反射电子能量损失谱应用于固体光学性质测量的研究
第一章固体的光学性质作为材料的重要基本物理性质之一,一直是各个尺度材料性质的研究热点。固体的光学常数,一方面反映了材料对外界宏观电场的响应,联结了外场E和局域电场Eloc的数学关系。另一方面,固体光学常数在不同波段的响应特性包含了固体丰富的微观量子态信息,比如作用于红外区间的光子-声子、电子-电子声子相互作用,可见光波段到真空紫外波段的带内跃迁、带间跃迁、激子激发以及等离激元激发,以及更高的x-ray范围反应原子内壳层结构的电离过程。实验上,不管是宏观上研究材料的极化性质,还是微观上将材料中处于低能级(带)的电子激发到更高能级(带),我们既可以采用光子也可以采用电子作为探针研究材料的光学常数。本章我们从基本的电磁理论出发,介绍了光学常数相关的基本理论并推导了光子和电子入射材料所对应的材料介电函数之间的关系。在此基础上我们介绍了目前基于光子和电子的光学常数测量现状、评价方法。最后我们重点介绍了反射电子能谱法测量光学常数的研究现状,......阅读全文
反射电子能量损失谱应用于固体光学性质测量的研究
第一章固体的光学性质作为材料的重要基本物理性质之一,一直是各个尺度材料性质的研究热点。固体的光学常数,一方面反映了材料对外界宏观电场的响应,联结了外场E和局域电场Eloc的数学关系。另一方面,固体光学常数在不同波段的响应特性包含了固体丰富的微观量子态信息,比如作用于红外区间的光子-声子、电子-电子声
电子能量损失谱法的性质
由于低原子序数元素的非弹性散射几率相当大，因此EELS技术特别适用于薄试样低原子序数元素如碳、氮、氧、硼等的分析。它的特点是：分析的空间分辨率高，仅仅取决于入射电子束与试样的互作用体积；直接分析入射电子与试样非弹性散射互作用的结果而不是二次过程，探测效率高。一般来说，X射线波谱仪（XWDS）的接收效
关于电子能量损失谱法的性质介绍
由于低原子序数元素的非弹性散射几率相当大，因此EELS技术特别适用于薄试样低原子序数元素如碳、氮、氧、硼等的分析。它的特点是：分析的空间分辨率高，仅仅取决于入射电子束与试样的互作用体积；直接分析入射电子与试样非弹性散射互作用的结果而不是二次过程，探测效率高。一般来说，X射线波谱仪（XWDS）的接
电子能量损失谱
电子能量损失谱（ Electron energy-loss spectroscopy, EELS）入射电子穿透样品时，与样品发生非弹性相互作用，电子将损失一部分能量。如果对出射电子按其损失的能量进行统计计数，便得到电子的能量损失谱。由于非弹性散射电子大都集中分布在一个顶角很小的圆锥内，适当地放置探头
电子能量损失谱－的简介
电子能量损失谱 (EELS) 是测量电子在与样品相互作用后的动能变化的一系列技术。该技术用于确定样品的原子结构和化学特性，包括：元素的种类及数量、元素的化学状态以及元素与近邻原子的集体相互作用。
电子能量损失谱仪的简介
中文名称电子能量损失谱仪英文名称electronic energy loss spectrometer定 义测量试样非弹性散射电子能量的电子能谱仪。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
反射电子能量损失能谱学中的Monte－Carlo方法
最近几十年随着纳米材料研究的兴起与发展,材料表面与其所处的环境相互作用所导致的表面性质越来越吸引研究者的目光。一大批专门表征材料表面的分析手段被发明,而对这些表面分析手段的进一步研究,逐渐成为物理领域中的一个重要分支-表面分析科学。在表面分析领域的种种表征手段中,表面电子能谱分析技术应用相当广泛。表
简述电子能量损失谱法的定义
电子能量损失谱分析简称EELS（Electron Energy Loss Spectroscopy）是利用入射电子束在试样中发生非弹性散射，电子损失的能量DE直接反映了发生散射的机制、试样的化学组成以及厚度等信息，因而能够对薄试样微区的元素组成、化学键及电子结构等进行分析。
关于电子能量损失谱法的简介
电子能量损失谱 (EELS) 是测量电子在与样品相互作用后的动能变化的一系列技术。该技术用于确定样品的原子结构和化学特性，包括：元素的种类及数量、元素的化学状态以及元素与近邻原子的集体相互作用。部分技术包括：光谱、能量过滤透射电子显微术 (EFTEM) 和DualEELS
