中文名称
X射线荧光分析法
英文名称
X-ray fluorescence analysis
定 义
对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据;谱线的强度是定量分析的依据。
应用学科
机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理(三级学科)