XRF9能量色散X射线荧光分析仪
产品介绍 X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品的常规分析。XRF作为一种无损检测技术，可以直接应用于现场、原位分析，在材料分析领域占有重要地位。 XRF9能量色散X射线荧光分析仪正是基于X射线荧光分析技术设计的一款新型X射线荧光光谱分析仪。可实现对样品中所含元素快速，无损，准确的定性、定量分析。采用XRF9分析仪进行成分辨别无需复杂的化学前处理，是最快速，经济的方法。 主要特点 1.样品无损检测：固体样品可直接检测，无需化学前处理。 2.分析速度快：测试时间小于300S 3.多元素同时分析. 4.仪器采用先进的多光束可调节系统：......阅读全文
XRF9能量色散X射线荧光分析仪
产品介绍 X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料
XRF9能量色散X射线荧光分析仪
产品介绍 X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、冶
多道能量色散X射线荧光分析仪的研制
X射线荧光分析是一种用于化学元素定性和定量分析的方法。在20世纪70年代初能量色散X射线荧光分析仪正式跨入分析仪器的行列,并且作为一种重要的分析工具被广泛应用于地质、冶金、石油化工、刑侦、考古、半导体工业和医药卫生等领域。能量分辨率是考察能量色散X荧光分析仪性能的一个重要指标,它不仅与探测器自身的分
XRF7便携能量色散X射线荧光分析仪
产品介绍 X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、
XRF7便携能量色散X射线荧光分析仪
X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品
能量色散型X射线荧光分析仪的性能特点
ROHS Validator 能量色散型X射线荧光分析仪——高灵敏度高精度测定有害物质 第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪来自于中国仪器超市（www.cimart.com.cn），采用世界上最先进的硅SIPIN探测器（分辨率为150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自
能量色散X射线荧光光谱技术
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
能量色散X射线荧光光谱仪
在20世纪80年代初，EDXRF谱仪主要有:①液氮冷却的Si(Li)半导体探测器与X射线管及高压电源组成的谱仪; ②非色散型可携式谱仪，它主要由封闭式正比计数器和放射性核素源组成，通常一次仅能测定1～2个元素。EDXRF谱仪由于仪器性能的改善现在测定元素已由Na扩展到F，甚至可检出C; 可携式XRF
能量色散X射线荧光光谱仪
(1)现场和原位EDXRF。现场和原位EDXRF分为两种: ①移动式谱仪，系指可以随身携带的谱仪，用于现场分析; ②手持式谱仪， 要求整机质量小于1.5 kg，可实施原位分析。现场EDXRF谱仪依据所用的激发源、探测器和电子学线路、谱仪的技术指标可划分为四代。第一代约在 20世纪60年代中期，由英、
能量色散X射线荧光光谱技术简介
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
单波长能量色散X射线荧光分析技术
单波长能量色散X射线荧光分析技术(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)，就是依靠双曲面弯晶、二次靶或者多层膜弯晶等技术，将X射线管出射谱中的单一能量衍射聚焦到样品一点，激发样品中元素荧光，这样极大降
能量色散型X射线荧光分析仪的主要技术指标
主要技术指标： 分析原理 能量色散X射线荧光分析法 分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型） Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型） 检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm 样品形状 最大460×380mm(高150mm) 样品 塑料/金属
能量色散型X射线荧光分析仪的主要技术指标
分析原理 能量色散X射线荧光分析法分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm样品形状 最大460×380mm(高150mm)样品 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体样品室气氛 大气X射
能量色散X射线荧光光谱技术基本介绍
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同，经探测器接收后用脉冲高度分析器区别，进行元素鉴定，根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析，被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
能量色散－X－射线荧光－(ED－XRF)的相关介绍
