日本电子最新球差校正透射电镜观察到氢(H)原子
日本东京大学IKUHARA教授使用JEOL的球差校正透射电镜上的最新ABF技术，观察到氢(H)原子。该论文上周五2010年11月5日发表在APEX上并引起轰动。论文资料将于近日上传，敬请期待。......阅读全文
单台超4000万－南昌大学采购原位气氛加热双球差透射电镜项目
项目概况 南昌大学采购原位气氛加热双球差透射电镜项目 招标项目的潜在投标人应在 江西省公共资源交易网 获取招标文件，并于 2024年03月25日 14点00分 （北京时间）前递交投标文件。 一、项目基本情况： 项目编号：JXGZ2024-03-1503 项目名称：南昌大学采购原位气氛加热
透射电镜江湖纷争（一）：日本电子JEOL
如今的透射电子显微镜市场，可谓是呈三足鼎立之势：日本电子，日立和FEI。 今天主要介绍一下老大哥日本电子株式会社JEOL。 提起日本电子，大家都不陌生，目前在我国各大科研院所都不难看到JEOL电镜的影子。日本电子株式会社，是一家世界顶级的科学仪器生产制造商。在这么多的仪器制造商中说它顶级，其
复旦大学透射电镜环境保障系统采购公开招标公告
分析测试百科网讯 近日，复旦大学透射电镜环境保障系统采购（项目编号：182008KG）进行公开招标，用于双球差校正透射电镜和场发射透射电镜环境保障，以满足超高空间及能量分辨率工作环境要求。预算金额：196万。详情如下： 项目联系人：许老师 电话：65641327 开标时间：2019年11月0
6630万！天津大学双球差校正透射电子显微镜等设备采购
招标项目编号:0618-224TC229908R招标项目名称:天津大学企业信息资产处学科交叉平台电镜中心双球差校正透射电子显微镜等设备采购项目实施地点:中国天津市招标产品列表(主要设备):序号产品名称数量简要技术规格备注1双球差校正透射电子显微镜1套详见招标文件2200KV透射电子显微镜1套详见招标
透射电子显微镜基础知识（一）
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、
透射电子显微镜基础知识（一）
电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、
中科院大连化物所436万美元仪器采购大单揭晓
2010年12月27日，中国政府网公布了中国科学院大连化学物理研究所二维线性-电场轨道回旋共振杂交离子阱质谱系统采购项目、图像球差校正的环境场发射透射电子显微镜、球差校正分析型场发射透射电镜、配套附件招标采购项目，共计4360000美元的中标公告。具体如下所示： 采购人：中国科学院大连化学
《自然.通讯》：北大高鹏在皮米尺度精确测量表面结构
电子显微镜实验室高鹏研究员在皮米尺度精确测量表面结构方面取得重要研究进展 北京大学“电子显微镜与电子光学实验室”的“青年千人”计划研究员高鹏与日本、台湾的合作者通过基于高空间分辨率(45皮米,目前最高纪录)的定量环形明场像技术（ABF）发现，钛酸锆铅（PbZr0.2Ti0.8O3）铁电薄膜表面存在
透射电镜江湖纷争（二）：FEI
上一篇文章主要介绍了日本电子，今天，我们就一起来看看JEOL在透射电镜领域最有力的竞争者——FEI。 FEI是一家美国的高科技公司，是为全球纳米技术团体提供解决方案的创新者和领先供应商, “TOOLS FOR NANOTECH”，生产的产品主要面向半导体、数据存储、结构生物学、材料和工业领域。
广东工业大学4000万元采购双球差校正透射电子显微镜
近日，广东工业大学发布“双球差校正透射电子显微镜采购”中标公告，广东省中科进出口有限公司将提供包括布鲁克、赛默飞、NanoMEGAS等在内的5家公司共计近4000万元产品。详细信息如下： 一、项目编号：0809-2241GDG12268 二、项目名称：双球差校正透射电子显微镜采购 三、采购结果
电镜“老玩家”袁建忠：专注电镜20年，共筑科技强国梦
