原子力显微镜(AFM)的应用有哪些?

p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}随着科学技术的发展,生命科学开始向定量科学方向发展。大部分实验的研究重点已经变成生物大分子,特别是核酸和蛋白质的结构及其相关功能的关系。因为AFM的工作范围很宽,可以在自然状态(空气或者液体)下对生物医学样品直接进行成像,分辨率也很高。因此,AFM已成为研究生物医学样品和生物大分子的重要工具之一。AFM应用主要包括三个方面:生物细胞的表面形态观测;生物大分子的结构及其他性质的观测研究;生物分子之间力谱曲线的观测。AFM对生物细胞的表面形态观察AFM可以用来对细胞进行形态学观察,并进行图像的分析。通过观察细胞表面形态和三维结构,可以获得细胞的表面积、厚度、宽度和体积等的量化参数等。例如,利用AFM可以对感染病毒后的细胞表面形态的改变、造骨细胞在加入底物(......阅读全文

原子力显微镜为什么是“原子力”

原子力显微镜也是运用了类似的原理。如果我们用一根探针来靠近某个物体的表面,当针尖与表面距离非常小时(一般在几个纳米左右),二者之间会存在一个微弱的相互作用。从图2我们可以看到,针尖与物体表面之间的作用力大小和它们之间的距离直接相关,距离非常近时(一般小于零点几纳米)二者之间的力是相互排斥的,如果它们

原子力显微镜

原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是在1986年由扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Mi-croscope,STM)的发明者之一的Gerd Binnig博士在美国斯坦福大学与Quate C F和Gerber C等人研制成功的一种新型的显微镜[1

原子力显微镜

原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)是一种纳米级高分辨的扫描探针显微镜。原子力显微镜通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的微小针尖接近样品,这时它将与其相互

原子力显微镜的力谱

  原子力显微镜的另一个主要应用(除了成像)是力谱,它直接测量作为尖端和样品之间间隙函数的尖端-样品相互作用力(测量的结果称为力-距离曲线)。对于这种方法,当悬臂的偏转被监测为压电位移的函数时,原子力显微镜的尖端向表面伸出或从表面缩回。这些测量已被用于测量纳米接触、原子键合、范德华力和卡西米尔力、液

原子力显微镜概述

  原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。与常规显微镜比

相原子力显微镜

液相原子力显微镜(liquid cell Force Microscope )对生物分子研究而言,对DNA 基本结构及功能的了解一直是科学家追求目标,早在1953 年 DNA 双螺旋结构的发现后,使人了解遗传讯息如何在这当中传送,并且也将生物研究推展到分子生物的领域,为了解个别分子的功能,许多解析分

原子力显微镜概述

原子力显微镜(AFM)概述最早扫描式显微技术(STM)使我们能观察表面原子级影像,但是STM 的样品基本上要求为导体,同时表面必须非常平整, 而使STM 使用受到很大的限制。而目前的各种扫描式探针显微技术中,以原子力显微镜(AFM)应用是最为广泛,AFM 是以针尖与样品之间的属于原子级力场作用力,所

原子力显微镜简介

  原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。与常规显微镜比

原子力显微镜特点

原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的

原子力显微镜原理

 原子力显微镜是显微镜中的一种类型,应用范围十分广泛。原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器,很多人对原子力显微镜原理不太了解,下面小编就为大家介绍一下原子力显微镜原理、工作模式及应用领域。       原子力显微镜原理       将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固

原子力显微镜简介

  原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。与常规显微镜比

原子力显微镜探针、原子力显微镜及探针的制备方法

原子力显微镜探针、原子力显微镜及探针的制备方法。原子力显微镜探针包括探针本体和设置在探针本体的针尖一侧的接触体,接触体具有连接段和接触段,接触段具有接触端面;接触段为二维材料,且接触端面为原子级光滑且平整的单晶界面。本发明ZL技术的原子力显微镜探针可精确地检测受测样品的各种性质。介绍随着微米纳米科学

原子力显微镜及其应用

      原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。与常规

原子力显微镜原理概述

原子力显微镜原理概述AFM 是在STM 基础上发展起来的,是通过测量样品表面分子(原子)与AFM 微悬臂探针之间的相互作用力,来观测样品表面的形貌。AFM 与STM 的主要区别是以1 个一端固定而另一端装在弹性微悬臂上的尖锐针尖代替隧道探针,以探测微悬臂受力产生的微小形变代替探测微小的隧道电流。其工

