2016北京光谱技术交流会召开探讨布鲁克X射线新产品新技术
分析测试百科网讯 2016年2月26日，北京理化分析测试技术学会、布鲁克（北京）科技有限公司组织召开北京光谱技术交流会。布鲁克德国专家及国内的应用工程师，全面介绍了布鲁克光谱的X射线衍射/荧光新产品，新技术。来自科研院所、实验室的70余人参与了此次会议。光谱技术交流会现场首钢北京冶金研究院 郑国经教授 首钢北京冶金研究院的郑国经教授出席会议并致辞。布鲁克公司 杨宁 布鲁克公司杨宁主持会议并介绍了布鲁克公司及相关产品。 会议现场，布鲁克德国专家及国内的应用工程师，全面介绍了布鲁克光谱的X射线衍射/荧光新产品，新技术。布鲁克德国专家Lutz Bruegemann（左）和Arnt Kern（右） 布鲁克公司AXS公司XRD市场经理Lutz Bruegemann博士和Arnt Kern博士两位德国专家分别做了题为《D8 ADVANCE X-Ray Diffration Solutions......阅读全文
X射线测厚仪产品技术特点
型号：XTC70L适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。 1、测量精度、测量厚度的±0.1% 2、测量范围：0.01mm—8.0mm（根据测量
最新X射线分析著作《多晶X射线衍射技术与应用》出版
书号：978-7-122-19145-8 出版日期：2014年7月 定价：88元 开本：16 当当网链接：http://product.dangdang.com/23491711.html 多晶衍射技术是对晶态物质的组成、结构和存在情况进行分析测试的重要方法，已广泛应用
X射线荧光光谱仪简介
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
X－射线荧光光谱分析
本文评述了我国在2005年至2006年X射线荧光光谱,包括粒子激发的X射线光谱的发展和应用,内容包括仪器研制、激发源、探测器、软件、仪器改造、仪器维护和维修、样品制备技术、分析方法研究和应用。 更多还原
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于
X射线荧光光谱仪概述
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
扫描X射线光谱仪的简介
中文名称扫描X射线光谱仪英文名称sequential X-ray spectrometer定 义能对其中不同波长的X射线光谱进行连续研究的X射光谱仪。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
简述x射线荧光光谱测厚仪特色
1.可测量0.01um-300um的镀层。 2.可做各种镀层（多层、合金、多层鎳）的精密测量。 3.除平板形外，还可测量圆形、棒形（细线）等各种形状。 4.可制作非破坏性膜厚仪的标准板。 5.该电镀膜厚检测仪可检查非破坏式膜厚仪的测量精度。 6.可高精度测量其他方式不易测量的三层以上的
X射线荧光光谱分析
XRF的原理：X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照
X射线荧光光谱仪优点
X射线荧光光谱仪优点：1)可在一台仪器上可实现扫描式X射线波长色散分析、X射线能量色散分析、X-射线聚焦微小区域分析、游离氧化钙X射线衍射分析。2)波长色散通道（波谱核）和能量色散通道（能谱核）可同时分别得到Be- Am 和Na-Am 所有元素的光谱数据和定量分析结果。3)软件可以得到上述各种分析技
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于
X射线晶体光谱仪的简介
中文名称X射线晶体光谱仪英文名称X-ray crystal spectrometer定 义利用晶体作分光器的X射线光谱仪。晶体具有适当的点阵间隔，对一定波长的X射线产生衍射作用，可起到类似于光学式分析仪器中衍射光栅的作用。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱
x射线荧光光谱仪简介
x射线荧光光谱仪提供了一种最简单，最准确，最经济的分析方法，可用于确定多种类型材料的化学成分。它是无损且可靠的，不需要或只需很少的样品制备，适用于固体，液体和粉末状样品。它可以用于从钠到铀的多种元素，并提供亚ppm级以下的检测限；它也可以轻松，同时地测量高达100％的浓度。
X射线荧光光谱仪(XRF)
原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X射线荧光光谱仪结构
