HgCdTe2IRFPA成像器件光谱响应率标定方法比较与误差分析

摘　要: 　红外焦平面成像器件的光谱响应率是天基红外遥感的基本物理指标。为了准确应用该项参数去除器件在制造工艺中的不均匀性对产品质量的影响, 必须在系统使用之前对其重新标定, 获取真实值。总结了目前较为普遍的IRPFA 产品光谱响应率标定方法, 通过比较选择标准代替法对产品进行标定。根据所得到测量数据, 分析了其可能存在的误差, 总结了在对IRPFA 产品进行标定时应注意的问题。同时提出了一种调整积分时间的方法, 以弥补有些波段标定黑体辐射功率过低带来误差过大的缺陷。