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Bruker推出高光谱成像系统HI90扩展其红外遥感产品线

佛罗里达州奥兰多,2012年3月12日——在Pittcon 2012上,Bruker公司成功展出其在去年6月推出的新型HI 90傅立叶变换中红外光谱仪。 新型的Bruker高光谱成像系统HI90是以焦平面阵列探测器和迈克尔逊干涉仪结合为基础的远程化学传感成像系统。数组中的每个像素都记录了相应的视图的干涉。 经傅立叶变换得到的每个像素的频谱都包含图像中每一个点的红外特征。HI 90系统允许远程快速识别、定量和可视化潜在的有害气体。 HI 90高光谱成像仪 HI 90高光谱成像仪由于其阵列探测器,可以同时测量所有的像素,比传统扫描系统连续记录每个像素的光谱快1000倍。在布鲁克众多远程传感产品线中,新的HI 90代表一种新的超高性能的高光谱成像系统,这其中也包括为国土安全和科学应用服务的红外气体扫描成像系统SIGIS 2,mil-spec 360度扫描的立式检测器RAPID,以及应用于......阅读全文

Bruker在Pittcon 2012上推出最新高性能分析仪器和解决方案

  2012年3月12日—在Pittcon 2012展会上,Bruker公司宣布推出几款用于研究、工业生产和应用市场的新产品,灵敏度、专一性和生产率大幅提高,为研究分析带来了信心,同时推动乐高分子领域和材料的研究应用。在Pittcon 2012展会期间Bruker公司推出的新产品包括:io