能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光技术之一。在 EDXRF 光谱仪中，样品中的所有元素都被同时激发，而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合，用于同时收集从样品发射的荧光辐射，然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。EDXRF 系统的分辨率取决
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同，经探测器接收后用脉冲高度分析器区别，进行元素鉴定，根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析，被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
便携能量色散X射线荧光光谱检测土壤
能量色散X 荧光光谱仪至今还没有形成统一的国家检定规程。因此，根据仪器的实际检定要求，参考相关仪器的检定规程，对能量色散X 荧光光谱仪的检定方法进行了深入的研究和探讨，提出了能量色散X 射线荧光光谱仪的检定方法。 X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦
日立推出新型能量色散X射线荧光分析仪EA1280
新品发布 日立分析仪器（上海）有限公司于2023年6月宣布推出EA1280，这是一款用于在中国测量环境有害物质的新型能量色散X射线荧光分析仪。 近年来，限制使用环境有害物质已变得普遍，且成为保护环境工作的一部分。随着RoHS/ELV指令等法规的出台，包括制造商在内的很多公司都被要求控制其产品
能量色散X射线荧光光谱仪的开发
X射线荧光分析方法因其具有对试样无损坏、多元素快速分析、准确性高、分析速度快、不污染环境等特点，适合直接用于生产的过程控制和检测中，具有广阔的市场前景和相当的研究意义。本文针对RoHS检测的需求，分析了X射线荧光分析技术的理论基础，明确了能量色散X射线荧光光谱仪的工作原理及相应光谱分析软件设计方法。
能量色散X射线荧光光谱仪的开发
X射线荧光分析方法因其具有对试样无损坏、多元素快速分析、准确性高、分析速度快、不污染环境等特点，适合直接用于生产的过程控制和检测中，具有广阔的市场前景和相当的研究意义。本文针对RoHS检测的需求，分析了X射线荧光分析技术的理论基础，明确了能量色散X射线荧光光谱仪的工作原理及相应光谱分析软件设计方法。
能量色散X射线荧光光谱仪技术原理
能量色散X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。 能量色散X射线荧光光谱仪技术原理能量色散X射线荧
能量色散X射线荧光光谱仪的工作原理
能量色散x射线荧光光谱仪energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脉冲高度分析器进行能量色散的x射线荧光光谱仪公与波长色散x射线荧光光谱仪相比，它的结构简单。可使用小功率x射线管激发和简单的分光系统。采用半导体探测器和多道脉冲高度分析器可
能量色散型与波长色散型X－射线荧光分析仪的特点与差异
X 射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的，检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法（例如：发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显
新品发布－|－日立推出新型能量色散X射线荧光分析仪EA1280
日立分析仪器（上海）有限公司于2023年6月宣布推出EA1280，这是一款用于在中国测量环境有害物质的新型能量色散X射线荧光分析仪。 近年来，限制使用环境有害物质已变得普遍，且成为保护环境工作的一部分。随着RoHS/ELV指令等法规的出台，包括制造商在内的很多公司都被要求控制其产品中包含的限制
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线荧光分析仪的优点
对于已压铸好的机械零件可以做到无损检测，而不毁坏样品。 测试速率高，可以在较少时间内进行大量样品测试，分析结果可以通过计算机直接连网输出。 分析速度较快。 对于纯金属可采用无标样分析，精度能达分析要求。 不需要专业实验室与操作人员，不引入其它对环境有害的物质。
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
X射线荧光分析仪的缺点
关于非金属和界于金属和非金属之间的元素很难做到精确检测。在用基本参数法测试时，如果测试样品里含有C、H、O等元素，会出现误差。 不能作为仲裁分析方法，检测结果不能作为国家认证根据，不能区分元素价态。 对于钢铁等含有非金属元素的合金，需要代表性样品进行标准曲线绘制，分析结果的精确性是建立在标样
X射线荧光分析仪的介绍
X射线荧光分析仪主要由激发、色散（波长和能量色散）、探测、记录和测量以及数据处理等部分组成。X射线光谱仪与X射线能谱仪两类分析仪器有其相似之处，但在色散和探测方法上却完全不同。在激发源和测量装置的要求上，两类仪器也有显著的区别。X射线荧光分析仪按其性能和应用范围，可分为实验室用的X射线荧光光谱仪