X荧光硅铝分析仪的技术指标
X荧光硅铝分析仪 技术指标：1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。4、分析时间: n*60秒（n为1～5自然数）。5、使用条件: 供电AC200V～240V；环境温度0～40℃；相对湿度<85%（30℃）。6、整机功耗: <30W 7、整机尺寸：468mm*368mm*136mm 8、整机重量：13.8kg......阅读全文
X荧光硅铝分析仪的技术指标
X荧光硅铝分析仪 技术指标：1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。4
X荧光硅铝分析仪的技术指标
技术指标 1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100% 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08% 3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤15%,例如生料中SiO2:10%～25%，通过标定工作曲线选定。
X荧光硅铝分析仪的性能特点
1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。3、分析时间短，1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合节能要求。 6、数据存储量大，含量结果、仪器
X荧光硅铝分析仪的主要特点
主要特点 1、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。 2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用为方便。 3、分析时间短，1分钟即能测出SiO2%、Al2O3%。 4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。 5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合环保节能要求。 6、数据存
X荧光硅铝分析仪的主要用途
X荧光硅铝分析仪是采用X射线激发样品，检测所生产的二次特征X射线，即可以获得硅铝定性和定量分析结果。产品广泛应用于冶金、采矿、建材等工业中。用于水泥厂中，主要测量生料、熟料、石灰石、粘土等物料中的SiO2、Al2O3的百分含量。由于它的分析速度快（1分钟），因此可实时监控生产过程中SiO2、Al2O
简介X荧光分析仪的技术指标
分析范围: 0.01%～100% 分析精度：标准偏差SSO3≤0.04%、SCaO≤0.10% 样品量: 2～3ml(相当样品深度3mm～4mm)； 分析宽度: CaO（SO3）: min~max≤15%,例如水泥中CaO :37%～52%，通过标定工作曲线选定。 测量时间: 60、12
X荧光多元素分析仪技术指标
1. 分析范围：CaO、Fe2O3、SiO2、Al2O3、SO3：0.01%~100%；2. 分析宽度：CaO≤7%、Fe2O3≤5%、SiO2≤5%、Al2O3≤7%、SO3≤5%，例如生料中CaO%：38.5%～45.5%，Fe2O3%：0.01%～5.00%，SiO2%：10.00%～15.0
X荧光钙铁分析仪的技术指标
1. 分析范围： CaO、Fe2O3分析范围均可调节，通过标定工作曲线的方法选定。 2. 分析范围宽度： CaO%max—CaO%min≤7% Fe2O3 % max—Fe2O3 % min≤5%； 例如生料：CaO：39%~46%，Fe2O3：0.01~5%。 3. 固
X荧光钙铁元素分析仪技术指标
X荧光钙铁元素分析仪技术指标1. 分析范围: CaO、Fe2O3: 0.01%~99%；2. 分析宽度： (CaO、Fe2O3) %max~ (CaO、Fe2O3)%min≤5%，例如水泥中SO3：0.01%~5%, CaO：38%~43%，Fe2O3:1%~6%，通过标定工作曲线选定；3. 分析精
X荧光钙铁元素分析仪技术指标
1. 分析范围: CaO、Fe2O3: 0.01%~99%；2. 分析宽度： (CaO、Fe2O3) %max~ (CaO、Fe2O3)%min≤5%，例如水泥中SO3：0.01%~5%, CaO：38%~43%，Fe2O3:1%~6%，通过标定工作曲线选定；3. 分析精度！标准偏差SCaO≤0.3
X荧光硫元素分析仪的主要技术指标
1.测硫范围: 7ppm～5%;2.精密度: a重复性(r):＜0.02894（X+0.1691);b再现性(R):＜0.01215（X+0.05555）; 3.样品量: 2～3ml(相当样品深度3mm～4mm);4.测量时间: 30、60、90、120、150秒,任意设定;5.单样品自动测量,测量
X荧光钙铁分析仪的主要技术指标
1. 分析范围： CaO、Fe2O3：0.01%~100% ； 2. 分析宽度： CaO（Fe2O3）%max~ CaO（Fe2O3）%min≤5%，例如生料中CaO：38%~43%，Fe2O3：1%~6%，通过标定工作曲线选定； 3. 分析精度：标准偏差SCaO≤0.10%、SFe2O3≤
单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理
由低功率X射线管发射出的多波长X荧光，经个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦，并将具有合适波长可以激发硅元素K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线，通过第二个双曲面弯晶光学元件仅收集由硅元素激发出的波长为0.713nm的KαX射线荧光，并被
X荧光硫钙铁分析仪主要技术指标
X荧光硫钙铁分析仪主要技术指标：1. 分析范围：SO3、CaO、Fe2O3：0.01%~100% ;2. 分析宽度：SO3（CaO、 Fe2O3）%max~SO3(CaO、Fe2O3)%min≤5%，例如水泥中SO3：0.01%~5%，CaO：38%~43%，Fe2O3：1%~6%，通过标定工作曲线
X荧光仪的技术指标
