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AFM纳米材料与粉体材料的分析

纳米材料与粉体材料的分析在材料科学中,无论无机材料或有机材料,在研究中都有要研究文献,材料是晶态还是非晶态。分子或原子的存在状态中间化物及各种相的变化,以便找出结构与性质之间的规律。在这些研究中AFM 可以使研究者,从分子或原子水平直接观察晶体或非晶体的形貌、缺陷、空位能、聚集能及各种力的相互作用。这些对掌握结构与性能之间的关系有非常重要的作用。当今纳米材料是材料领域关注的课题,而AFM 对纳米材料微观的研究中,也是分析测视工具。纳米材料科学的发展和纳米制备技术的进步,将需要更新的测试技术和表征手段,以评价纳米粒子的粒径、形貌、分散和团聚状况。原子力显微镜的横向分辨率为0.1~0.2nm,纵向为0.01nm,能够有效的表征纳米材料。纳米科学和技术是在纳米尺度上( 0.1~100nm)研究物质(包括原子、分子)的特性和相互作用,并且利用这些特性的一个新兴科学。其最终目标是直接以物质在纳米尺......阅读全文

经典材料分析七种方法:成分,光谱,质谱 ,能谱

  材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段,也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析,从认识材料的分析仪器着手。  成分分析简介  成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析,通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么,帮助您对样品进行定性定量

常用材料测试方法总结

成分分析:  成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同,又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。  体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析,其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方

原子力显微镜在材料科学研究中的应用

       AFM 是利用样品表面与探针之间力的相互作用这一物理现象,因此不受STM 等要求样品表面能够导电的限制,可对导体进行探测,对于不具有导电性的组织、生物材料和有机材料等绝缘体,AFM 同样可得到高分辨率的表面形貌图像,从而使它更具有适应性,更具有广

纳米材料的粒度分析

1. 粒度分析的概念    大部分固体材料均是由各种形状不同的颗粒构造而成,因此,细微颗粒材料的形状和大小对材料结构和性能具有重要的影响。尤其对于纳米材料,其颗粒大小和形状对材料的性能起着决定性的作用。因此,对纳米材料的颗粒大小、形状的表征和控制具有重要的意义

新技术,真应用——第10次华北五省电镜研讨会的饕餮盛宴

  分析测试百科网讯 2018年7月22日,第十次华北五省市电子显微学研讨会及2018年全国实验室协作服务交流会在山东省烟台市举行。本次会议由华北五省电子显微镜学会主办,北京理化分析测试技术学会协办。此次会议旨在推动华北五省市电子显微分析技术的发展,促进电子显微分析工作者的学术交流,加强实验室资源共

2016北京市电子显微学年会召开 探讨电镜技术应用新进展

  分析测试百科网讯 2016年12月20日,2016年度北京市电子显微学年会在北京天文馆召开,会议旨在推动北京及周边省市广大电子显微学学术及技术水平,促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。来自电子显微学领域相关单位的200余人参加了此次会议。2016年度北京市电子显微学

材料形貌分析

相貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌,材料的颗粒度,及颗粒度的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。形貌分析方法主要有:光学显微镜(Opticalmicroscopy,OM)、扫描电子显微镜(Scanningelectron microscopy, SEM)、透射电子显微镜(Transmis

2013年度北京电子显微学年会大会报告(一)

  2013年12月24日, 2013年度北京市电子显微学年会在北京天文馆隆重召开,会上,来自中科院、北京大学、北京工业大学、北京建筑大学、钢铁研究总院等多位专家学者带来了关于电镜在教学科研、纳米材料、生物医药、探伤等方面应用的精彩报告,科扬、FEI、蔡司、布鲁克、牛津

XRD、TEM、AFM表征粒径的方式及异同

  晶粒(注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念,在多数情况下纳米粒子是由多个完美排列的晶粒组成的)的晶相和大小,虽然也可通过更强的场发射透镜(HRTEM)得到,但是机器昂贵、操作复杂,所以实验室一般使用X射线粉末衍射仪。  XRD、TEM、AFM在表征粒径大小方面各有优势,我们将分别从原理和应用来

