日立分析发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪
2018年6月19日，英国牛津：日立分析仪器公司（日立分析仪器），是日立高新技术公司（TSE：8036）旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日，日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。 日立分析仪器XRF镀层测厚仪系列在电子和金属表面处理行业已有超过40年镀层分析的成功经验。X-Strata920可确保镀层符合规格要求，并将镀层过量或过少镀层废料造成的浪费减至最少。随着X-Strata功能的扩展，用户可以通过该仪器进行更多工作。 这一款新型X-Strata意味着可选择高分辨率硅漂移探测器（SDD）或正比计数器定制仪器，以优化其性能。此外，它现在拥有四个腔室和基座配置，可处理各种形状和尺寸的样品，包括汽车行业中的复杂几何形状。 对于复杂的镀层结构，SDD可以提供优于正比计数器的优势，因为它更易分析具有类似XRF特征的元素，例如镍和......阅读全文
日立全自动生化分析仪38l报警处理
7170A型全自动分析仪，主要用于尿检验、血清检验和检验等领域，自动化程度高、性能稳定，遇到的问题较少，现将碰到的一例特殊故障，报告如下：1、故障现象 开机后正常使用时，屏幕出现38-1报警，同时机器后盖下的消音器往外滴水，但设备仍能工作。2、故障分析 当屏幕出现38-1报警时，按触
日立X射线荧光光谱仪影响分析速度的因素
X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF. X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能
日立高灵敏度差示扫描量热仪原理分析
日立高灵敏度差示扫描量热仪优越的灵敏度和重现性提升了数据的可靠性，同时丰富多彩的扩展性使其更为出色。以一般聚合物的DSC测量为基础，可应对多种不同应用，例如可以对难以经手的样品进行微量测量，省力自动化，样品观察，光化学反应等。从材料开发到成品评价，DSC能够对应所有场合。 1、原理：差示扫描量热法（
日立7600010生化分析仪特殊故障检修
本科2003年引进一台日立7600-010生化仪Ｐ模块，使用4年来，遇到了一些疑难的故障，也自行摸索出了一些解决方法，现报道于下，供同行参考。 1 故障一 1.1 故障现象 出现大量报警，代码示057-001 R1 Reagent Short(外圈试剂不足)和058-001 R2
日立全自动生化分析仪杯空白报警及处理
日立全自动生化分析仪的杯空白分两类，一类是静态杯空白，是维护菜单中执行“杯空白”的指令测得的值，杯空白值作为每个反应杯的基准值会储存在仪器中。另一类是动态杯空白，即检测标本时，每一个比色杯在使用前测定的杯空白。当两类杯空白之差超过±0.1 Abs时，仪器就会出现报警。报警内容通常有： 仪器
日立推出XMET8000－Geo－Optimum手持XRF－－用于地矿分析
2019年3月6日，日立分析仪器，系日立高新技术公司(TSE：8036)旗下的一家全资子公司推出了一款全新X-MET8000 Geo手持式XRF分析仪，这种分析仪针对土壤和采矿品级控制应用进行了优化。其提供无与伦比的性价比，且投资回报(ROI)快，允许立即进行现场决策，而不必发送样品进行实验室分析。
日立高新将全资收购TSL－天美日立打造跨国合作新模式
分析测试百科网讯 从事表面科学、分析仪器、生命科学设备及实验室仪器的设计、开发和制造及分销商天美集团刚刚发布消息称，日立高新将收购天美集团旗下，在中国及东南亚地区经营日立高新产品业务为主的天美科仪有限公司（Techcomp Scientific Limited）（简称“TSL”）及其子公司全部股
声波测厚仪－钢板测厚仪
HCH-2000C型声波测厚仪测量范围：0.8-199.9mm，显示精度：0.1mm，本内部电路采用数字电子技术与微电脑技术，外部采用金属机壳制造而成，仪器体积小、功耗低、功能强、抗摔打、抗振动、触摸按键操作更直观，是您在实际应用中的仪器。使用本仪器可以方便无损地检测锅炉、压力容器、管道、金属工件、
超声波测厚仪产生误差原因分析
超声波测厚仪产生误差原因分析 1、层叠材质、复合（非均质）材质。要测量未经耦合的层叠材质是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合（非均质）材质中匀速传播。对于由多层材质包扎制成的设备（像尿素高压设备），测厚时要特别注意， 测厚仪 的示值仅表示与探头接触的那层材质厚度。
涂层测厚仪2000A故障分析排除介绍
涂层测厚仪2000A可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。涂镀层测厚仪2000A具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制
超声波测厚仪的误差原因分析
超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。 超声波测厚仪的误差原因分析： 1、层叠材料、复合（非均质
微先锋镀层测厚仪的功能分析
Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能，其物点为：高分辨率，固态探测器。主要应用测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围：Ti(22)~U(92 )。 自动过滤器
*声波测厚仪示值偏差的原因分析
在使用*声波测厚仪检测工作中，经常碰到*声波测厚仪示值与设计值（或预期值）相比，有明显的偏差，偏大或偏小，针对这些现象上海旦鼎来为大家分析*声波测厚仪显示值偏差的原因。导致的原因有很多方面，以下来详细讲述原因。1、层叠材料、复合（非均质）材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的，因*声波无法穿透未经
分析声波测厚仪测量产生误差原因
声波测厚仪是根据声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过测量声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。在实际检测工作中，经常碰到声波测厚仪示值与设计值(或预期值)相比，明显偏大或偏小，原因分析如下： 1、声速选择错误。测量工件前，