原子力显微镜及其应用

 原子力显微镜及其应用      原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品

原子力显微镜的特点

原子力显微镜的特点  1.高分辨力能力远远超过扫描电子显微镜(SEM),以及光学粗糙度仪。样品表面的三维数据满足了研究、生产、质量检验越来越微观化的要求。  3.应用范围广,可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整

原子力显微镜及其应用

原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。与常规显微镜比较,

原子力显微镜工作模式

 原子力显微镜工作模式       原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式:接触模式、非接触模式和敲击模式。       1、接触模式从概念上来理解,接触模式是AFM最直接的成像模式。正如名字所描述的那样,AFM在整个扫描成像过程之中,探针针尖始终与样

原子力显微镜的原理

AFM 是在STM 基础上发展起来的,是通过测量样品表面分子(原子)与AFM 微悬臂探针之间的相互作用力,来观测样品表面的形貌。AFM 与STM 的主要区别是以1 个一端固定而另一端装在弹性微悬臂上的尖锐针尖代替隧道探针,以探测微悬臂受力产生的微小形变代替探测微小的隧道电流。其工作原理:将一个对极微

如何选购原子力显微镜

 1.了解原子探针显微镜的基本原理    扫描隧道显微镜的原理    扫描隧道显微镜是根据量子力学中的隧道效应原理,通过探测固体表面原子中电子的隧道电流来分辨固体表面形貌的新型显微装置。   根据量子力学原理,由于电子的隧道效应,金属中的电子并不完全局限于金属表面之内,电子云密度并不是在表面边界处突

热离子原子力显微镜

热离子原子力显微镜于是到了我们拍西瓜的时候。大家知道,离子运动可以由浓度梯度产生,即传统的扩散项,也可以由电势梯度产生,即电迁移项。此外,因为离子运动产生Vegard应变,从热力学出发,可以预期应力也会诱导离子运动。这一理论基本框架在上世纪70年代由大材料学家John Cahn发展。老先生最著名的工

原子力显微镜的原理

原子力显微镜用一个探针在样品表面移动,根据探针的振动在测定样品表面的起伏。这就类似你用手触摸感受物体表面的光滑程度,所以当然不需要样品导电。

原子力显微镜探针简介

  原子力显微镜(AFM),是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。首台原子力显微镜在1985年研发成功,其模式可分为接触模式和轻敲模式等多种模式。AFM探针由于应用范围仅限于原子力显微镜,属于高科技仪器的耗材,应用领域不广,全世界的使用量也不多。主要的生产厂家分布在德国,瑞士,保加

原子力显微镜测量架构

原子力显微镜测量架构AFM 的探针一般由悬臂梁及针尖所组成,主要原理是由针尖与试片间的原子作用力,使悬臂梁产生微细位移,以测得表面结构形状,其中最常用的距离控制方式为光束偏折技术。AFM 的主要结构可分为探针、偏移量侦测器、扫描仪、回馈电路及计算机控制系统五大部分。AFM 探针长度只有几微米长,探针

原子力显微镜的原理

原子力显微镜:是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时,其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲,偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表

原子力显微镜工作原理

  原子力显微镜(AFM)是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。原子力显微镜自从问世以来在生物学研究中有其不可替代的作用,以其样品制备简单,可在多种环境中运作,高分辨率等优势,成为生命科学研究中不可缺少的工具。   原子力显微镜工作原理:   通过检测待测样品表面和一个微型

原子力显微镜的好处

我们前面已经提到,原子力显微镜的测量依靠的是针尖与物体表面之间的相互作用,而这种相互作用是广泛存在于各种分子或者原子之间的,所以原子力显微镜可以直接测量几乎各种表面的结构而不需要像电子显微镜那样做特殊的样品处理,同时原子力显微镜也不像电子显微镜那样需要一个高真空的环境。这不仅节省了大量的时间精力,而

生物用原子力显微镜

  生物用原子力显微镜是一种用于化学、生物学、材料科学领域的计量仪器,于2008年5月23日启用。  技术指标  X、Y轴水平扫描范围:≥100 μm Z轴范围:≥15 μm 噪音水平:1nm 针尖定位噪音水平(闭环下)X-Y方向:<0.2 nm RMS Z方向:<0.035 RMS 激光: 850

原子力显微镜用胶

原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的微小针尖接近样品,这时

原子力显微镜成像模式

  原子力显微镜的主要工作模式有静态模式和动态模式两种。在静态模式中,悬臂从样品表面划过,从悬臂的偏转可以直接得知表面的高度图。在动态模式中,悬臂在其基频或谐波或附近振动,而其振幅、相位和共振与探针和样品间的作用力相关,这些参数相对外部参考的振动的改变可得出样品的性质。  接触模式  在静态模式中,