BCEIA2015爱丁堡FS5荧光光谱仪
分析测试百科网讯 2015年10月27日，国内分析测试行业影响力最大的展会2015 BCEIA(bceia2015)在北京国家会议中心举办。作为业内规模和质量最高的盛会之一，本届展览会共有461家厂商参展，展出当今国内外分析测试领域的前沿技术和先进仪器设备。其中参展的分子光谱仪器众多，分析测试百科网对部分分子光谱仪器进行了盘点。爱丁堡FS5荧光光谱仪 爱丁堡FS5荧光光谱仪 FS5是爱丁堡仪器公司全新推出的一体化荧光光谱仪。这款仪器基于高标准进行设计，具有高灵敏度，快速数据获取，操作简单的特点，同时还有丰富的样品支架可以进行选择。针对不同的应用方向，都有相应测量模式可以进行选择。......阅读全文
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量
荧光光谱仪用了测什么元素
X荧光光谱仪可以测Na-U之间的元素，分析元素含量范围可以从PPM及至99.99%，也可以做镀层厚度分析。可以定性也可以定量。不同样品的检测精度有所不同。
全反射荧光光谱仪基本介绍
全反射荧光光谱仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的分析仪器，于2014年12月1日启用。 技术指标 检出限可以达到 ppb 和 ppm 级别，S2 PICOFOX 非常适用于痕量元素分析。在样品数量较少、液体样品含有高基质以及样品种类经常变化的情况下，优势十分明显。 主要功能 便
X荧光光谱仪拥有哪些特点？
1.操作界面简单，测量方便，快捷。2.采用独特双峰位快速自动校准。3.能够检测卤族元素的精确含量。4.无损检测，在无标准样品时亦可准确分析。5.同置高清晰摄像头，可帮助客户判断测量的部位。6.设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。7.X荧光光谱仪采用127±5eV的高精度分辨率，保证数据测量的
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量
原子荧光光谱仪的维护
一、如果出现测试中荧光值异常、测试线波动大的情况，原因可能是两方面： 一种是实验室环境不佳，比如室内空气湿度过大或者空气流动过大、工作台震动、排风量过大以及光线直射等，这就需要我们采取相应的措施，比如添加除湿机、避免仪器空气扰动、远离振动源、控制排风量在600-1200m3/h同时避
X荧光光谱仪的技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集
冷原子荧光光谱仪分类
1、按入射光束数可分：单光束冷原子荧光光谱仪和双光束冷原子荧光光谱仪。2、按分析灵敏度可分：微量冷原子荧光光谱仪和痕量冷原子荧光光谱仪。3、按分析特征可分：高选择性冷原子荧光光谱仪和高灵敏度冷原子荧光光谱仪。4、按进样方式可分：连续流动冷原子荧光光谱仪和断续流动冷原子荧光光谱仪等。5、按进样自动性可
X荧光光谱仪重要技术原理
X荧光光谱仪技术原理: X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量
波长色散X射线荧光光谱仪
我国学者对不同时期WDXRF的进展曾予以评述。WDXRF谱仪从仪器光路结构来看，依然是建立在布拉格定律基础之上，但仪器面目全新。纵观30年来的发展轨迹，可总结出如下特点 。(1) 现代控制技术的应用使仪器精度大幅度提升。WDXRF谱仪在制造过程中，从20世纪80年代起，一些机械部件为电子线路所取代，
原子荧光光谱仪联用技术
离子色谱-蒸气发生/原子荧光及高效液相色谱-蒸气发生/原子荧光联用技术应用于砷、汞元素形态分析的新进展。 国际上对食品和环境科学中有毒、有害有机污染物高度重视，且在有机污染物的监测分析有了很大发展。人们已越来越认识到砷、汞、硒、铅、镉等元素不同化合物的形态其作用和毒性存在巨大的差异。例如砷是一
x荧光光谱仪的分析对象
x荧光光谱仪的分析对象主要有各种磁性材料、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，x荧光光谱仪还可以对各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，x荧光光谱仪检测的结果接近于定量分析的准确度。X荧光光谱仪分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。x荧光光谱仪适合用于课题研
什么是X射线荧光光谱仪
Ｘ射线是一种电磁辐射，其波长介于紫外线和γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限，一般来说是指波长为０．００１－５０ｎｍ的电磁辐射。对分析化学家来说，感兴趣的波段是０．０１－２４ｎｍ，０．０１ｎｍ左右是超铀元素的Ｋ系谱线，２４ｎｍ则是轻元素Ｌｉ的Ｋ系谱线。１９２３年赫维西（Ｈｅｖｅｓｙ，Ｇ．Ｖｏｎ）提