扫描电镜技术及其在碳材料表征中的应用

摘要:电子显微技术是材料表征的重要技术手段之一,其中扫描电子显微镜(简称SEM)由于具有应用范围广、样品制备简单、图像景深大等优点,因而在碳材料表征中发挥着越来越重要的作用。本文在介绍扫描电镜的结构、工作原理及样品制备的基础上,简要概述了扫描电镜在材料表征中的应用,并以碳纳米管为例对图谱进行了分析。

XRD和TEM在样品物象上表征的区别

  样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用 X-射线粉末衍射仪(XRD)和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域,可能产生较大的统计误差。晶粒(注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念,在多数情况下

光谱界专家分享光谱技术的新进展、新应用(二)

——第十九届全国分子光谱学学术会议暨2016年光谱年会大会报告(二)  分析测试百科网讯 2016年10月28日,第十九届全国分子光谱学学术会议暨2016年光谱年会在福州盛大开幕(详见本网报道:光谱领域专家汇聚福州 共同探讨光谱学发展),会议由中国光学学会和中国化学会主办,中国科学院福建物质结构研究

粒度检测方法优缺点对比介绍

粉体材料有很多物理指标,主要反映在组成粉体材料颗粒的一些参数,包括粒度、粒形、表面积、孔径、带电特性以及堆积性能和流动性能等。粒度测试是一门跨学科、跨领域技术,它需要面向几十个领域中的各式粉体和千差万别的用户,因此要求从事颗粒测试工作的人员具有丰富的理论知识和实践经验。其中理论知识包括颗粒学、物理学

各种常用粒度测试方法特点分析

粉体材料有很多物理指标,主要反映在组成粉体材料颗粒的一些参数,包括粒度、粒形、表面积、孔径、带电特性以及堆积性能和流动性能等。粒度测试是一门跨学科、跨领域技术,它需要面向几十个领域中的各式粉体和千差万别的用户,因此要求从事颗粒测试工作的人员具有丰富的理论知识和实践经验。其中理论知识包括颗粒学、物理学

中科院上海微系统所、TESCAN联合展示电镜-拉曼一体化设备

  近日,2019年(第五届)石墨烯/碳纳米材料制备技术及终端应用创新论坛在中科院上海微系统所落下帷幕,这是石墨烯/碳纳米材料行业全产业链的盛会,会议邀请国内外石墨烯/碳纳米材料产业链上下游配套企业及国内外科研机构的顶级专家做了精彩报告。  在本次创新论坛,中科院上海微系统所联合TESCAN公司展示

扫描探针显微镜对几种纳米材料的结构表征研究

     1982年,Gerd Binning及其合作者在IBM公司苏黎世实验室共同研制成功了第一台扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope,STM),其发明人Binning 因此获得1986 年的诺贝尔物理奖。扫描隧道显微镜的工作原理

推动材料学与生命科学发展 记2019北京市电子显微学年会

  分析测试百科网讯 2019年12月17日,2019年度北京市电子显微学年会隆重举行。本次会议旨在推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平,促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。会议共有200余人出席、参与。分析测试百科网作为支持媒体为您带来全程跟踪报道。年会签

2011年全国材料科学电子显微学会议及征文(第一轮通知)

  一、2011年全国材料科学电子显微学会议通知  随着电子显微学事业的飞跃发展,材料的电子显微表征技术日新月异。具有场发射枪的高空间分辨分析型TEM,使人们可以采用高分辨技术、微衍射、电子能谱、电子能量损失谱对纳米尺度的区域进行形貌、结构、成分分析。球差校正TEM又将点分辨率提高到0.0

