X荧光硅铝分析仪 技术指标：
1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100
2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%
3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。
4、分析时间: n*60秒（n为1～5自然数）。
5、使用条件: 供电AC200V～240V；环境温度0～40℃；相对湿度<85%（30℃）。
6、整机功耗: <30W
7、整机尺寸：468mm*368mm*136mm
8、整机重量：13.8kg