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多晶X射线衍射仪，也称粉末衍射仪，通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成：1) X 射线发生器(产生X射线的装置);2) 测角仪(测量角度2θ的装置); 3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置); 4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等).......阅读全文
XRD全称X射线衍射（X-RayDiffraction）,利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷（位错）和晶格缺陷等，下面就让咱们来简要的了解下XRD的原理及应用和分析方
X射衍射线( XRD) 又称X 射线物相分析法，X射线是一种具有衍射本领的高能电磁波。X射线衍射法是目前测定晶体结构的重要手段，应用极其广泛。在实际的应用中将该分析方法分为多晶粉末法和单晶衍射法。多晶粉末法常用来测定立方晶系的晶体结构点阵形式、晶胞参数及简单结构的原子坐标，还可以对固体式样进行物
1、X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器,广泛应用于各大、专院校,科研院所及厂矿企业. 基
(六)X射线仪器 1. X射线衍射仪 国外在X射线衍射仪方面的的技术发展很快。主要表现在新型探测器、模块化、分析软件的功能强化、先进的X射线光学器件等方面。 目前国外各衍射仪生产厂家纷纷研发配备新型高性能探测器，以确保高档仪器市场中的竞争地位。有的公司每不到两年就推出一种新
样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用 X－射线粉末衍射仪（XRD）和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域，可能产生较大的统计误差。晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念，在多数情况下
晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念，在多数情况下纳米粒子是由多个完美排列的晶粒组成的）的晶相和大小，虽然也可通过更强的场发射透镜（HRTEM）得到，但是机器昂贵、操作复杂，所以实验室一般使用X射线粉末衍射仪。 XRD、TEM、AFM在表征粒径大小方面各有优势，我们将分别从原理和应用来
——布鲁克衍射荧光事业部推出最新款用于过程和质量控制的高性能X射线衍射系统D8 ENDEAVOR™ 2015年3月9日，在美国新奥尔良Pittcon 2015会议上，X射线衍射（XRD）仪器全球市场领导者布鲁克衍射荧光事业部介绍了一种以X射线粉末衍射技术对多晶材料进行分析研究的解决方案，
材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段，也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析，从认识材料的分析仪器着手。 成分分析简介 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量
成分分析： 成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方
X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，为X射线衍射仪的基本构造原理图，主要部件包括4部分。（1） 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。（2） 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、
X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，为X射线衍射仪的基本构造原理图，主要部件包括4部分。 （1）高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线,改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长,调节阳极电压可控制X射线源的强度。 （2）样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉
X射线衍射仪是对物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的基本手段。X射线衍射仪对单晶、多晶和非晶样品进行结构参数分析，如物相鉴定和定量分析、室温至高温段的物相分析、晶胞参数测定（晶体结构分析）、多晶X-射线衍射的指标化以及晶粒尺寸和结晶度的测定等。可精确地测定物质的晶体结构，如：物相定性与定量分
MiniFlex2012年最新添加了MiniFlex系列的台式X射线衍射（XRD）分析仪。第5代MiniFlex可以进行多晶材料的定性分析与定量分析，是一般用途的X射线分衍射仪。本次MiniFlex提供两种类型以供选择，当运行600W（X射线管）时，MiniFlex600的能量比其他台式模型高两倍，
[一般问题] 做 XRD 有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？ X 射线照射到物质上将产生散射。晶态物质对 X 射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。 绝大多数固态物质都是晶态或微