中国首家石墨烯上市企业诞生 石墨烯产业“梦之队”崛起

  2014年11月12日,常州第六元素材料科技股份有限公司在北京成功进入“新三板”上市,成为国内首家石墨烯上市企业。  2013年2月,诺奖得主康斯坦丁·诺沃肖洛夫爵士在中国国务院发展研究中心,接受江南石墨烯研究院名誉理事长冯冠平馈赠由中国制造的全球首款石墨烯触屏手机。  ■创新驱动发展   “这

什么是扫描探针显微镜?

p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发

Park原子力显微镜完成其对Molecular Vista的股权投资

  2020年4月29日,Park原子力显微镜宣布最终完成对美国加州圣何塞的Molecular Vista进行的股权投资。Molecular Vista作为一家AFM的生产商,该公司主要聚焦于基于光诱导力显微镜的纳米红外技术(IR PiFM)进行AFM红外联用的定量可视化研究工作,从而实现分子水平上

四大显微设备SEM、TEM、AFM、STM工作原理汇总

四大显微设备:SEM、TEM、AFM、STM,相信大家并不陌生,特别是学材料的小伙伴们。那它们的工作原理呢?下面,让您轻松了解它们的工作原理,跟枯燥乏味的各种分析说拜拜啦!01.扫描电子显微镜(SEM)SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。SEM是采用逐点成像的

材料物相结构分析

常用的物相分析方法有X射线衍射分析、激光拉曼分析、傅里叶红外分析以及微区电子衍射分析。X射线衍射分析XRD物相分析是基于多晶样品对X射线的衍射效应,对样品中各组分的存在形态进行分析。测定结晶情况,晶相,晶体结构及成键状态等等。 可以确定各种晶态组分的结构和含量。灵敏度较低,一般只能测定样品中含量在1

扫描探针显微镜的性能及应用研究

扫描探针显微镜是一种强有力的表面分析仪器,它主要包括扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM).敲击模式的AFM更是被广泛地用来研究各种材料的表面及微观结构.但是由于敲击模式工作原理的复杂性,为了得到真实的样品结构,就必须选择合适的扫描参数.该文用敲击模式AFM研究了不同材料的微观结构,研究了

布鲁克发布全新高性能系统和高价值分析解决方案

  新奥尔良,路易斯安那州——2015年3月9日——本周,在2015Pittcon展会期间,Bruker 公司(NASDAQ: BRKR) 展示了一系列令人激动的创新式产品和解决方案,加大其在药物和应用市场、质控领域、纳米级分析和细胞生物学等方面的优

“颗粒粒径分析方法”汇总大全

一、相关概念:       1、粒度与粒径:颗粒的大小称为粒度,一般颗粒的大小又以直径表示,故也称为粒径。       2、粒度分布:用一定方法反映出一系列不同粒径区间颗粒分别占试样总量的百分比称为粒度分布。 

2010年全国优秀博士学位论文出炉

编 号 论文题目 作 者

SDC-100光学接触角测量仪(水滴角)

  SDC-100光学接触角测量仪(水滴角)  众所周知,纳米材料科学与工程已经成为世界性的研究热点,在研究纳米材料的表面改性时,往往要涉及润湿接触角这个概念。所谓接触角是指在一固体水平平面上滴一液滴,固体表面上的固-液-气三相交界点处,其气-液界面和固-液界

中科院发布改革开放四十年40项标志性重大科技成果

  12月19日,中国科学院发布改革开放四十年40项标志性重大科技成果。  中科院以“三个面向”为线索,在系统梳理改革开放40年来广大科研人员取得的众多重大科技成果基础上,发布面向世界科技前沿成果15项、面向国家重大需求成果15项、面向国民经济主战场成果10项。  习近平总书记在庆祝改革开放40周年

扫描电镜的综述及发展

1 扫描电镜的原理 扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简写为SEM)是一个复杂的系统,浓缩了电子光学技术、真空技术、精细机械结构以及现代计算机控制技术。成像是采用二次电子或背散射电子等工作方式,随着扫描电镜的发展和应用的拓展,