二次离子质谱仪同时分析非金属元素和金属元素
二次离子质谱（sims）和溅射中性粒子质谱（snms）是表面分析科学和材料科学中广泛应用的分析技术。使用离子溅射固体表面能够引起光子、电子、中性粒子和二次离子的发射。sims技术探测溅射产生二次离子，snms技术探测溅射产生中性粒子。由于二次离子的产率和基体相关，sims技术具有显著的基体效应，需要标准样品进行分析校正。中性粒子是溅射产物的主要组成部分，snms将中性粒子后离子化进行质谱分析，定量更加可靠。ims1280型sims通常使用o2-分析金属元素，使用cs 分析非金属元素，很难同时对金属元素和非金属元素进行分析。 中国科学院地质与地球物理研究所工程师唐国强等人在以上背景下，发明了一种使用二次离子质谱仪同时分析非金属元素和金属元素的系统和方法，并于近日获得国家发明专利授权（发明名称：使用二次离子质谱仪同时分析非金属元素和金属元素的系统和方法；发明人：唐国强，赵洪；专利号：zl20131*******.7）。 该发......阅读全文
质谱干扰离子
质谱仪种类很多，不同类型的质谱仪主要差别在于离子源。离子源的不同决定了对被测样品的不同要求，同时，所得信息也不同。质谱仪的分辨率同样十分重要，高分辨质谱仪可给出化合物的组成式，对于未知物定性至关重要。因此，在进行质谱分析前，要根据样品状况和分析要求选择合适的质谱仪。 目前，有机质谱仪主要有两大
质谱干扰离子
质谱仪种类很多，不同类型的质谱仪主要差别在于离子源。离子源的不同决定了对被测样品的不同要求，同时，所得信息也不同。质谱仪的分辨率同样十分重要，高分辨质谱仪可给出化合物的组成式，对于未知物定性至关重要。因此，在进行质谱分析前，要根据样品状况和分析要求选择合适的质谱仪。 目前，
离子阱质谱简介
离子阱质谱（ITMS）是利用高电场使质谱进样端的毛细管柱流出的液滴带电，在氮气气流的作用下，液滴溶剂蒸发，表面积缩小，表面电荷密度不断增加，直至产生的库仑力与液滴表面张力达到雷利极限，液滴爆裂为带电的子液滴，这一过程不断重复使最终的液滴非常细小呈喷雾状，这时液滴表面的电场非常强大，使分析物离子化
离子阱质谱与轨道离子阱质谱有什么区别
离子阱 ion trap轨道阱 obitrap离子阱是利用射频电场实现对离子的束缚和弹出从而实现分离,电场是变化的.轨道阱是利用静电场实现离子分离,电场不变.
离子阱质谱与轨道离子阱质谱有什么区别
离子阱质谱与轨道离子阱质谱有什么区别离子阱 ion trap轨道阱 obitrap离子阱是利用射频电场实现对离子的束缚和弹出从而实现分离,电场是变化的.轨道阱是利用静电场实现离子分离,电场不变.
离子阱质谱与轨道离子阱质谱有什么区别
离子阱质谱与轨道离子阱质谱有什么区别离子阱 ion trap轨道阱 obitrap离子阱是利用射频电场实现对离子的束缚和弹出从而实现分离,电场是变化的.轨道阱是利用静电场实现离子分离,电场不变.
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离子阱 ion trap轨道阱 obitrap离子阱是利用射频电场实现对离子的束缚和弹出从而实现分离，电场是变化的。轨道阱是利用静电场实现离子分离，电场不变。
离子迁移谱和质谱的区别
离子迁移谱和质谱有相同之处，也有不同之处。都要先对目标物离子化，所以都有离子源；最终经过分离、检测的都是离子，检测器基本也一样；都是既可以检测正离子也可以检测负离子（+/-模式）。不同的是离子分离的原理：离子迁移利用离子的淌度不同分离离子，在离子迁移管中完成，离子的淌度与离子的电荷数、离子的体积大小
离子阱质谱相关简介
离子阱质谱（ITMS）是利用高电场使质谱进样端的毛细管柱流出的液滴带电，在氮气气流的作用下，液滴溶剂蒸发，表面积缩小，表面电荷密度不断增加，直至产生的库仑力与液滴表面张力达到雷利极限，液滴爆裂为带电的子液滴，这一过程不断重复使最终的液滴非常细小呈喷雾状，这时液滴表面的电场非常强大，使分析物离子化
离子阱质谱的应用
利用离子阱作为分析器的质谱仪称为离子阱质谱仪。使用最多的是由高频率电场进行离子封闭的保罗阱。由一个双曲面截面的环形电极和上下一对端电极构成。封闭在真空池内的离子，通过高频电压扫描，将离子按m/z从池中引出进行检测。 离子阱质谱仪是一种低分辨时间可以进行msn的测定。而且价格比其它类型的串联质谱