Antpedia LOGO WIKI资讯

工业CT检测技术

工业CT检测技术是以X 射线和γ射线作为辐射源的工业CT,其工作原理就是射线检测的原理。计算机层析成像技术使用不同的能量波作为辐射源,其工作原理也有所不同。在工业无损检测中广泛应用的是透射层析成像技术(ICT),使用的辐射源多为x射线或y射线,包括低能X 射线或由加速器产生的高能X射线,常用的γ射线同位素则有192Ir、137Cs 和60Co 等。 [1] 为了获得断层图像重建所需要的数据(计数和1值),必须对被检物进行扫描,按获取数据方式的不同,CT技术已发展了五个阶段,即五代CT扫描方式。 第一代CT使用单源(一条射线)单探测器系统,系统相对于被检物作平行步进式移动扫描以获得N个投影值(1值),被检物则按M个分度作旋转运动,被检物仅需转动180%。第一代CT机结构简单、成本低、图像清晰,但检测效率低,在工业CT中已经很少采用。 第二代CT是在第代CT基础上发展起来的。使用单源小角度扇形射线束多探头,射......阅读全文

工业CT的 工业应用

  工业CT现有X射线断层扫描(XCT)、康普顿散射断层扫描(CST)、穆斯堡尔效应断层扫描(MCT)等。主要应用于工业在线过程的实时检测和大型工业部件的探查。工业CT与传统的X射线探伤和超声波探伤相比,具有空间分辨率高、无损检测、速度快等特点,因而在工业产品的检测中具有其他方法无可取代的作用。在实

工业CT的工业应用

工业CT的工业应用工业CT(industrial computerized tomography)是指应用于工业中的核成像技术。其基本原理是依据辐射在被检测物体中的减弱和吸收特性。同物质对辐射的吸收本领与物质性质有关。所以,利用放射性核素或其他辐射源发射出的、具有一定能量和强度的X射线或γ射线,在被

工业CT原理

工业CT,即工业计算机断层扫描成像,具有直观、准确、无损伤等特点,主要用于工业构件的无损检测。其原理主要是:通过扫描工件得到断层投影,然后通过图像重建算法重建出断层图像工业CT技术是目前世界上先进的无损检测技术之一,是物体内外部缺陷测量与统计、结构尺寸测量、设计工艺改进、升级制造技术不可缺少的手段。

工业CT原理

  工业CT,即工业计算机断层扫描成像,具有直观、准确、无损伤等特点,主要用于工业构件的无损检测。   其原理主要是:通过扫描工件得到断层投影,然后通过图像重建算法重建出断层图像   工业CT技术是目前世界上先进的无损检测技术之一,是物体内外部缺陷测量与统计、结构尺寸测量、设计工艺改进、升级制造

高能工业CT

  高能工业CT采用先进的高频恒压X射线源、数字成像探测器以及高精度机械检测平台。不仅精准再现了被检测工件的CT断层及三维图像,同时拥有二维实时成像功能。产品具有体积小、检测速度快、图像清晰、检测精准、性价比高等诸多优越性。产品广泛应用于航天、航空、军工、机械、铸造、IT、汽车等行业的无损检测和无损

工业CT与医用CT的区别

  德国werth工业CT与医用CT的区别   1、技术指标侧重的差异   工业CT更强调空间分辨率、密度分辨率,医用CT在强调分辨率同时更希望减小照射时间   2、射线能量范围的差异   工业CT中射线的能量从十至数百千伏,医用CT仅几十千伏   3、结构上的差异   工业CT中被测工

工业CT与医用CT的区别

工业CT与医用CT的区别1、技术指标侧重的差异工业CT更强调空间分辨率、密度分辨率,医用CT在强调分辨率同时更希望减小照射时间2、射线能量范围的差异工业CT中射线的能量从十至数百千伏,医用CT仅几十千伏3、结构上的差异  工业CT中被测工件亦作扫描运动4、检测范围的差异工业CT与医用CT的区别,德国

工业CT是什么?

对于大多数人而言,CT(Computed Tomography)可能指医疗学科上的CT技术。实际上,CT的应用早已延伸至了工业测量行业。随着工业测量从外部传统测量向内部无损分析及全尺寸测量转变,工业CT技术应运而生。近年来,工业CT凭借着强大的检测技术以及逐渐广泛的应用范围,被誉为未来测量技术的趋势

工业CT工作原理

电子计算机体层摄影(Computed tomography,简称CT)是近十年来发展迅速的电子计算机和X线相结合的一项新颖的诊断新技术。其原理是基于从多个投影数据应用计算机重建图像的一种方法,现代断层成像过程中仅仅采集通过特定剖面(被检测对象的薄层,或称为切片)的投影数据,用来重建该剖面的图像,因此

工业ct扫描优势

X射线计算机断层扫描(CT)技术作为一种灵活的非接触式测量技术已成功进入坐标计量学领域,该技术可有效用于对工业零部件进行内部和外部尺寸测量。与传统的接触式和光学坐标测量仪(CMM)相比,CT具有诸多优点,以便于工程师们执行工作中各式相应无损测量任务,而这是其他任何测量技术通常都无法实现的。   例如