JEOL在Pittcon2019展出下一代台式扫描电子显微镜JCM7000

　　分析测试百科网讯2019年3月17日至21日，Pittcon 2019在美国宾夕法尼亚州费城会议中心举行。在本届展会上，日本电子（JEOL）不仅推出了JMS-TQ4000GC三重四极杆质谱仪系统（相关链接：JEOL在Pittcon 2019推出三重四极杆质谱仪JMS-TQ4000GC），还展示了刚发布的第四代台式扫描电子显微镜（SEM）JCM-7000系列。这款产品体积小巧，却可提供全尺寸SEM全面的强大功能。

台式扫描电子显微镜JCM-7000

　　新的JEOL NeoScope（型号JCM-7000）将在位于费城的Pittcon 2019展位＃3035展出。 这款台式扫描电子显微镜的先进技术和功能使得任何技术水平的用户都可以在几分钟内获得出色的SEM图像和元素分析结果。

JEOL日本电子展台

　　 NeoScope可产生高达100,000倍的高放大倍率和大景深，配有大样品室，高低真空模式，二次和背向散射电子探测器，实时三维成像，高度先进的自动功能，以及通过“实时”分析添加完全嵌入式EDS的选项。

　　“Zeromag”无缝导航

　　这款第4代台式SEM采用了“Zeromag”功能，这是首次在全尺寸JEOL钨灯丝扫描电子显微镜中引入的功能。显微镜无缝导航样品，自动聚焦于感兴趣的区域，快速实现高分辨率的SEM成像和分析。

　　实时分析

　　使用嵌入式能量色散X射线探测器（EDS），可以自动检测并实时显示EDS光谱和构成样品的主要元素。

　　实时3D成像

　　除了实时SEM图像，NeoScope还可以显示样品表面的实时3D图像，包括样品表面形貌和深度信息。

　　自动操作功能

　　基于样品类型和应用的自动条件设置可确保高质量的结果并提高生产率。高度先进的自动功能可生成出色的保真度图像，可进行高分辨率的SEM成像和分析。自动化功能包括对焦，对齐，对比度和亮度，便于操作和应用于各种样品。

　　任何人可使用的SEM

　　NeoScope满足了简单操作的小型扫描电子显微镜的需求，同时提供了高端仪器的几个关键性能特征。NeoScope是学校理想的教学工具，也是质量控制筛选仪器以及灵活的小型研究显微镜。NeoScope由JEOL和尼康及其附属公司销售。