aes检测器理论知识

　　原子发射光谱（ICP/AES）理论知识（8）——检测器

　　在原子发射光谱中，被检测的信号是元素的特征辐射，常用的检测方法有目视法，摄谱法和光电法。

　　一、

　　目视法

　　目视法是用眼睛观察试样中元素的特征谱线或谱线组，以及比较谱线强度的大小来确定试样的组成及含量。由于眼睛感色范围有限，工作波段仅限于可见光区400～700nm范围。常用的仪器称看谱镜，是一种小型简易的光谱仪，主要用于合金钢、有色金属合金的定性和半定量分析。

　　二、

　　摄谱法

　　摄谱法是将感光板置于分光系统的焦面处，接受被分析试样的光谱的作用而感光（摄谱），再经过显影、定影等操作制得光谱底片，谱片上有许多距离不等、黑度不同的光谱线。然后．在映谱仪上观察谱线的位置及大致强度，进行定性分析及半定量分析；在测微光度计上测量谱线的黑度，进行光谱定量分析。

　　感光板上谱线的黑度与曝光量有关，曝光量越大，谱线愈黑。曝光量用H表示，它等于照度E与曝光时间的乘积，而照度又与辐射强度I成正比，所以

　　 H=E·t =KI t

　　K为比例常数

　　谱线变黑的程度称为黑度：

　　S＝lg(i0 / i)

　　i0 是感光板未曝光部分透过光的强度；i是是谱板曝光变黑部分透过光的强度。

　　黑度S与曝光度H之间的关系较复杂，通常用图解法表示。如果逐渐改变曝光量将感光板进行曝光，则可得到黑度不同的谱线，在测微光度计上依次测量这些谱线的黑度，然后以黑度S作纵坐标，以曝光量的对数值lgH为横坐标作图．即得乳剂特性曲线。

　　光谱定量分析中，通常需要利用乳剂特性曲线正常曝光部分BC，因为此时黑度S和曝光量的对数lgH呈直线关系，令BC段的斜率为γ，由上图可见

　　 S = γ(lgH－lgHi) = tgα（lgH－lgHi）

　　对于一定的乳剂，γlgHi为一定值并以i表示，则

　　 S = γlgH-i

　　式中lgHi为直线部分BC延长后在横轴上的截距，Hi称为感光板的惰延量；斜率γ称为感光板的反衬度，它表示当曝光量改变时，黑度值改变的快慢。反衬度高的感光板，当曝光量改变时，黑度变化较快。光谱定量分析时，宜选用反衬度高的感光板，因为浓度变化时，这种相板的黑度变化较明显，例如紫外I型感光板。定性分析时则选用灵敏度较高的紫外Ⅱ型感光板。

　　三、

　　光电法

　　光电法利用光电倍增管作光电转换元件，把代表谱线强度的光信号转换成电信号，然后由电表显示出来，或进一步把电信号转换为数字显示出来。