X射线荧光光谱仪工作原理
2.1 X射线荧光的物理原理 X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位nm）描述。 X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足
X射线荧光光谱仪－检测标准
JJG810-1993《波长色散X射线荧光光谱仪》检定周期为1年。
X荧光光谱仪制样方法（一）
一、X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法，激发只发生在试样的浅表面，必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外，样品的平均粒度和粒度分布是
X荧光光谱仪的工作原理
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态.这个过程称为驰过程.驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较外层的电
荧光光谱仪让“挖矿”更简单
荧光光谱仪让“挖矿”更简单 众所周知，荧光光谱仪对于金属矿的元素检测是非常准确到位的，在矿山开采前期工作中，对矿山以及矿样的分析就成为判断一个矿山价值的至关因素，这个时候用到荧光光谱仪就会非常的方便。 现在很多矿场在实际生产过程中还是将采集的矿样送到远离矿场的实验室，这样费时费力，而且对于成
原子荧光光谱仪的维护
随着时间的推移，充满了欢声笑语的春节慢慢淡出了人们的关注范围，转而开始了新一轮的工作之中。在展开新一年的检测工作之前，对于实验室仪器的检修是必不可少的。对于实验室常规的维护在《实验室常规仪器的日常维护及管理注意事项》中有着比较详尽的要求，比如就有对于电子设备要按要求检查自身保护装置；对于玻璃仪
X荧光光谱仪制样方法详谈
一、固体样品1、固体样品的主要缺点是，一般情况下不能采用各种添加法：如标准添加（或稀释）法、低（或高）吸收稀释法、内标法等。若所有样品中已经含有适当的、一定浓度的内标元素，则上述的最后两种方法还是可用的。另外，也不能进行化学浓缩和分离。表面结构和成分有时也难取得一致。可能弄不到现成的标样，而人工合成
荧光光谱仪的应用领域
荧光光谱仪被广泛应用于化学、环境和生物化学领域。 是研究小分子与核酸相互作用的主要手段。通过药物与核酸相互作用，使DNA与探针键合的程度减小，反映在探针荧光光谱的改变，从而可以了解药物和核酸的作用机理。 荧光光谱仪是研究药物与蛋白质相互作用的常用仪器。药物与蛋白质相互作用后可能引起药物自身荧
原子荧光光谱仪的特色
原子荧光光谱仪的特色：1、光源体系：可任意选用单阴极或双阴极空心阴极灯两种光源。2、样品导入方式。3、单泵操控的接连活动-间歇进样方式。4、氢化物/蒸气发作体系：静力式喷流型三级气液分离器，废液主动扫除。5、原子化体系：“红外加热”石英炉原子化器，三挡温度：室温、低温和中温主动设置。选用氩氧火焰主动
X荧光光谱仪的优缺点
a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，10～300秒就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别
简述X荧光光谱仪技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
X射线荧光光谱仪的原理
X射线荧光的物理原理：当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量
X荧光光谱仪的技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出
原子荧光光谱仪的优点
有较低的检出限，灵敏度高。特别对Cd、Zn等元素有相当低的检出限，Cd可达0．001ng·cm-3、Zn为0.04ng·cm-3。现已有2O多种元素低于原子吸收光谱法的检出限。由于原子荧光的辐射强度与激发光源成比例，采用新的高强度光源可进一步降低其检出限。干扰较少，谱线比较简单，采用一些装置，可以制
X荧光光谱仪的工作原理
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态. 这个过程称为驰过程.驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较外层的
荧光光谱仪的原理和应用
目前荧光分析法已经发展成为一种重要且有效的光谱化学分析手段。在我国，50年代初期仅有极少数的分析化学工作者从事荧光分析方面的研究工作，但到了70年代后期，荧光分析法已引起国内分析界的广泛重视，在全国众多的分析化学工作者中，已逐步形成一支从事这一领域工作的队伍。 一、荧光分析特点 （1）荧光分