AFM偏振光、干涉

偏振光、干涉

光是一种电磁波，而电磁波是一种横波，只有横波才有偏振现象。其定义为电矢量相对于传播方向以一固定方式震动的光，图1-4为偏振光示意图。

光的偏振现象可以借助于实验装置进行检测。取两块相同的偏振片A、B，将自然光先通过第一块偏振片A，此时自然光也变成为偏振光，但因为人眼无法辨别所以就需要第二块偏振片B。将偏振片A固定，偏振片B放置于与A同一水平面，转动偏振片B，即可发现透射光的强度随着B的转动而出现周期性的变化，每转90°光强度会从最大逐渐减弱至最暗，接着再转动90°光强度会从最暗逐渐增强到最亮，故将偏振片A叫做起偏器，偏振片B叫做检偏器。

干涉即为两列相干波（光）在相互作用区叠加是产生的光强度加强或减弱现象。光的干涉主要分为双缝干涉和薄膜干涉。双缝干涉为两个独立的光源发出的光不是相干光,双缝干涉的装置使一束光通过双缝后变为两束相干光,在光屏上相通形成稳定的干涉条纹。在双缝干涉实验中,光屏上某点到双缝的路程差为半波长的偶数倍时，该点出现亮条纹；光屏上某点到双缝的路程差为半波长的奇数倍时,该点出现暗条纹如图1-5（a）为杨氏双缝干涉。薄膜干涉为让一束光经薄膜的两个表面反射后,形成的两束反射光产生的干涉现象叫薄膜干涉。在薄膜干涉中，前、后表面反射光的路程差由膜的厚度决定,所以薄膜干涉中同一明条纹（暗条纹）应出现在膜的厚度相等的地方。由于光波波长极短,所以薄膜干涉时，介质膜应足够薄，才能观察到干涉条纹