粉煤灰的SEM及X射线能谱微分析研究
粉煤灰的微结构和主要成分决定了粉煤灰的物理、化学性能,直接关系到粉煤灰的综合利用。本文利用XRD、SEM及EDS对原灰以及水、磁筛选的粉煤灰进行了物相、表面微结构及X射线微区分析的研究。结果表明:富铁漂珠粒度较其它漂珠小,富铁磁珠表面析出了块状、针状等规则排列的结晶,表面形貌光滑的玻璃微珠主要吸附于中空的漂珠表面和贫铁沉珠中。同时出现一些球形度好、表面光滑的纯铁珠和纯玻璃珠。粉煤灰主要的常量元素为Al、Si、K、Ca、Ti、Fe,它们主要以氧化物的形式存在,富铁漂珠的表面Fe相对含量较其它漂珠和沉珠高,Si主要以玻璃体形式存在,Al元素在燃烧冷却过程中基本实现了相对均匀再分布,Ca、Ti主要以钙钛矿的形式存在。 ......阅读全文
一种新的X射线能谱背景扣除方法
阐述了小波级数和多分辨率分析的基本思想 ,并将之应用于X射线能谱定量分析中的背景扣除 ,取得了良好的效果。实验结果表明 ,该扣除背景的方法不仅计算速度快 ,而且和其它的背景扣除方法相比 ,对含量低的元素的定量分析结果也更加理想
X射线能谱岩芯扫描分析技术的研究开发
XRF(X射线荧光光谱分析)岩芯扫描方法,是一种非破坏性的、高效的岩芯元素组成分布的XRF分析测试方法。我们研制的国内第一台XRF岩芯扫描仪将传统的点数据改为线扫描面积型数据,使数据对样品元素组成的变化趋势描述的更加准确,清晰,结合计算机数据分析,可以提供可靠的趋势数据。
高能闪光照相X射线能谱的理论研究
用 Ｍ ｏｎｔｅ Ｃａｒｌｏ 方法模拟球对称客体系统的闪光照相中 Ｘ 光光子的输运过程。分别在单客体情况和全系统情况下，给出了记录平面上各种光子谱及其在记录平面上的空间分布。结果表明：记录区边缘的谱形与源光子谱形很相似；深穿透区各点之间的谱形差别不大，谱平均光子能量近似相同，并且位于使高 Ｚ材料的光
关于X射线光电子能谱仪的简介
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合
X射线光电子能谱的原理和应用
一 X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示：hn=Ek+Eb+Er；其中：hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；Er：原子的反冲能量。其中Er
X射线光电子能谱的起源和发展
1887年,海因里希·鲁道夫·赫兹发现了光电效应,1905年,爱因斯坦解释了该现象(并为此获得了1921年的诺贝尔物理学奖)。两年后的1907年,P.D. Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球(电子能量分析仪)和照像平版做实验来记录宽带发射电子和速度的函数关系,他的实验事实上记录了人类第一条X
HL2A装置SDD软X射线能谱测量结果
用两道独立的硅漂移探测器(SDD)测量了HL-2A等离子体在电子回旋加热(ECRH)期间的软X射线能谱,给出了电子温度。SDD软X射线能谱测量系统所测量的结果与电子回旋辐射(ECE)所测量的电子温度分布能较好地相互吻合。SDD软X射线能谱测量结果表明:在轴ECRH期间,等离子体芯部(z=0)得到加热
X射线光电子能谱仪(XPS)的发展
X射线光电子能谱（XPS）也被称作化学分析电子能谱（ESCA）。该方法首先是在六十年代由瑞典科学家K.Siebabn 教授发展起来的。这种能谱最初是被用来进行化学元素的定性分析，现在已发展为表面元素定性、半定量分析及元素化学价态分析的重要手段。此外，配合离子束剥离技术和变角XPS技术，还可以进行
应用扫描电镜和X射线能谱仪研究钛酸钡
