发布时间:2022-09-23 20:14 原文链接: X射线荧光光谱法痕量元素测定

  在物质成分的分析方面主要包括克服基体效应的基础研究和扩大分析应用范围两方面。现在,基体效应的数学校正法正在通过校正模型的更深入研究和计算机软件的进一步开发,向更高水平的方向发展。而且,随着制样技术的逐步自动化,各种物理化学前处理方法的改进,对于扩大分析含量范围,包括进一步开展痕量元素测定等工作,在各应用部门中仍然有着发展的前景。

  在化学态研究方面,随着固体电子能谱和量子化学理论的发展和电子计算机在X射线能谱解释中的应用,这种研究正在继续朝着定量计算的方向前进,不仅在晶体物质方面,而且在非晶型物质方面,包括高分子化合物、配位化合物及其他溶液、非单原子气体等,其应用将与日俱增。