AFM的Contact模式

a）点击实验方案选择图标 ，打开实验方案选择；

b）选择实验具体模式，Contact Mode；

c）选择实验环境，Air；d）进入实验界面；e

）根据上面提到的步骤，调整激光，并将Head靠近样品表面以看清样品；

f）点击“Check Parameters”图标，进入实验参数设置；

g）设定以下扫描参数：Scan size小于1 um，X offset和 Y offset设为 0，Scan angle 设为0；

h）点击Engage 进针；

i）进针结束开始扫图。将 Scan size 设置成要扫的形貌大小；

j）观察 Height Sensor 图中观察 Trace和Retrace 两条曲线的重合情况；

k）优化 Integral gain和 Proportional gain。一般的调节方法为：增大Integral gain，使Trace和Retrace曲线开始震荡，然后减小 Integral gain直到震荡消失，接下来用相同的办法来调节 Proportional gain。通过调节增益来使两条扫描线基本重合并且没有震荡；

l）优化Setpoint。在Contact模式中，调节Deflection setpoint直到Trace和Retrace两条扫描线基本一致；

m）调节扫描范围和扫描速率。随着扫描范围的增大，扫描速率必须相应降低。大的扫描速率会减少漂移现象，但一般只用于扫描小范围的很平的表面；

n）如果样品很平，可以适当减小Z Range的数值，这将提高Z方向的分辨率。

2.8 存图。对扫描图像存图，通过可以设置文件名及存图路径。

2.9 退针。点击Withdraw，退针。

2.10 关机

a）关闭Nanoscope 软件；

b）关闭Nanoscope 控制器；

c）关闭Dimension Stage控制器；

d）关闭计算机和显示器。