该文使用发射扫描电子显微镜和X射线能谱仪对钛酸钡进行表征。针对钛酸钡的材料特性和工作目标,采用了多种测试工作条件,通过其结果对比,找到了对钛酸钡进行形貌观察的最佳条件,并分析了其成分。
用X射线能谱(TEM)分析晶界偏析的方法
本文利用EM400T透射电子显微镜和EDAX9100能谱仪研究微量元素在晶界的偏聚。通过本文采用的电子束直径小到40A的微探针,低背底样品台,沿晶界拉长束斑,分段积分等措施,明显地提高了分析灵敏度。用这种方法测量了含磷820ppm的Si-Mn高强度钢和含镁94ppm的GH169高温合金中P和Mg的晶
软X射线能谱仪与透射光栅谱仪测量结果的对比
对软 X射线谱仪和透射光栅谱仪的测量结果进行了对比。它们的回推谱形大致符合 ,只是透射光栅谱仪的复原谱的 N带相对于 O带太小。其原因可能是 X射线 CCD受到靶室油沾污 ,在表面形成了碳膜 ,对 N带吸收较多。经过对透射光栅谱进行吸收补偿后 ,两种谱仪的复原谱基本一致。
X射线能谱分析原理
X射线能谱分析原理 X射线能谱定性分析的理论基础是Moseley定律，即各元素的特征X射线频率ν的平方根与原子序数Z成线性关系。同种元素，不论其所处的物理状态或化学状态如何，所发射的 特征X射线均应具有相同的能量。 X射线能谱定性分析是以测量特征X射线的强度作为分析基础，可分为有标样
HL1装置硬X射线能谱及长脉冲放电与硬X射线的发射关系
在HL-1装置上初步测硬(?)射线能谱,能量达5MeV。实验观测到长脉冲放电与硬(?)射线的关系,并得到逃逸电子的径向扩散。
HL1装置硬X射线能谱及长脉冲放电与硬X射线的发射关系
在HL-1装置上初步测硬(?)射线能谱,能量达5MeV。实验观测到长脉冲放电与硬(?)射线的关系,并得到逃逸电子的径向扩散。
1650万，－南京大学采购色质联用、X射线能谱仪、X射线衍射仪等
高等学校具有学科和人才方面的优势，因而积聚着科学技术的巨大潜力，是发展科学技术的重要基地。它不仅提供了大量的科研成果，还直接影响着科研与开发的质量，对国家的政治、经济、文化和教育各个方面起着保证和平衡的作用，在科学研究事业中占有极为重要的地位。 近日，南京大学就“南京大学苏州校区科研仪器共享中
HL1装置硬X射线能谱及长脉冲放电与硬X射线的发射关系
在HL-1装置上初步测硬(?)射线能谱,能量达5MeV。实验观测到长脉冲放电与硬(?)射线的关系,并得到逃逸电子的径向扩散。
1650万，－南京大学采购色质联用、X射线能谱仪、X射线衍射仪等
近日，南京大学就“南京大学苏州校区科研仪器共享中心高效液相色谱质谱联用仪采购项目”、“南京大学苏州校区科研仪器共享中心多功能X射线光电子能谱仪采购项目”、“南京大学苏州校区科研仪器共享中心X射线衍射仪(基础版)采购项目”、“南京大学苏州校区科研仪器共享中心X射线单晶衍射仪采购项目”发布公开招标公
云南天文台伽玛射线暴X射线能谱研究获进展
伽玛射线暴是宇宙中剧烈的爆发现象，高能伽玛射线辐射过后的X射线、光学、射电等波段的余辉辐射研究，是确定爆发前身星和星周环境基本物理性质的关键。伽玛暴通常被认为是银河系外的辐射，而余辉的X射线线特征探测，是确认伽玛射线暴红移（即距离）的重要手段。伽玛射线暴X射线能谱的发射线探测始于上世纪末，尽管极
X射线光电子谱
凯.西格班（Kai Manne Borje Siegbahn，1918- ）一直从事核能谱的研究。20世纪50年代，他和同事们用双聚焦磁式能谱仪研究放射性能谱。当时，往往会因为回旋加速器的原因不得不停下来等待放射性样品。能否用一种更容易掌握的代用品来激发放射性辐射呢？凯.西格班设想用X射线管使材料发
云南天文台伽玛射线暴X射线能谱发射线探测研究获进展