分析测试百科网讯 显微系统作为人们观察微观物质结构的伟大发明，已经被用于各行各业中，成为现代分析的重要工具之一。在显微界中，有这样一家公司，从诞生之日起不断追求更高的显微技术，同时也一直引领着全球显微技术的发展潮流，她就是知名电子光学系统制造商——日本电子（中国地区称为“捷欧路”）。
电镜的球差和畸变及其形成原因
1、球差：由于电子束光源通过透镜受到偏转，通过样品，从物平面向下发射，形成物点孔径角。从物点发出的射线，到达下一级透镜又被聚集。如果透镜有缺陷或孔径角太大，则靠近光轴的射线和远离光轴的射线，受到电磁场的作用就会不同，这些射线在光轴上会聚的位置不同，结果远离光轴的射线就会在像面上形成一个最小模糊圈。此
球差系数与透镜极靴的形状
球差经轴上物点发出的电子束斜率较小者，可在理想伤平面中会聚成一个点。如果透镜光闹所决定的孔径角。A1、A2一分别为像方或物方的电子柬有效孔径角（或半张角）。因为孔径角为吨的实心锥形电子束中包含有从o”蝎不同孔径角的各电子束，它会聚在不同位置处，因此在理想像点与zui近透镜的像点之间的某处．必存在一z
新一代电子显微镜发展趋势
一、高性能场发射枪电子显微镜日趋普及和应用。场发射枪透射电镜能够提供高亮度、高相干性的电子光源。因而能在原子--纳米尺度上对材料的原子排列和种类进行综合分析。九十年代中期，*只有几十台；现在已猛增至上千台。我国目前也有上百台以上场发射枪透射电子显微镜。常规的热钨灯丝（电子）枪扫描电子显微镜，分辨率z
选区电子衍射的分析
选区电子衍射的分析 单晶电子衍射花样[5]可以直观地反映晶体二维倒易平面上阵点的排列，而且选区衍射和形貌观察在微区上具有对应性，因此选区电子衍射一般有以下几个方面的应用。 (1) 根据电子衍射花样斑点分布的几何特征，可以确定衍射物质的晶体结构；再利用电子衍射基本公式Rd＝Lλ，待求得d之后与标准
探索物质结构之透射电子显微镜
眼睛是人类认识客观世界的第一架“光学仪器”，但它的能力却是有限的，通常认为人眼睛的分辨率为0.1 mm。17世纪初，光学显微镜（图1）出现，可以把细小的物体放大到千倍以上，分辨率比人眼睛提高了500 倍以上，这也是人类认识物质世界的一次巨大突破。随着科学技术的不断发展，直接观察到原子是人们一直以来的
差示扫描量热仪温度校正方法
差示扫描量热仪（法）是在程序升、降温控制下，测量试样与参比物（一般选空盘）之间的单位时间能量差（或功率差）随温度或时间变化的一种技术方法。常常用于测量聚合物的熔融热、结晶度、玻璃化转变温度Tg ，测量聚合物反应热、反应动力学等参数。已然成为高分子行业不可缺少的重要检测手段之一。 差示扫描量热仪主
差示扫描量热仪温度校正方法
差示扫描量热仪（法）是在程序升、降温控制下，测量试样与参比物（一般选空盘）之间的单位时间能量差（或功率差）随温度或时间变化的一种技术方法。常常用于测量聚合物的熔融热、结晶度、玻璃化转变温度Tg ，测量聚合物反应热、反应动力学等参数。已然成为高分子行业不可缺少的重要检测手段之一。 差示扫描量热仪主
差示扫描量热仪温度校正方法
1、打开电脑，将仪器数据线与电脑连接，插上仪器电源，打开仪器背面的开关。 2、打开软件，点击菜单栏中【设置】选项，单击【通信连接】，显示连接成功后，仪器即与电脑连接。 3、初始界面为氧化诱导期测试界面，点击【设置】里坐标选择X-Temp，到另一界面。 4、在【设置】选项中，选择【参数设置】，
差示扫描量热仪温度校正方法
1、打开电脑，将仪器数据线与电脑连接，插上仪器电源，打开仪器背面的开关打开软件，点击菜单栏中【设置】选项，单击【通信连接】，显示连接成功后，仪器即与电脑连接初始界面为氧化诱导期测试界面，点击【设置】里坐标选择X-Temp，到另一界面在【设置】选项中，选择【参数设置】。 截止温度设为350℃。升
差示扫描量热仪温度校正方法
