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水体样品化学富集薄试样X射线荧光光谱现场分析

本工作的主要内容是研究适合便携式x射线荧光光谱分析环境水体中重金属元素的富集和制样技术。建立EDXRF现场分析方法,以期达到两个目标:(1)扩充车载EDXRF实验室的现场样品分析范围,实现资源环境调查综合支撑能力;(2)使手持式XRF分析仪能够应用于水体重金属元素分析,为支撑环境水体样品调查和监测提供现场快速分析技术手段。水质污染是我国面临的主要环境问题之一。目前分析重金属污染水体通常是在实验室内使用传统的测试技术。研发高效低耗、利于推广的便携式环境水质检测技术,以减少样品采集及测试过程中的人力物力财力消耗,是当前面临的紧迫需求。便携式x射线荧光光谱仪(小型台式XRF、手持式XRF)结构紧凑、功能牢靠、环境友好,具有多元素同时分析能力,重现性好,适合野外现场使用。但直接使用XRF分析液体样品会产生较高的x射线散射本底,导致较高的检出限(1~10mg/L),无法检测环境及工业等领域水体中浓度范围为1~10001μg/L的金属元素。......阅读全文

X荧光光谱仪的工作原理(二)

3、检测记录系统X射线荧光光谱仪用的检测器有流气正比计数器和闪烁计数器。上图是流气正比计数器结构示意图。它主要由金属圆筒负极和芯线正极组成,筒内充氩(90%)和甲烷(10%)的混合气体,X射线射入管内,使Ar原子电离,生成的Ar+在向阴极运动时,又引起其它Ar原子电离,雪崩式电离的结果,产生一脉冲信

X荧光光谱仪分类及比较

   一、X-射线荧光光谱仪(XRF) 简介   X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。  波长色散型X射线荧光光谱仪(

X射线荧光分析中的相关技术研究

X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析,本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X射线荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一台X射线荧光分析仪,至60

一起来看看X荧光光谱仪的发展史

 现在我们脚受伤了什么的第一个想到的就是去医院拍一个片,既可以清洗清晰的看到脚上的情况,还可以方便医生诊断病情。所谓的拍片就是X光,又叫X荧光,以前中国大部分的X荧光都是进口的,可现在中国德技术越来越先进,国内很多制造业也发展起来,我们看看我国的X荧光的发展史!   

XRF原理-天瑞EDX 2800

1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)   人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。   一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(

X荧光光谱仪的发展历史

在中国,很多厂家更加喜欢购买进口的仪器,这不仅仅是因为国民对进口的认同和对国产不信任,还因为X荧光光谱技术的发展历史,下面让我们一起来追溯X荧光光谱技术的发展。X荧光光谱技术的发展1959年我国从苏联引入了照相式X荧光光谱仪,这是中国第一次引进X荧光光谱分析仪。     &nbs

波散XRF与能散XRF的区别

  一.X射线荧光分析仪简介  X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)。是用晶

X荧光光谱仪主要使用领域

X荧光光谱仪原理仪器是较新型X射线荧光光谱仪,具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确

运用X荧光光谱分析仪器 检测鉴定古文物真伪

  “科技考古”是20世纪中期出现的一个新的考古学派,利用自然科学和考古学的理论、方法和手段,分析研究古代实物遗存,获取丰富的“潜”信息,以探索人与自然的关系以及古代人类社会历史的科学。   考古学是依据古代物质遗留以了解古代人类行为与当时社会文化的学问,分析研究古代遗迹,获取其丰富的潜在信息,探索

物理学方法在古陶瓷考古中的应用(三)

(二) 质子激发 X 射线荧光分析质子激发 X 射线荧光分析开创于 1970 年,如今已发展成为一种成熟的多元素分析技术,广泛应用于材料、地质、冶金、生物、医学、考古与环境科学中,它是用加速器产生的高速带电粒子轰击待测样品靶与靶的子相互作用,使样品靶中待测物质的原子受激发,电离,当所形成的内

XRF(X射线荧光光谱分析)各品牌介绍

  1.美国Xenemetrix(能量色散)  美国Xenemetrix在过去30年内一直是能量色散X射线荧光光谱分析方面的领先创新者,而X-Calibur更是Xenemetrix多年经验和专业知识的顶峰设计,该仪器占地面积少、性能优越。强大的50kV,50瓦特的X-Calibur能量色散X射线荧光

经典材料分析七种方法:成分,光谱,质谱 ,能谱

  材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段,也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析,从认识材料的分析仪器着手。  成分分析简介  成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析,通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么,帮助您对样品进行定性定量

常用材料测试方法总结

成分分析:  成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同,又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。  体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析,其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方

X荧光光谱仪的简单介绍

 X荧光光谱仪的简单介绍       x荧光分析已广泛应用于材料、冶金、地质、生物医学、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦察、工业生产等诸多领域,是一种快速、无损、多元素同时测定的分析技术,可为相关生产企业提供一种可行的、低成本的、及时的检测、筛选

基于荧光光谱检测的食品安全探讨

  摘要:随着社会经济的发展,人们对生活水平的要求也越来越高,人们的目光逐渐从住所房屋问题聚焦到食品上来。食品工业化程度的高速发展和日愈扩大,近年来所发生的一系列食品安全问题,新的工艺技术及添加剂的广泛使用,滥用各种食品添加剂引发的食品安全事件的报道层出不穷。食品安全不仅仅关系到国民的身体健康和生命

