AFM的原理及在高分子材料表征中的用途

1、1986年第一台原子力显微镜（Atomic Force Microscope， AFM）诞生，弥补了扫描隧道显微镜（STM）不能观测非导电样品的缺陷。

2、AFM基本原理：原子力显微镜是将一个队微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一个微小的针尖，其尖端原子与样品表面原子间存在及极微弱的排斥力，利用光学检测法或隧道电流检测法，通过测量针尖与样品表面原子间的作用力获得样品表面形貌的三维信息。

3、AFM成像模式：接触式、非接触式和共振模式。

4、AFM在高分子材料中的常见用途：

（1）观察膜表面的形貌和相分离，研究高聚物表面性能：比如表征材料表面粗糙度，研究共混物相分离”海岛“结构，测量材料表面的纳米摩擦力。

（2）分析高聚物结晶形态，研究水胶乳成膜过程。

（3）研究单链高分子结构，表征高分子链构象，研究高分子单链性能。

（4）研究高聚物与纳米颗粒的相互作用。