分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30µm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用
单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理和用途
单波长X荧光硅含量分析仪工作原理： 由低功率X射线管发射出的多波长X荧光，经个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦，并将具有合适波长可以激发硅元素K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线，通过第二个双曲面弯晶光学元件仅收集
单波长X荧光硅含量分析仪的主要用途
石油炼制过程中，有时会加入一些含有硅化合物的实际，或在燃油炼制完成后将一些废溶剂掺入到汽油造成汽油中含有硅元素。汽油中，即使硅含量很低，但仍然会造成像氧气传感器失效，以及发动机故障。长期使用劣质燃油，胶质和无法完全燃烧的物质会在气门、进气道、燃烧室内堆积，慢慢形成坚硬的积炭。这类物质会对汽油有吸附作
台式铝铜分析仪的技术指标
技术参数 －LCD触摸屏监视器 －分辨率800×600像素光源 －固态火花光源 －计算机控制激发参数 －计算机控制激发时间 －断电保护 光学系统 －高分辨率CCD检测器 －恒温系统 软件系统 －Winows98操作系统 －自动检测系统 －软件自动再校准 －自动光学系统
能量色散型X射线荧光分析仪的主要技术指标
主要技术指标： 分析原理 能量色散X射线荧光分析法 分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型） Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型） 检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm 样品形状 最大460×380mm(高150mm) 样品 塑料/金属
能量色散型X射线荧光分析仪的主要技术指标
分析原理 能量色散X射线荧光分析法分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm样品形状 最大460×380mm(高150mm)样品 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体样品室气氛 大气X射
锰磷硅智能分析仪的技术指标
⑴ 分析方法：光电比色法。 ⑵ 分析时间：四分钟左右（包括溶样时间）。 ⑶ 称样量：钢：150mg 铁：高含量：50mg 低含量：150mg ⑷ 测量范围： 钢：锰：0.100—1.500%； 磷: 0.008—0.100%； 硅: 0.100—1.500% 铁：高含量：锰：1.00—
锰磷硅智能分析仪－技术指标
⑴ 分析方法：光电比色法。⑵ 分析时间：四分钟左右（包括溶样时间）。⑶ 称样量：钢：150mg 铁：高含量：50mg 低含量：150mg⑷ 测量范围：钢：锰：0.100—1.500%; 磷: 0.008—0.100%; 硅: 0.100—1.500%铁：高含量：锰：1.00—1.50%; 磷: 0.
单波长X荧光硅含量分析仪与传统仪器的性能比较
石油炼制过程中，有时会加入一些含有硅化合物的实际，或在燃油炼制完成后将一些废溶剂掺入到汽油造成汽油中含有硅元素。汽油中，即使硅含量很低，但仍然会造成像氧气传感器失效，以及发动机故障。长期使用劣质燃油，胶质和无法完全燃烧的物质会在气门、进气道、燃烧室内堆积，慢慢形成坚硬的积炭。这类物质会对汽油有吸附作
X射线荧光测厚仪的原理和技术指标
原理 当原子受到原级X射线或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层空位，并同时放出次级X射线，即X射线荧光。X射线荧光的波长对不同元素是特征的，因此可以根据元素X射线荧光特征波长对元素做定性分析，根据元素释放出来的荧光强度，来进行定量分析如
X荧光分析仪的分类
不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射 线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色
X荧光分析仪简介
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同，因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。
X荧光分析仪简介
EDX 60a X荧光仪是一种新型的采用纯物理分析方法的微机化台式仪器,用于水泥厂，能够30秒快速分析旋窑、机立窑、窑外分解旋窑厂家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中 CaO、 Fe2O3的百分含量，为配料成分控制及时提供数据。由于它的分析速度快（30秒），因此可实时监控生产过程中成份变化的
X荧光硫钙分析仪的主要用途，特点和技术指标
一、主要用途KL3200型X荧光硫钙分析仪是辐射安全的、能量色散型X荧光分析仪(不含放射源),采用物理分析方法，快30秒能同时检测出水泥、石膏等物料中的SO3、CaO的百分含量，还同时估算出水泥中混合材的掺入量。通过快速测定熟料、水泥中CaO的百分含量，能让水泥企业为生产合格的某标号的水泥，做到既不
X荧光分析仪的光源是“荧光”吗？
强调“荧光”，许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪，一味地强调所谓“荧光”。事实上，如前所述，无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源，只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器，都是X荧光分析仪。
简介荧光分析仪的技术指标
1多功能置样装置 X荧光分析仪的置样装置具有可容纳各种形态被测样品的样品室。 A．样品种类：固体﹑液体﹑粉末。 B．样品室的环境：可选择空气﹑真空。由软件自动控制，无需人工操作。 2 X射线管激发系统 系统采用50KV的低功率正高压X射线发生器作为激发源。由高电压发生器，X射线发生器及