X射线荧光光谱法痕量元素测定
在物质成分的分析方面主要包括克服基体效应的基础研究和扩大分析应用范围两方面。现在，基体效应的数学校正法正在通过校正模型的更深入研究和计算机软件的进一步开发，向更高水平的方向发展。而且,随着制样技术的逐步自动化,各种物理化学前处理方法的改进，对于扩大分析含量范围，包括进一步开展痕量元素测定等工作，在各应用部门中仍然有着发展的前景。 在化学态研究方面，随着固体电子能谱和量子化学理论的发展和电子计算机在X射线能谱解释中的应用,这种研究正在继续朝着定量计算的方向前进，不仅在晶体物质方面，而且在非晶型物质方面，包括高分子化合物、配位化合物及其他溶液、非单原子气体等，其应用将与日俱增。......阅读全文
X射线荧光光谱法痕量元素测定
在物质成分的分析方面主要包括克服基体效应的基础研究和扩大分析应用范围两方面。现在，基体效应的数学校正法正在通过校正模型的更深入研究和计算机软件的进一步开发，向更高水平的方向发展。而且,随着制样技术的逐步自动化,各种物理化学前处理方法的改进，对于扩大分析含量范围，包括进一步开展痕量元素测定等工作，
X射线荧光光谱法测定土壤样品中的24种主次量及痕量元素
近年来随着国家对矿产资源调查工作的进一步重视和投入的不断加大，地质行业得到了飞速发展，作为基础地质调查工作的多目标区域地球化学调查项目顺势启动。地质实验测试工作作为地质工作的“眼睛”，在多目标区域地球化学调查项目中发挥着关键的技术支撑作用。同时，它也面临着重大的机遇和挑战，要求分析测试工作具有更高的
基于X射线荧光光谱法测定饰品中的有害元素
有害元素对人体的危害和环境的污染日益受到重视，世界各国都在研究制定相关法律法规对其进行控制和检测。在首饰业中，我国亦制定了相关国家强制性标准对饰品中有毒有害物质的使用做出了限量的规定。目前多采用电感耦合等离子体发射光谱法（即ICP-AES法）对首饰中的有害元素进行检测，但该方法具有破坏性，因此，建立
X射线荧光光谱法测定钨、钼、锡矿中的成矿元素
钨、钼、锡矿产资源是我国重要的矿产资源，其矿产中常常伴生铜、铅、锌、铋等重金属元素，成矿元素钨、钼、锡经典分析方法多为单元素分析，且步骤繁琐，流程长，耗费了大量的人力、物力、财力。本文研究的主要目的是为适应当前国家矿产勘查工作的需要，缩短分析周期，提高效率，建立钨、钼、锡矿成矿元素的X射线荧光光谱分
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
X射线荧光光谱法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍稀释熔融制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算成相对强度即可得出试样中三氧化钨的含量。此法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的试样。仪器波长色散X射线荧光光谱仪器仪，铑靶X光管(≥3kW)。高温熔
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于
基于X射线荧光的指纹元素成像
中国科学院高能物理研究所王萌研究员 中国科学院高能物理研究所王萌研究员发表主题为“基于X射线荧光的指纹元素成像”的精彩报告。指纹中化学元素可为科学研究和应用提供丰富信息。应用同步辐射X射线荧光仪可分析指纹元素，生成元素成像图。课题组分析了在不同基底上的防晒霜指纹，得到了钛和锌的指纹成像图以及元素比
X射线荧光光谱法的简介
X射线荧光光谱法正是基于以上物理学原理而产生的，从X射线管产生X射线，X射线经过滤或单色化处理入射样品，入射样品X射线与物质相互作用，产生的元素特征X射线荧光，进入探测器记录其强度，能量色散型探测器的各种效应。都有可以遵循的X射线荧光的物理学理论，而这些明确的物理学理论，有大量的规律可循，进而可
X射线荧光光谱法的定义
X射线荧光光谱法是照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子的能量在同一数量级时，核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁，而在内层电子轨道上留下一个空穴，处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴，将过剩的能量以X射线的形式放出，所产生的X射线即为代表各元素特征的X射线荧光谱线。其能量等于原子内壳层电
X射线荧光光谱法的分析
X射线荧光光谱法---能量色散 利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发
X射线荧光光谱法的展望
X射线荧光光谱法 X射线荧光光谱法同其他分析技术一样,不是完美无缺的。在物质成分分析中,它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟,只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的 X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（
X射线荧光光谱法的优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法 首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，
X射线荧光光谱法的应用
质成分分析 ①定性和半定量分析具有谱线简单、不破坏样品、基体的吸收和增强效应较易克服、操作简便、测定迅速等优点，较适合于作野外和现场分析,而且一般使用便携式X射线荧光分析仪，即可达到目的。如在室内使用X射线能谱仪,则可一次在荧光屏上显示出全谱，对物质的主次成分一目了然，有其独到之处。 ② 定量
X荧光光谱法测定镍矿石中的主次元素
