HaverCPA（光学视图颗粒分析系统）升级产品重装登场

        在传统的颗粒分析领域，Haver&Boecker作为筛分机的制造商，一直引领着行业的发展。90年代早期，Haver&Boecker率先在这一领域进行创新革命，通过引入强大的计算机技术，揭开了颗粒分析领域发展的全新历史篇章。发展到现在，Haver CPA已经成为目前科技发展的最尖端产品。从标准实验室仪器到工业定制品，从药物、食品、矿石、塑料到工业肥料，Haver CPA已经拥有最广泛的应用。

        由Haver & Boecker推出的HAVER CPA测量系统是您进行颗粒粒径及其粒形精确分析的首选。
        HAVER CPA测量仪器基于数字图像处理的原理。高分辨率的线性摄像机以LED光阵列为背景对自由落体颗粒进行拍照，其记录频率最高可达每秒28,000次。CPA将所有的扫描整合起来，形成了一个连续不间断的数据记录。在测量的同时，颗粒投射的阴影在HAVER REAL TIME中得到实时评估。每秒可对高达10,000个颗粒进行检测分析，并且可以得到测量范围的所有颗粒的粒径和粒形的结果。因此，HAVER CPA是普通振筛机的理想替代品。 

        HAVER CPA CONVEYOR主要是为分析长条的物料而研发的，这是由于图像分析时物料重叠或旋转会带来测量结果的偏差。在使用CPA CONVEYOR时，物料被加载到一个计量通道上而后转运到一高速运转的传送带上。物料的速度差异使其得到有效分离，并在扫描分析前，将其带入稳定的方向运转。
        HAVER CPA CONVEYOR的测量在真正意义上消除了颗粒在测量过程中随机旋转所带来的误差。

        多种规格的HAVER CPA，可以满足实验室、工业以及科研等广大领域的使用需求。所有CPA系统均具有结果的高重现性、极其省时、可提供其它粒形参考值以及自动化方案等特点，让您尽享成本降低和效率提高的双重利益！

        欢迎来电咨询或索取HAVER CPA样本！