该系统由X射线发生器、光谱仪主体部分、电气部分及系统控制器、计算机部分组成。3.1 X射线发生器 X射线发生器由高压变压器及管流管压控制单元、X射线管、热交换器。 3.1.1高压变压器及管流管压控制单元 产生高稳定的高压加到X射线管上用以产生X射线。这里利用高电压加速的高速电子轰击X射线管金属靶面产
X射线荧光光谱分析
X射线荧光的激发源使用X射线而不使用电子束，因为使用X射线避免了样品过热的问题。几乎所有的商品X射线荧光光谱仪均采用封闭的X射线管作为初始激发光源。某些较简单的系统可能使用放射性同位素源，而电子激发一般不单独使用在X射线荧光光谱仪中，它仅限于在电子显微镜中X射线荧光分析中使用。X射线荧光谱仪具有快速
X射线荧光光谱仪（XRF）
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
X射线荧光光谱仪原理
X射线荧光光谱仪原理 X射线荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线（又叫X荧光），并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这
关于X射线荧光光谱的介绍
X射线荧光光谱(XRF, X Ray Fluorescence)是通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X-Ray Fluorescence)，受激发的样品中的每一种元素会放射出X射线荧光，并且不同的元素所放射出的X射线荧光具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来
单波长色散X射线荧光光谱仪技术指标
符合ASTM 7039，GB/T 11140和SH/T 0842标准要求，硫重复性0.8 ppm (2ppm), 1.8 ppm (10ppm), 12.4 ppm (500ppm)； 检测范围0.15ppm至3000ppm， 样品杯容积4mL,分析时间30至300秒；即插即用，样品准备快速，无
手持X射线荧光光谱仪的主要技术指标
1. 超高的检测精度精确度高。 2. 超高的稳定性，超高的重复性。 3. 优异的线性相关性。 4. 采用了完全重新设计的射线管、无高压电源线、无 RF 噪音、更好的X射线屏蔽。 5. 结构更精密，缩短了射线管、探测器与被测样品之间的距离，对于某些应用信号提高了~40%. 6. 新的滤波
岩矿鉴定新技术—X射线荧光光谱微区分析
传统的岩矿鉴定方法是利用显微镜,通过观察矿物物理性质、矿物形态、矿物共生特征及矿物间相互关系来鉴别矿物种类和岩石类别,是岩矿鉴定的基本手段。但是自然界很多矿物存在类质同象现象,如黝铜矿和砷黝铜矿、方铅矿和硒铅矿、钨铁矿和钨锰矿等,这些矿物在显微镜下特征相似难以区分。需要借助电子显微镜、电子探针分析、
布鲁克收购X射线测量解决方案提供商Jordan－Valley
分析测试百科网讯 2015年10月6日，布鲁克宣布签署了一项收购Jordan Valley Semiconductors Ltd.股份的协议。此次收购对于布鲁克而言能为其在纳米技术研究和半导体计量方面提供进一步的解决方案。 随着不断增加的链接和庞大数据量
X射线能谱法与X射线光谱法最小浓度检测极限的对比
自从1968年Fitzgerald等人把x射线能谱法[EDX]引用于电子光学仪器以来,不少专家就着手评价这两种系统的优劣了。Servant等人在普通扫描电镜[SEM]上加装束流调节器和防污染装置,用能谱仪[EDX]对浓度大于2(wt)%的二元合金。
X射线衍射技术的应用特点
X 射线衍射技术已经成为最基本、最重要的一种结构测试手段，其主要应用主要有以下几个方面：物相分析物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。
X射线荧光分析技术的应用
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；
X射线衍射技术的基本构成
（1） 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。（2） 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。（3） 射线检测器 检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统
英国研发出新X射线技术
伦敦大学学院研究人员新近成功研发出新X射线影像技术，该技术目前已经能够转化为各种有益的应用，包括潜在的安全和医疗的救生用途。该项目是工程与物理研究理事会资助的5年重点项目，研究工作也包括了全英十几家企业和学术研究伙伴。 与传统X射线相比，新X射线能够识别活组织中的肿瘤早期和材料中较小的裂缝与