关于电子能量损失谱法的原理介绍
当电子穿过样品时，它们会与固体中的原子相互作用。许多电子在穿过薄样品时不会损失能量。一部分在与原子相互作用时会发生非弹性散射并损失能量。这会让样品处于激发态。材料可通过分析通常以可见光子、X 射线或俄歇电子形式存在的能量实现去激发。 入射电子与样品相互作用时，能量和动量都会发生改变。您可以在分
电子束能量损失及能谱演化研究获进展
据悉，太阳高能电子一般由耀斑磁重联或日冕激波加速产生，是太阳硬X射线以及射电辐射的源，硬X射线和射电辐射的观测特征敏感地依赖高能电子束的能量分布。一般情况下，辐射被观测到的地方并不是电子被加速的地方，高能电子束沿着耀斑环或开放磁力线运动，与背景等离子体相互作用损失其能量并产生辐射。因此，研究电子
电子能量损失TEM
电子能量损失 通过使用采用电子能量损失光谱学这种先进技术的光谱仪，适当的电子可以根据他们的电压被分离出来。这些设备允许选择具有特定能量的电子，由于电子带有的电荷相同，特定能量也就意味着特定的电压。这样，这些特定能量的电子可以与样品发生特定的影响。例如，样品中不同的元素可以导致射出样品的
电子能量损失谱由哪几部分组成？
电子能量损失谱由哪几部分组成？EELS和HREELS是不同的系统。前者一般配合高分辨透射电镜使用，而且最好是场发射枪和能量过滤器。一般分辨率能达到0.1eV－1eV，主要用于得到元素的含量，尤其是轻元素的含量。而且能够轻易得到相应样品区域的厚度。而HREELS是一种高真空的单独设备，可以研究气体分子
电子能量损失谱由哪几部分组成？
EELS和HREELS是不同的系统。前者一般配合高分辨透射电镜使用，而且最好是场发射枪和能量过滤器。一般分辨率能达到0.1eV－1eV，主要用于得到元素的含量，尤其是轻元素的含量。而且能够轻易得到相应样品区域的厚度。而HREELS是一种高真空的单独设备，可以研究气体分子在固体表面的吸附和解离状态。
能量代谢测量技术应用于环境医学研究
近日，北京易科泰生态技术有限公司工程师与中国军事医学科学院卫生学环境医学研究所一起，对公司提供的实验动物呼吸代谢测量系统进行了实验测试培训，该系统可以监测实验动物的呼吸耗氧量、二氧化碳产量，呼吸商、能量消耗等，助力于环境医学、营养与健康、实验动物药理学研究等。整套仪器设备： 可定制各
为何使用光学显微镜研究固体性质？
显微观察在于通过对样品图像放大进而达到揭示单纯肉眼所不可见的信息的目的。当在光学显微镜上增加一个偏光滤镜其便成为可用来确定晶体光学性质和开展显微化学实验的分析工具。不同固体结构有着不同光学性质，如折射率、色泽、消光角、光色散的都可同光光学结晶的方法快速确定。光学性质由晶体自身的晶体结构和
简述透射电子显微镜电子能量损失
通过使用采用电子能量损失光谱学这种先进技术的光谱仪，适当的电子可以根据他们的电压被分离出来。这些设备允许选择具有特定能量的电子，由于电子带有的电荷相同，特定能量也就意味着特定的电压。这样，这些特定能量的电子可以与样品发生特定的影响。例如，样品中不同的元素可以导致射出样品的电子能量不同。这种效应通
特征能量损失峰
光电子经历非弹性散射，会损失固定能量，这样在主峰高结合能端形成伴峰，称为特征能量损失峰。对于固体样品，最重要的此类峰是等离子损失峰。
能量代谢测量技术应用于生物医学健康研究（一）
健康是人类永恒的话题。新冠疫情的爆发让所有人都倍加关注健康问题。新冠肺炎致死率较高的多为患有基础代谢性慢性病患者以及代谢衰退的老年个体，而健康的青少年却很少死亡，因而有专家提出可以通过提高能量代谢水平来预防抵抗冠状病毒。据科学家推测，新冠病毒大概率来自具备高能量代谢率而不发病的蝙蝠，但具体起源于何种
能量代谢测量技术应用于生物医学健康研究（三）
类似以果蝇为模型的案例见：Dietary nutrient balance shapes phenotypic traits of Drosophila melanogaster in interaction with gut microbiota. Y.Henry, J.Overgaard, H.
