。
X射线荧光分析方法因其具有对试样无损坏、多元素快速分析、准确性高、分析速度快、不污染环境等特点，适合直接用于生产的过程控制和检测中，具有广阔的市场前景和相当的研究意义。本文针对RoHS检测的需求，分析了X射线荧光分析技术的理论基础，明确了能量色散X射线荧光光谱仪的工作原理及相应光谱分析软件设计方法。
数字扫描探针显微镜（scanning probe microscope，SPM）是研究纳米的重要工具，它利用探针和样品的不同互相作用来探测表面或界面在纳米尺度上表现出的物理性质和化学性质，它的问世对表面科学、物理学、微电子学、电子材料学、先进材料和纳米材料等
扫描隧道显微镜STM(scanning tunneling microscopy, STM) 于1982 年, 由IBM 瑞士苏黎世实验室的科学家Binning 等发明。STM的原理是利用针尖和样品之间的隧道电流对样品表面进行表征。所以理论上它只
教学目的1、掌握光电器件的基本原理2、了解各类光电器件的基本应用3、学习掌握实验系统的设计原理4、培养学生动脑、动手能力及创新意识5、了解并掌握线阵CCD驱动设计6、了解CPLD的应用开发技术三、实验内容 &
该文的工作、研究特色和创新之处主要包括:1.对隧道效应理论进行了深入探讨,并以金属—绝缘层—金属结为模型,讨论了隧道效应中的I-V关系以及针尖一样品间的隧道电流表达式. 2.设计完成开放环境下的扫描隧道显微镜探头,实现了对环境振动的隔绝和电噪声的屏蔽.在此基础上,设计并完成CCD显微监测系统,实现了
纳米技术是近年来快速发展的前沿学科领域之一。纳米技术正在不断应用到现代科学技术的各个领域,形成了许多与其相关的新兴学科。扫描隧道显微镜(STM)与原子力显微镜(AFM)等是纳米技术发展的重要基础,也是纳米科技工作者必不可少的研究工具,而且尤以原子力显微镜的需求更大,应用领域更为广泛。本文提出基于AR
扫描探针显微镜（SPM）结构1、探针：STM金属探针，AFM微悬臂、光电二极臂。2、机械控制系统：压电扫描器、粗调定位装置、振动隔离系统。3、电子学控制系统：电子学线路、接口，控制软件。扫描探针显微镜（SPM）特点1、局域探针：探测样品的局域特性、表面形貌、电子结构、电场、磁场等其他局域特性、2、高
1、探针：STM金属探针，AFM微悬臂、光电二极臂2、机械控制系统：压电扫描器、粗调定位装置、振动隔离系统3、电子学控制系统：电子学线路、接口，控制软件
【导语】仪器仪表是工业生产的“倍增器”，科学研究的“先行官”，军事上的“战斗力“，以及现代社会活动的“物化法官”。不言而喻，仪器仪表与测量控制在当今信息时代推动科学技术和国民经济的发展具有何等重要的地位。 众所周知，当今世界已经进入信息时代，信息技术成为推动科学技术高速发展
目前，已经成功研制出的扫描电镜包括：典型的扫描电镜、扫描透射电镜（STEM）､场发射扫描电镜（FESEM）、冷冻扫描电镜（Cryo-SEM），低压扫描电镜( LVSEM)、环境扫描电镜( ESEM）、扫描隧道显微镜（STM )、扫描探针显微镜( SPM )，原子力显微镜（AFM）等，以下介绍几种
目前，已经成功研制出的扫描电镜包括了：典型的扫描电镜、扫描透射电镜（STEM）､场发射扫描电镜（FESEM）、冷冻扫描电镜（Cryo-SEM），低压扫描电镜( LVSEM)、环境扫描电镜( ESEM）、扫描隧道显微镜（STM )、扫描探针显微镜( SPM )，原子力显微镜（AFM）等，以下介绍几
由于STM侷限于试片的导电性质，使得应用范围大大的减少，为了能有更广泛的应用科用，故改用力场作回馈而发展出原子显微仪（atomic force microscope, AFM），而因为对导体及绝缘体均有三维空间的显影能力，所以成为运用最广泛的扫描探针显微仪。图4-1为原子力显微镜的简单示意图。 图4
AFM 是在STM 基础上发展起来的，是通过测量样品表面分子(原子)与AFM 微悬臂探针之间的相互作用力，来观测样品表面的形貌。AFM 与STM 的主要区别是以1 个一端固定而另一端装在弹性微悬臂上的尖锐针尖代替隧道探针，以探测微悬臂受力产
原子力显微镜原理概述AFM 是在STM 基础上发展起来的，是通过测量样品表面分子(原子)与AFM 微悬臂探针之间的相互作用力，来观测样品表面的形貌。AFM 与STM 的主要区别是以1 个一端固定而另一端装在弹性微悬臂上的尖锐针尖代替隧道探针，以探测微悬臂受力产生的微小形变代替探测微小的隧道电流。其工
扫描隧道显微镜具有很高的分辨率，可以观察、测量物体表面单个原子和分子的排列状态以及电子在表面的行为。可以用这么一个比喻来形容扫描隧道显微镜的分辨本领，用扫描隧道显微镜可以把一个原子放大到一个网球大小的尺寸，这相当于把一个网球放大到地球那么大。 教
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'} 以扫描隧道显微镜(STM)与原子力显微镜(AFM)为代表的扫描探
Table Stable主动隔振技术:-主动和被动两种隔离机制同时工作，产生最优隔振效果-最先进的压电陶瓷技术，高效探测传入的振动并主动地消除振动-无低频共振-在空间6个自由度都有优秀的宽频谱衰减能力-高刚性设计技术方案： AVI系列 TS系列
金属拉力试验机应用于各类五金、金属、橡塑料、鞋业、皮革、服装、纺织、绝缘体、电线电缆、端子等各类材料，测试其拉伸、撕裂、剥离、抗压、弯曲抗剪力、三点抗折……等各项物性测试性能。下面海达小编总结下试验机在金属行业需要用到的标准：1、GB2280—87(金属拉伸-旧)2、GB228-2000(金属拉伸-
扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope，缩写为STM)，亦称为扫描穿隧式显微镜，是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器。它于1981年由格尔德·宾宁及海因里希·罗雷尔在IBM位于瑞士苏黎世的苏黎世实验室发明，
分析测试百科网讯 2019年12月17日，2019年度北京市电子显微学年会隆重举行。本次会议旨在推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。会议共有200余人出席、参与。分析测试百科网作为支持媒体为您带来全程跟踪报道。年会签
电子显微镜 电子显微镜是根据电子光学原理，用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜，使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。 电子显微镜的分辨能力以它所能分辨的相邻两点的最小间距来表示。20世纪70年代，透射式电子显微镜的分辨率约为0.3纳米(人眼的分辨本领约为0.1毫米)。现在电子显微
Table Stable主动隔振技术:-主动和被动两种隔离机制同时工作，产生最优隔振效果-最先进的压电陶瓷技术，高效探测传入的振动并主动地消除振动-无低频共振-在空间6个自由度都有优秀的宽频谱衰减能力-高刚性设计技术方案： AVI系列 TS系列