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中文名称X射线荧光分析法英文名称X-ray fluorescence analysis定 义对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据；谱线的强度是定量分析的依据。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）......阅读全文
中文名称X射线荧光分析法英文名称X-ray fluorescence analysis定 义对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据；谱线的强度是定量分析的依
原子发射与原子吸收光谱法是利用原子的价电子激发产生的特征光谱及其强度进行分析。 X- 射线荧光分析法则是利用原子内层电子的跃迁来进行分析。 X 射线是伦琴于 1895 年发现的一种电磁辐射，其波长为 0.01 ～ 10nm。在真空管内用电加热灯丝（钨丝阴极）产生大量热电子，热电子被高压（万伏）加速撞
中文名称X射线分析法英文名称X-ray analysis定 义测量试样在各种条件下所发射的特征X射线，或者是测定试样的X射线衍射图形，包括X射线衍射分析法、发射X射线谱法和吸收X射线谱法三类。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学
X射线衍射分析。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和
（1）适应范围广 除了H，He，Li，Be外，可对周期表中从5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。 （2）操作快速方便 在短时间内可同时完成多种元素的分析。 （3）不受试样形状和大小的限制，不破坏试样，分析的试样应该均匀。 （4）灵敏度偏低 一般只能分析含量大于0.01%的
利用原级 X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。在成分分析方面,X射线荧光光谱分析法是现代常规分析中的一种重要方法。 简史 20世纪20年代瑞典的G.C.de赫维西和R.格洛克尔曾先后试图应用此法从事定量分析，但由于当时记录
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
中文名称X射线荧光发射光谱仪英文名称X-ray fluorescent emission spectrometer定 义用于测量荧光X射线的X射线光谱仪。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
如今，化学和医药产品的质量稳定有着非常重要的意义。一些干扰性的影响因素，例如生产设备中出现有害沉积物，不仅会影响产品质量，还会损坏生产设备的零部件。而在现代化分析技术的帮助下，用户在几分钟内即可完成故障的分析诊断。 在流程工艺设备中总是不断出现由有害沉积物在生产设备中的沉积而带来的故障和干