小波分析在X荧光光谱去噪声中的应用
核辐射探测器中固有统计涨落、电子学噪声,使X射线荧光光谱中带有噪声,主要表现为出现假峰或丢失弱峰。论文探讨使用Mallat算法对X射线荧光光谱信号进行小波分解,采用阈值滤波算法在小波域内将噪声抑制或消除,最后重构除去噪声后的能谱信号。通过与多项式最小二乘拟合光滑除去噪声的光谱做定性和定量分析的比较,表明小波分析能够较好除去X射线荧光光谱中的噪声。......阅读全文
X射线荧光光谱仪光谱室和样品室的故障分析
X射线荧光光谱分析通常在真空光路条件下工作，但光谱室和样品室有很多部位与外部相连，可能漏气的部位很多。检查真空故障时，将可能出问题的地方人为分隔为三部分：真空泵、样品室、光谱室，对这三部分逐一检查以缩小范围。 1、真空泵 将真空泵与光谱室和样品室的接口拆下并用橡皮塞堵住，然后抽真空，如果能在
X射线荧光光谱分析法的简介
X射线荧光光谱分析法，利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。 [1] 在成分分析方面，X射线荧光光谱分析法是现代常规分析中的一种重要方法。
偏振X射线荧光光谱仪的应用和分析
它分析专业、检出下限低，灵敏度高、稳定性好，还能应对欧洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准。 SPECTRO XEPOS多功能偏振型X射线荧光光谱仪应用广泛，应用于石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等。以油中各种元素的分析为例，
X射线荧光光谱仪样品室的故障分析
光谱室和样品室的真空抽不到规定值，样品室最常见的漏气部位是样品自转装置上的密封圈，样品测量时通常以0.5转/秒的速度自转，仪器几年运行下来，样品自转处的密封圈磨损，密封效果变差。
X射线荧光光谱分析技术的发展
归纳了X-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、仪器检测性能的提高、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X-射线荧光光谱技术的进展,还就能量色散X-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的论文发表情况进行了总结,对近年来X-射
偏振X射线荧光光谱仪的贵金属分析
近期全新推出SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪器，采用高分辨、高计数检测器技术，缩短了样品的测量间隔，仪器软件直观、简捷，测试流程轻松流畅，大大减少了宕机时间。 贵金属分析 SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪器作为新仪器的推出，为测试中心、纯度标识和分析实验室，以及珠宝制造
分析多道x射线荧光光谱仪的产品优点
多道x射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型(WD)和能量色散型(ED)。波长色散型是由色散元件将不同能量的特征X射线衍射到不同的角度上，探测器需移动到相应的位置上来探测某一能量的射线。而能量色散型，去掉了色散系统，是由探测器本身的能量分辨本领来分辨探测到的X射线的。波长色散型能量分辨本领高，而
X射线荧光光谱分析技术的发展
归纳了X-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、仪器检测性能的提高、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X-射线荧光光谱技术的进展,还就能量色散X-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的论文发表情况进行了总结,对近年来X-射
X射线荧光光谱仪的构成与分析原理
X射线荧光光谱仪 (XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生发射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测
X射线荧光光谱分析技术的重要应用
X射线荧光光谱分析技术属于一种能够实现快速分析的无损检测技术，新型、成本更低的X射线光谱仪更容易在被检测材料或者组件的整个生命周期内进行多元测量和验证。利用摩擦效应产生X射线的低成本、移动型X射线荧光光谱仪将会和原位检测或者实验室检测实现互补。 对于质量管理部门、冶金实验室、机械工厂、金属加工
X射线荧光光谱分析仪应用实践
介绍了X荧光分析仪在炼铁厂的应用情况,以大量的试验为基础,阐述了X荧光光谱分析仪粉末压片法的规范操作及烧结矿和混匀矿在X荧光光谱分析仪上的检测应用,保证仪器的稳定性和分析数据的准确性的前提下,为生产提供准确、可靠的数据。 更多还原
X射线荧光光谱仪无标样分析方法
对于以固体进样为主的X射线荧光分析技术，要获得一套高质量的固体标准样品有一定难度，限制了X射线荧光分析的应用范围。 而X射线荧光光谱无标样分析技术是20世纪90年代推出的新技术，其目的是不用标准样品也可以分析各种样品。它的基本思路是：由仪器制造商测量标准样品，储存强度和工作曲线，然后将这些数据
能量弥散X射线荧光光谱分析技术介绍
能量弥散X射线荧光（EDXRF）光谱分析技术主要基于两点：一是其简便性，二是它非常适用于现场手持测试。 每个EDXRF光谱分析系统通常包含三个主要部分： 激发源、一台光谱仪或检测器以及一个数据收集或处理器。与波长色散X射线荧光光谱分析系统相比，EDXRF光谱分析系统具有以下特点：操作简单、分析进
进行X射线荧光光谱分析的样品制备
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；成分不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片；对表面不平的样品要打磨抛光；对于粉末样品，要研磨至
X射线荧光光谱分析基本原理