采用硝酸钡作为氧化剂,在预氧化阶段将低价态的S转化为硫酸盐,与其它氧化剂相比可更好将硫定量保留在硼酸盐熔剂中,27.8%的S的RSD为0.61%。Tm作为Ni的内标,Ni的分析准确度和精密度得到明显改善。采用(Li2B4O7:LiBO2=12:22)的混合熔剂,准确测定镍矿中的15中主次痕量元素,最
环境水体中痕量元素X射线荧光光谱分析新方法研究
水是地球人类及其它生物赖以生息繁衍的最基本物质之一。随着近代人类社会的巨大进步和现代工农业的飞速发展,环境污染与生态的破坏已成为各国政府和学者面临的重要问题,尤其是水资源与水安全问题持续受到人们广泛关注。环境水体样品来源多样,基体复杂,元素含量范围跨度大,大部分环境影响重要元素含量极低。建立准确、便
X射线荧光光谱法的荧光产额介绍
当一束能量足够大的X射线光子与一种物质的原子相互作用时，逐出一个轨道电子而出现一个空穴，所产生的的空穴并非均能产生特征X射线，还会产生俄歇电子。产生特征X射线跃迁的概率就是荧光产额，俄歇跃迁的概率成俄歇产额。
X射线荧光光谱法的未来展望
X射线荧光光谱法同其他分析技术一样,不是完美无缺的。在物质成分分析中,它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟,只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的 X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（例如选矿流程中的自动
X射线荧光光谱法的详细介绍
利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X射线能谱法(能量色散)。 当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子
全反射X荧光技术在痕量元素检测中的应用
TX2000全反射X荧光光谱仪 高沸点石油化工产品及其衍生物中痕量元素的检测是一项挑战性工作，目前检测手段主要为AAS、ICP-OES、EDXRF等。 样品测量结果与样品前处理息息相关。前处理方法包括稀释样品，灰化法分解样品，湿法分解样品等。但是这些前处理手段都有其不足之处，如高温易挥发元素损失
X射线荧光光谱仪测量元素范围
X射线荧光光谱仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析，包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。轻元素的zui佳检测也通过优激发、检测和真空模式的结合而实现所以成本低。 X射线荧光分析仪测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（
X射线荧光光谱法基本信息介绍
X射线荧光光谱法是照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子的能量在同一数量级时，核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁，而在内层电子轨道上留下一个空穴，处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴，将过剩的能量以X射线的形式放出，所产生的X射线即为代表各元素特征的X射线荧光谱线。其能量等于原子内壳
波长色散x射线荧光光谱法的简介
波长色散x射线荧光光谱法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射线照射试样激发产生各种波长的光，通过晶体衍射进行空间色散，分别测量不同波长的x射线分析线峰值强度，进行定性和定量分析的方法。适用于原子序数4(铍)以上所有化学元素
X射线荧光光谱法的优点有哪些？
与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于进行无损分析等。其次，与原子发射光谱法相比,除轻
X射线荧光光谱法的重要作用
随着大功率 X射线管和同步辐射源的应用、各种高分辨率X射线分光计的出现、计算机在数据处理方面的广泛应用，以及固体物理和量子化学理论计算方法的进步,通过X射线光谱的精细结构（包括谱线的位移、宽度和形状的变化等）来研究物质中原子的种类及基的本质、氧化数、配位数、化合价、离子电荷、电负性和化学键等，已
X射线荧光光谱法XRF样品的要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干； 2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm； 3.检测单元表面尽量平整，且尺寸为4-4.5cm。
能量色散X射线荧光光谱法检测食品中金属元素的研究
食品中的金属元素及其含量多少与人体诸多代谢功能密切相关。食品中所含的常量、微量元素能够维系身体正常新陈代谢等生命活动,当摄入过多的人体所必需的金属元素时,也会产生毒性作用影响身体健康。目前检测食品中金属元素的方法很多,主要有原子吸收法、电感耦合等离子体发射光谱法、电感耦合等离子体质谱法、高效液相色谱
金属元素分析方法
金属元素分析是指对金属元素的含量、组成、成分及其它性质进行测定的方法。主要包括对金属中金属元素的总量，包括铜、铝、铅、锌、镉等的测定，对金属元素含量及其成分的分析。金属元素分析主要是用来分析金属中所含的各种元素。常用的方法有：原子吸收光谱法；原子荧光光谱法；电感耦合等离子体发射光谱法；质谱法；X
X射线荧光（XRF）：理解特征X射线
什么是XRF？ X射线荧光定义：由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级（或荧光）X射线。这种现象广泛应用于元素分析。 XRF如何工作？ 当高能光子（X射线或伽马射线）被原子吸收，内层电子被激发出来，变成“光电子”，形成空穴，原子处于激发态。外层电子向内层跃迁，发射出能量等于两级能