能量代谢测量技术应用于生物医学健康研究（二）
文中利用 SSI 能量代谢测量技术监测佩戴假肢参与者的 静息氧气消耗和二氧化碳产量，以及不同行走速度、不同姿势角度的代谢参数。呼吸交换比率（RER）均小于1，表示有氧代谢，并用来评估人体移动的能量投入成本，得到人体运 动、稳态、站立能量代谢率，以及人体运动的静能值和比率。研究结果表明
关于透射电子显微镜的电子能量损失技术的介绍
通过使用采用电子能量损失光谱学这种先进技术的光谱仪，适当的电子可以根据他们的电压被分离出来。这些设备允许选择具有特定能量的电子，由于电子带有的电荷相同，特定能量也就意味着特定的电压。这样，这些特定能量的电子可以与样品发生特定的影响。例如，样品中不同的元素可以导致射出样品的电子能量不同。这种效应通
电子天平测量固体的密度值
电子天平测量固体的密度值（一） 天平在日常实验室进行物质测量和分析时，经常会使用电子天平和密度测试组件进行固体密度的测量。 首先我们来简单了解使用电子天平进行测量固体密度的原理：1.物体的密度为其质量与体积的比值。2.密度测量是依据阿基米德原理来实现的。该原理说明：浸入液体中的每一个固体失去
电子天平固体密度测量的原理
在日常实验室进行物质测量和分析时，经常会使用电子天平和密度测试组件进行固体密度的测量。利用科恩KERN电子天平EMB200-3V可测量密度大于辅助液体密度的固体，密度小于辅助液体密度的固体，液体密度，多孔材料（如：渗油，轴承材料）的密度。今天向大家简单介绍使用科恩KERN电子天平进行固体密度测
电子天平测量固体密度的原理
首先我们来简单了解使用电子天平进行测量固体密度的原理： 1.物体的密度为其质量与体积的比值。 2.密度测量是依据阿基米德原理来实现的。该原理说明：浸入液体中的每一个固体失去的重量等于它所排开的液体的重量。 3.固体密度测量通常是使用一种已知密度液体（例如：水或乙醇）作为辅助液体，通
电子天平测量固体密度的方法
对于电子天平我相信大家并不陌生，生活中我们也常常用到它，那么对于电子天平是如何没量固体密度的呢？下面来看看电子天平测量固体密度的方法，要忘记喔，而且有些注意点要注意到的。电子天平测量固体密度的方法：1、打开电子天平的左侧门或者右侧门取下秤盘，将密度托架插入电子天平中。2、将支架放在托架上方合适的位置
电子天平测量固体密度的原理
首先我们来简单了解使用电子天平进行测量固体密度的原理： 1.物体的密度为其质量与体积的比值。 2.密度测量是依据阿基米德原理来实现的。该原理说明：浸入液体中的每一个固体失去的重量等于它所排开的液体的重量。 3.固体密度测量通常是使用一种已知密度液体（例如：水或乙醇）作为辅助液体，通
量子与经典方法研究粒子与固体的相互作用
电子显微技术以及电子能谱技术已成为材料表征特别是定量分析的重要工具。作为这些技术的物理基础,电子与固体相互作用的研究对定量解释实验电子显微成像或电子能谱起着至关重要的作用,成为凝聚态物理研究的一个非常重要的研究领域。本论文分别采用经典Monte Carlo方法、波动力学方法和玻姆力学方法,从不同角度
薄膜衬底材料中俄歇电子能谱的蒙特卡洛模拟
薄膜材料在现代材料技术中应用广泛。光学镀膜技术中,经常在特定的衬底上沉积一层薄膜,可以改善材料的物理化学性质。许多工业和技术设备都需要覆盖具有特定化学性质的薄膜,薄膜材料具有许多独特的光学与电学性质,这些性质和薄膜本身的制作工艺有关,同时也与薄膜的厚度密切有关。因此,表征纳米量级的薄膜厚度具有十分重
常见表面分析测试技术有哪些
表面分析技术是一种统称，指利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术。 在20世纪60年代超高真空和高分辨高灵敏电