X射线是一种电磁辐射，其波长介于紫外线和γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限，一般来说是指波长为0.001-50nm的电磁辐射。对分析化学家来说，最感兴趣的波段是0.01-24nm，0.01nm左右是超铀元素的K系谱线，24nm则是最轻元素Li的K系谱线。1923年赫维西(Hevesy, G. V
X射线荧光光谱仪的构成与分析原理
X射线荧光光谱仪 (XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生发射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素都会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将
硫化矿样品的X射线荧光光谱分析
射线荧光光谱分析技术(XRF)是利用X射线与物质产生的X射线荧光而进行的元素分析方法,采用探测器检测特征X射线荧光的能量和强度,从而实现定性和定量分析。X射线荧光光谱分析具有快速、多元素分析、制样简单、重现性好、准确度高、非破坏性和对环境无污染等特点,被广泛应用于多领域的样品分析。硫化铜矿石作为国家
分析影响X荧光光谱仪测量结果的因素
X荧光光谱仅的样品制备简单，能够非破坏性地快速进行多元素分析，可以迅速筛查多种类样品基质如固体、泥浆、粉末、糊状物、薄膜、空气过滤物以及其它很多基质样品中的未知成分，已成为电子行业有害物质初步筛选普遍采用的检测方法。分析影响X荧光光谱仪测量结果的因素，正确使用X荧光光谱仪。对电子产品中有害物质的
X荧光光谱仪分析原理及构造的介绍
X射线荧光（XRF）能用于测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。凡是能和X射线发生激烈作用的样品都不能分析，而要分析的样品必须经受在真空（4~5Pa）环境下测定，与其他分析技术相比，XRF具有分
XRF（X射线荧光光谱分析）各品牌介绍
1.美国Xenemetrix（能量色散） 美国Xenemetrix在过去30年内一直是能量色散X射线荧光光谱分析方面的领先创新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年经验和专业知识的顶峰设计，该仪器占地面积少、性能优越。强大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射线荧光
X射线荧光光谱分析法的特点
(1）分析速度快。 (2）X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态及物理状态无关。 (3）非破坏分析。 (4）X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对化学性质上属于同一族的元素也能进行分析。 (5）分析精密度高。 (6) X射线光谱比发射光谱简单,故易于解析。 (7）制样简单。 (8）X射线
X射线荧光光谱分析定性与定量分析
1.定性分析: 不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。 如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结论。 但是如果元素含
X射线荧光光谱分析仪的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比
X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高，对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2～3数量级，灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。
X荧光光谱仪的保养
X荧光光谱仪工作的外部环境 1、周围强磁场干扰 设备合理的工作环境，要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装，否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。 2、环境温度，湿度的影响 应保持室温20～25℃为宜，气温过高或过低都会影响设备的正常运作，所以配有
X射线荧光光谱仪简介
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水
什么是X荧光光谱仪
X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品，产生X荧光(二次X射线)，探测器对X荧光进行检测。 技术原理 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统
X荧光光谱仪的保养
X荧光光谱仪工作的外部环境 1、周围强磁场干扰 设备合理的工作环境，要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装，否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。 2、环境温度，湿度的影响 应保持室温20～25℃为宜，气温过高或过低都会
X射线荧光光谱技术的原理
所有XRF仪器都拥有两个主要成分，一个是X射线源，一般采用X射线管，另一个则是探头。X射线源会发出初级X射线到样品表面，有时会通过滤光器对X射线束进行调整。在光束击打样品原子时，会产生次级X射线，这些次级X射线会被探头收集并处理。 比较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成，电子按照能量层级
X射线荧光光谱法优点
X射线荧光光谱法-----原级X射线发射光谱法首先，与原级X射线发射光谱法比,不存在连续X射线光谱，以散射线为主构成的本底强度小,谱峰与本底的对比度和分析灵敏度显著提高，操作简便，适合于多种类型的固态和液态物质的测定，并易于实现分析过程的自动化。样品在激发过程中不受破坏，强度测量的再现性好，以及便于