差示扫描量热仪（法）是在程序升、降温控制下，测量试样与参比物（一般选空盘）之间的单位时间能量差（或功率差）随温度或时间变化的一种技术方法。常常用于测量聚合物的熔融热、结晶度、玻璃化转变温度Tg ，测量聚合物反应热、反应动力学等参数。已然成为高分子行业不可缺少的重要检测手段之一。 差示扫描量热仪
差示扫描量热仪温度校正方法
差示扫描量热仪（法）是在程序升、降温控制下，测量试样与参比物（一般选空盘）之间的单位时间能量差（或功率差）随温度或时间变化的一种技术方法。常常用于测量聚合物的熔融热、结晶度、玻璃化转变温度Tg ，测量聚合物反应热、反应动力学等参数。已然成为高分子行业不可缺少的重要检测手段之一。 差示扫描量热仪主
透射电子显微镜的发展方向
目前，透射电子显微术有几个重要的发展方向。第一，分辨率的提升。分辨率一直是透射电镜发展的目标和方向，发展新一代单色器和球差校正器，进一步提高透射电镜的能量分辨率和空间分辨率，尤其是对低压电镜。第二，发展原位透射电镜技术。原位透射电镜在材料合成、化学催化、生命科学和能源材料领域有着重要应用，可以通
2011年度JEOL材料科学透射电镜举办用户会
2011年度日本电子(JEOL)材料科学透射电镜用户会会议通知(第二轮) 感谢中国广大用户对日本电子株式会社(JEOL)长期以来的支持和信赖，近年来，日本电子在国内共销售130台六硼化镧透射电镜、52台场发射透射电镜和5台球差校正透射电镜JEM-ARM200F。 为了加强用户和厂家之间的
透射电镜技术
透射电镜技术 透射电镜是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像，投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。透射电镜的分辨率为0.1~0.2nm，放大倍数为几万~几十万倍。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，必须制备更薄的超薄切片(通常为50~100nm)。其制备过程与石蜡切片相似，但要求极严格
透射电子显微镜的发展方向
透射电子显微镜的发展方向 目前，透射电子显微术有几个重要的发展方向。第一，分辨率的提升。分辨率一直是透射电镜发展的目标和方向，发展新一代单色器和球差校正器，进一步提高透射电镜的能量分辨率和空间分辨率，尤其是对低压电镜。第二，发展原位透射电镜技术。原位透射电镜在材料合成、化学催化、生命科学和能源材料领
透射电镜厂商大揭秘（三）：－无所不能的HITACHI——日立
今天主要来谈一下三家主要的透射电镜供应商的最后一家——日立HITACHI。如果说JEOL和FEI算是比较专一型的企业的话，那么Hitachi就是比较博爱了。 HITACHI 日立是日本的一家超级大国企，可以说它本身就是一个完整的工业体系，涉及的产业从核电站，铁路，军工，到家电，医疗，物流，通
关于透射电镜你需要了解的？
材料在微观结构与组织的变化一直是受材料学家们关注的方向之一。通过在样品上施加各种外场作用,利用透射电子显微镜( TEM)来实时观察分析,可以直观地研究材料或器件在实际使用过程中的性能表现,这对于材料结构性能关系的研究有着重要的实际意义。透射电镜有几个重要的发展方向。1、分辨率的提升:分辨率一直是透
关于透射电镜你需要了解的
材料在微观结构与组织的变化一直是受材料学家们关注的方向之一。通过在样品上施加各种外场作用,利用透射电子显微镜( TEM)来实时观察分析,可以直观地研究材料或器件在实际使用过程中的性能表现,这对于材料结构性能关系的研究有着重要的实际意义。透射电镜有几个重要的发展方向。1、分辨率的提升:分辨率一直是透射
关于透射电镜你需要了解的？
材料在微观结构与组织的变化一直是受材料学家们关注的方向之一。通过在样品上施加各种外场作用,利用透射电子显微镜( TEM)来实时观察分析,可以直观地研究材料或器件在实际使用过程中的性能表现,这对于材料结构性能关系的研究有着重要的实际意义。透射电镜有几个重要的发展方向。1、分辨率的提升:分辨率一直是