涂层测厚仪2000A故障分析排除介绍
涂层测厚仪2000A可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。涂镀层测厚仪2000A具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制
超声波测厚仪注意事项分析
超声波测厚仪注意事项分析a.电源电压低时，在液晶屏幕左侧显示低电压符号，此时为了保证仪器的正常测量使用，请您及时更换电池。b.在不需要背光的时候，尽量不要长时间开启背光，以免过快消耗电池的电量。c.传感器表面为丙烯树脂，对粗糙表面的重划很敏感，因此在使用中尽量轻按。d.在测量以后尽量及时将传感器表面
分析可用于现场检测的涂层测厚仪
涂装工艺中一般都会规定漆膜的干膜厚度，因此 在生产中必须对漆膜厚度进行检测，并以此调整喷涂 工艺或进行返工、修补以达到工艺要求的厚度。 作为一种质量检验控制的仪器----涂层测厚仪，是测量的仪器，而且企业用的涂装测厚仪必须要求能进行现场检测，并且尽可能不对产品造成破坏。我们知道，涂层干膜
热机械分析仪的结构和原理说明日立产品推荐
日立热机械分析仪的结构和原理说明 结构构成 日立热机械分析仪主要由机架、压头、加荷装置、加热装置、致冷装置、形变测量装置、记录装置、温度程序控制装置等组成。 1、机架：刚形结构，在测试温度范围内轴线方向不发生变形。 2、压头：直径4.0mm,长度10mm 3、加荷装
日立835氨基酸自动分析仪的原理及维修
1、概述HITACHI835-50高速氨基酸自动分析仪是八十年代初期由日立公司研制的产品，该仪器具有性能可靠、分析数据准确等特点，系统使用柱后茚三酮衍生法，一个分析周期只需72分钟。在全国测试分析行业中，该型号仪器拥有量较大。经过近二十年的运行，仪器已处于老化状态并进入故障多发期。为此笔者将自己在维
日立X射线荧光光谱仪分析速度更快操作更简单
X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF.X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量
日立X射线荧光光谱仪分析速度更快操作更简单
X-射线荧光光谱：作为一种比较分析技术，在较严格的条件下用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射特征X射线。这些特征X射线的能量对应于各特定元素，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。该发射特征X射线的过程称为X射线荧光或XRF.X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量
日立7080－全自动生化分析仪故障维修与保养体会
日立7080 全自动生化分析仪故障维修与保养体会:近年来，全自动生化分析仪在临床生化检验中的不断使用，使检测血液生化标本的检验结果更能真实准确地反映出来，为临床提供了科学可靠的诊断依据。随着科技的不断发展，不同类型的全自动生化分析仪应用于临床，我们临床检验工作者也从实际检验操作中深深体会到，选择生化
超声波测厚仪/－测厚仪－/便携式测厚仪
，其中涂层模式即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。我们提供先进可靠的检测解决方案和各种服务支持，帮助行业用户尽可能提率，增强生产力，保证生产安全产品特点：+ 适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度+
钢板涂层测厚仪|铜涂层测厚仪|铝基涂层测厚仪
仪器特点简单-直接测量（无需校准即可满足大部分应用）-单手菜单操作--灯光提示：便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果-重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态耐用-耐磨探头-防酸、防油、防水、防溶剂、防尘，符合或超过IP5X标准-耐磨防腐蚀液晶显示屏-防撞击橡胶保护套-每台仪器都有校准证书，符合NIST
超声波测厚仪测量误差原因分析
在实际检测工作中，经常碰到测厚仪示值与设计值(或预期值)相比，明显偏大或偏小，原因分析如下： 1、层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备)，测厚时要特别注意
超声波测厚仪常见问题因素分析
超声波测厚仪常见问题因素分析1、测量前应清除被测物体表面所有的灰尘、污垢及锈蚀物，铲除复盖物。过份粗糙的表面会引起测量误差，甚至仪器无读数。2、测量前应尽量使被测材料表面光滑，可使用磨、抛、锉等方法使其光滑。还可使用高粘度耦合剂。测量圆柱型材料，如管子、油桶等，选择探头轴线与被测材料轴线相交时为理想
干膜测厚仪测量不准确因素分析
干膜测厚仪测量不准确因素分析干膜测厚仪测量不准确因素分析？干膜测厚仪又称为涂层测厚仪，是测量干膜厚度的必备仪器，涂装检测行业必不可少的一个辅助仪器，应用非常广泛。很多人有这样的疑问，在测试过程中，有时候测量值与实际值会有稍许的偏差，对于一些对厚度要求比较严格的场合，或者对工件要求精密的场合，常常给测
超声波测厚仪测量误差原因分析
在实际检测工作中，经常碰到测厚仪示值与设计值(或预期值)相比，明显偏大或偏小，原因分析如下： 1、层叠材料、复合(非均质)材料。要测量未经耦合的层叠材料是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合(非均质)材料中匀速传播。对于由多层材料包扎制成的设备(像尿素高压设备)，测厚时要特别注意
分析超声波测厚仪产生误差的原因
超声波测厚仪产生误差原因分析下面小编来说一下，超声波测厚仪产生误差原因分析1、层叠材质、复合（非均质）材质。要测量未经耦合的层叠材质是不可能的，因超声波无法穿透未经耦合的空间，而且不能在复合（非均质）材质中匀速传播。对于由多层材质包扎制成的设备（像尿素高压设备），测厚时要特别注意，测厚仪的示值仅表示
超声波测厚仪示值失真因素分析
超声波测厚仪示值失真因素分析超声波测厚仪示值失真因素分析，珠海天创仪器公司为大家详细说明：(1)工件表面粗糙度过大，造成探头与接触面耦合效果差，反射回波低，甚至无法接收到回波信号。在役设备、管道大部分是表面锈蚀，耦合效果极差。(2)工件曲率半径太小，尤其是小径管测厚时，因常用探头表面为平面，与曲面接