伽玛射线暴是宇宙中剧烈的爆发现象，高能伽玛射线辐射过后的X射线、光学、射电等波段的余辉辐射研究，是确定爆发前身星和星周环境基本物理性质的关键。伽玛暴通常被认为是银河系外的辐射，而余辉的X射线线特征探测，是确认伽玛射线暴红移（即距离）的重要手段。伽玛射线暴X射线能谱的发射线探测始于上世纪末，尽管极
HT7电子加热实验的软X射线能谱诊断
介绍了HT-7装置上软X射线能谱诊断系统,用软X射线能谱对HT-7托卡马克上电子温度进行了测量。在离子伯恩斯坦波和低杂波协同实验中,观察到了对等离子体的较好的加热效果。
用于电子显微镜中的X射线能谱仪
本文扼要介绍了目前国内外用于电子显微镜中的X射线能谱仪的发展概况、应用情况以及达到的测量水平,并分别叙述了硬件和软件两方面现状、水平及近期改进的展望。 CAJ下载PDF下
表面层外全反射角X射线能谱微分析
电子探针微区分析(EPMA,XRMA)由于X射线激发深度较大而对薄层分析产生困难,无法准确确定分析结果是样品表面的成分还是样品体相的成分。本工作在通常的X射线微区分析设备上,采用外全反射角X射线能谱微分析方法,通过对硅衬底上不同膜厚的铝膜和铜膜的测定,探索出一种区分膜成分和体相成分的新方法。结果表明
X射线能谱法测定土壤中7种主次量元素
采用粉末样品压片制样，土壤标准物质以及人工合成标样为标准，用Ｘ 射线荧光能谱仪对土壤试样中的Ｓｉ、Ｋ、Ｃａ 、Ｔｉ、Ｍｎ 、Ｆｅ 和Ｓｒ ７ 种主、次量元素进行测定。讨论了基体效应及校正等问题。方法经土壤标样分析验证，其结果与标准值符合较好，方法的精密度（ ＲＳＤ，ｎ ＝ ５） ＜ ３ ％ 。
x射线光电子能谱的基本原理
X射线光子的能量在1000～1500ev之间，不仅可使分子的价电子电离而且也可以把内层电子激发出来，内层电子的能级受分子环境的影响很小。 同一原子的内层电子结合能在不同分子中相差很小，故它是特征的。光子入射到固体表面激发出光电子，利用能量分析器对光电子进行分析的实验技术称为光电子能谱。XPS的原理是
X射线能谱处理中NaI(Tl)闪烁体边界效应矩阵
用 NaI(Tl)闪烁谱仪测量 X 射线机产生的 X 射线能谱是一个较为方便的方法。在此方法的应用中应当考虑到闪烁体边界效应的影响。本文报道了在解谱中表征这一影响的两个矩阵的蒙特-卡罗计算方法和计算结果,并对计算结果作了简要讨论。
你应该知道的X射线光电子能谱仪
X射线光电子能谱仪 X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如AlKa=1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而
岛津中标长安大学X射线光电子能谱仪
一、项目编号：CZB2022501H/RH采字［20221201］（招标文件编号：CZB2022501H/RH采字［20221201］号） 二、项目名称：长安大学企业信息X射线光电子能谱仪项目 三、中标（成交）信息 供应商名称：西安励德博特科学仪器有限公司企业信息 供应商地址：陕西省西安
X射线能谱Si(Li)探测器污染问题的研讨
通常X射线能谱Si(Li)探测器经使用后,不可避免地会受到污染,污染可分为两类:探测器外部——Be窗口污染;探测器内部——Si(Li)晶体和场效应管的污染。前者主要是探测器在有油真空中使用,探测器的低温使油蒸气不断凝结在Be窗口上,形成一层油膜,形成探测器外部的污染。后者主要是探测器真空容器密封不完
X射线光电子能谱仪的技术参数
指标信息： 主真空室：1×10-10 Torr XPS：0.5eV, AES: 分辨率：0.4%, 电子枪束斑：75nm , 灵敏度：1Mcps信噪比：大于70:1 角分辨：5°～90°. A1/Mg双阳极靶 能量分辨率：0.5eV ,灵敏度：255KCPS, 使用多通道检测器（MCD）