常见重金属检测方法

  通常认可的重金属分析方法有:紫外可见分光光度法(UV)、原子吸收法(AAS)、原子荧光法(AFS)、电感耦合等离子体法(ICP)、X射线荧光光谱(XRF)、电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)。日本和欧盟国家有的采用电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)分析,但对国内用户而言,仪器成本高。也有的采

重金属的定量检测方法汇总

  通常认可的重金属分析方法有:紫外可见分光光度法(UV)、原子吸收法(AAS)、原子荧光法(AFS)、电感耦合等离子体法(ICP)、X射线荧光光谱(XRF)、电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)。日本和欧盟国家有的采用电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)分析,但对国内用户而言,仪器成本高。也有的采

重金属的定量检测方法汇总

  通常认可的重金属分析方法有:紫外可见分光光度法(UV)、原子吸收法(AAS)、原子荧光法(AFS)、电感耦合等离子体法(ICP)、X射线荧光光谱(XRF)、电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)。日本和欧盟国家有的采用电感耦合等离子质谱法(ICP-MS)分析,但对国内用户而言,仪器成本高。也有的采

材料成分分析仪器大全

  【成分分析简介】  成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析,通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么,帮助您对样品进行定性定量分析,鉴别、橡胶等高分子材料的材质、原材料、助剂、特定成分及含量、异物等。  【成分分析分类】  按照对象和要求:微量样品分析 和 痕量成分分

陶瓷原料化学成分分析的N种方法

1)滴定法湿法化学分析测定陶瓷原料的化学成分,滴定法是其中常用的方法之一。滴定分析法的原理是,滴定试剂与被测组分在适当的酸碱pH值下反应,通过指示剂在反应达到终点时颜色突变所使用的滴定试剂的多少来计算被测物的含量。陶瓷成分测定中,三氧化二铝、氧化镁>5%、氧化钙、三氧化二铁、氟化钙、较高含量的二氧化

X荧光光谱仪原理

X荧光光谱仪原理当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12~10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较

X荧光光谱仪的基本原理

X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱的分析方法配置的多通道X射线荧光光谱仪,它能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量。         X射线荧光(XRF)能够测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料,其中典型的样品有玻

X射线荧光光谱仪对硫化铜矿的样品分析应用

  X射线荧光光谱分析技术(XRF)是利用X射线与物质产生的X射线荧光而进行的元素分析方法,采用探测器检测特征X射线荧光的能量和强度,从而实现定性和定量分析。X射线荧光光谱分析具有快速、多元素分析、制样简单、重现性好、准确度高、非破坏性和对环境无污染等特点,被广泛应用于多领域的样品分析。硫化铜矿石作

X荧光光谱仪的优势和劣势及三种分析检测方法

X荧光光谱仪的优势和劣势优势:a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测

X荧光光谱仪(XRF)的基本原理

 X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱的分析方法配置的多通道X射线荧光光谱仪,它能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量。  X射线荧光(XRF)能够测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料,其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡

X荧光光谱仪测试的方法和要点

   X荧光光谱仪总而言之,建立适合用户的标准样品库,才能将X射线荧光光谱仪的效能发挥到极致,虽然前期要做许多工作,例如收集样品,样品分析,标准样品制备等工作,但“磨刀不误砍柴工”。建立好自己面向应用的标准样品库,可以让自己的检测做到事半功倍的效果。    一、X荧光光谱仪测试方法:   1、X

光谱分析方法及其分类

一、光谱法与非光谱法凡是基于检测能量作用于待测物质后产生的辐射信号或所引起的变化的分析方法均可称为光学光谱分析法,常简称光分析法。根据测量的信号是否与能级的跃迁有关,光学分析法可分为光谱法和非光谱法两大类。非光谱法测量的信号不包含能级的跃迁,它是通过测量电磁辐射某些基本性质,如折射、散射、干涉、衍射

X荧光光谱仪测试的方法和要点

 X荧光光谱仪总而言之,建立适合用户的标准样品库,才能将X射线荧光光谱仪的效能发挥到极致,虽然前期要做许多工作,例如收集样品,样品分析,标准样品制备等工作,但“磨刀不误砍柴工”。建立好自己面向应用的标准样品库,可以让自己的检测做到事半功倍的效果。一、X荧光光谱仪测试方法:  1、X荧光光谱

仪器分析概论(一)

仪器分析法根据被测量的物理和物理化学性质可分为以下几类:光学分析法电化学分析法色谱分析法质谱分析法热量分析法放射化学(又称活化)分析法分析化学是研究物质的化学组成,测定有关成分的含量以及鉴定物质化学结构的科学。随着科学技术的发展,分析化学分支为化学分析和仪器分析。其中化学分析是以化学反应为基础的分析

硫化矿样品的X射线荧光光谱分析

射线荧光光谱分析技术(XRF)是利用X射线与物质产生的X射线荧光而进行的元素分析方法,采用探测器检测特征X射线荧光的能量和强度,从而实现定性和定量分析。X射线荧光光谱分析具有快速、多元素分析、制样简单、重现性好、准确度高、非破坏性和对环境无污染等特点,被广泛应用于多领域的样品分析。硫化铜矿石作为国家