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扫描探针显微镜(SPM s )是用来探测表面性质的仪器家族,是由B inn ig 和Roh rer 等人最早于1982年发明[1]。虽然SPM 在目前可以测量许多表面的其它性质,但是揭示表面形貌一直是它的主要应用目的。SPM 是我们这个时代中最为有力的表面测量工具,其测量表面特征的尺寸可以从原子间距到100微米之间变化。随着1986年原子力显微镜(A FM )的出现[2],相继出现了许多同STM 和A FM 技术相似的新型扫描探针显微镜。主要有扫描隧道电位仪(ST P )、弹道电子发射显微镜(B EE M )、扫描离子电导显微镜(S I C M )、扫描热显微镜(ST h M )、光子扫描隧道显微镜(PSTM )和扫描近场光学显微镜(SNOM )等[3],这些SPM 镜群的出现,极大地拓展了它们的应用空间。以A FM 为代表的SFM (扫描力显微镜)是通过控制并检测针尖2样品间的相互作用力,例如原子间斥力、摩擦力、弹力、范德华力......阅读全文
2013年12月24日， 2013年度北京市电子显微学年会在北京天文馆隆重召开，会上，来自中科院、北京大学、北京工业大学、北京建筑大学、钢铁研究总院等多位专家学者带来了关于电镜在教学科研、纳米材料、生物医药、探伤等方面应用的精彩报告，科扬、FEI、蔡司、布鲁克、牛津
尊敬的各位老师、电镜同行、同学们：您们好！ 为推动北京及周边省市广大电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流，一年一度的新老朋友相互聚会的“2013年度北京市电子显微学年会”定于2013年12月24号，星期二，在北京西直门外大街13