序号标准编号标准名称标准主要内容石化行业151SH/T 1825-2019工业用碳九芳烃本标准规定了工业用碳九芳烃的术语和定义、产品分类、要求、取样、检验规则、标志、标签和随行文件、包装、运输、贮存。本标准适用于石脑油经催化重整工艺加工、分离得到的以碳九为主的芳烃，其主要用途是作为生产二甲苯、三甲苯
分析测试百科网讯 近日，Rigaku公司宣布将出席在美国宾夕法尼亚州费城会议中心举行的第70届匹兹堡分析化学和应用光谱学年度会议(Pittcon 2019)。 Pittcon是世界领先的实验室科学年会和博览会，吸引了来自全球90多个国家的工业界、学术界和政府等与会者的目光，加强了科学界人士与科
在锂离子电池发展的过程当中，我们希望获得大量有用的信息来帮助我们对材料和器件进行数据分析，以得知其各方面的性能。目前，锂离子电池材料和器件常用到的研究方法主要有表征方法和电化学测量。 电化学测试主要分为三个部分：（1）充放电测试，主要看电池充放电性能和倍率等；（2）循环伏安，主要是看电池的充放
分析测试百科网讯 明亮的落地玻璃窗，琳琅满目的仪器设备，严肃认真的研究人员穿梭忙碌。这是分析测试百科小编对复旦大学先进材料实验室的第一印象。 复旦大学先进材料实验室是教育部“985工程”二期重点建设项目之一，于2005年4月成立，通过物理、化学、生物、材料、信息、
日本理学公司 日本理学公司对此次在新奥尔良市Ernest N. Morial会议中心举办的Pittcon 2015十分重视。3月8日至12日参展期间，该公司在＃3727展台展示了多款台式XRD及XRF设备。 Su
原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectrometry, AAS） 根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量；适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定，检测限低 ，ng/cm3，10-10—10-14g；测量准确度很高，1%（3
原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectrometry, AAS） 根据蒸气相中被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度来测定试样中被测元素的含量；适合对纳米材料中痕量金属杂质离子进行定量测定，检测限低 ，ng/cm3，10-10—10-14g；测量准确度很高，1%（3
南京大学唐绍龙教授课题组唐妍梅博士利用稳态强磁场实验装置(SHMFF)的X射线衍射仪设备(XRD)，开展了具有立方Laves相结构的PrFe2合金研究并取得了新的进展，首次报道了PrFe2稀土合金中的巨磁致伸缩以及自旋再取向等效应。 理论预言，具有Laves相的PrFe2合金在低温(0K)
目前X射线衍射仪(XRD)的角度检定和校准测试主要依据JJG 629—1989《多晶X射线衍射仪检定规程》和JB/T 9400—2010《X射线衍射仪技术条件》等技术文件,具体方法是采用光学经纬仪或多面棱体等进行测试,该测量方法实际应用中存在一定难度,其次测量间隔较大,不能很好反映真实的角度
诺贝尔奖是以瑞典著名的化学家 阿尔弗雷德·贝恩哈德·诺贝尔的部分遗产（3100万瑞典克朗）作为基金在1900年创立的。该奖项授予世界上在物理、化学、生理学或医学、文学、和平和经济学六个领域对人类做出重大贡献的人，于1901年首次颁发，截止2016年共授予了881位个人和23个团体。今天我们将盘点
用X光能否鉴定人体内的石状物体真的是钻石？先要了解什么是X光。 X射线的本质和光一样,是一种电磁辐射,它覆盖了从0.01nm到10nm的波段范围,对应的能量范围从125eV到125keV。通常我们把波长在0.001nm～0.1nm之间，能量较高的X射线称为硬X射线,；波长在0.1nm以上，能量
常用的物相分析方法有X射线衍射分析、激光拉曼分析、傅里叶红外分析以及微区电子衍射分析。X射线衍射分析XRD物相分析是基于多晶样品对X射线的衍射效应，对样品中各组分的存在形态进行分析。测定结晶情况，晶相，晶体结构及成键状态等等。 可以确定各种晶态组分的结构和含量。灵敏度较低，一般只能测定样品中含量在1
全球首款真正意义上的便携式XRD分析仪，具有现场、快速、准确的分析优势， 粉末震荡技术(专利)及静止的探测器的使用，使得Terra突破了传统XRD的构造;XRD及XRF的集成，使得XRD的分析性能有了很大的提高。 水泥熟料的定量测定方法 水泥熟料定量测定主要有三种方法:化学计算法
7月30日， 在美国丹佛举行的X射线会议上，Bruker AXS公司（全球领先的生命科学、材料研究和工业用X-ray分析工具供应商）和Incoatec GmbH公司（X-ray光学元件供应商）宣布推出一款全新的超速度的X射线源与检测器的组合，以进一步提高现有的Bruker AXS仪器的性能，其中包括
A. 样品的平均晶粒尺寸，基本原理：当 X 射线入射到小晶体时，其衍射线条将变得弥散而宽化，晶体的晶粒越小， x 射线衍射谱带的宽化程度就越大。因此晶粒尺寸与XRD谱图半峰宽之间存在一定的关系, 即谢乐公式（Scherrerequation
俗话说：“磨刀不误砍柴工”了解XRD样本的要求、制备过程并细心的制作XRD样品，可以起到事半功倍的效果，而不是本末倒置，急于得到衍射图谱而粗心准备样品，这样往往引起实验数据误差，从而给结果分析带来困难，浪费大量的分析时间。 1. XRD运用对象 X射线衍射仪技术可以获得材料的晶体结构、结晶状