助力半导体工业日本电子推出高通量分析电镜JEMACE200F
分析测试百科网讯 近日，日本电子总裁Gon-emon Kurihara对外宣布，日本电子将在2018年12月发布一款新型高通量分析电子显微镜—JEM-ACE200F，公司预设销售数量为30台/年。 产品开发背景 随着半导体工业中元器件进一步小型化，透射电镜已经成为元器件表征多种手段中必不可少的工具之一。这些工具，研究人员可以进行形态学观察、临界尺寸测量、元素分析、局部应变分析和掺杂浓度测量，尤其是半导体工业对形态观察、临界尺寸测量、元素分析等方面的数据采集提出了快速、稳定、高分辨率的要求，以便将这些数据采集反馈至制造过程。 针对以上需求，日本电子开发了一种全新的高通量TEM，即JEM-ACE200F。JEM-ACE200F可通过创建无需操作人员看管实际操作工作流程系统实现样品自动检测和数据自动生成。由于集成了JEM-ARM200F和FE-TEM JEM-F 200技术，JEM-ACE200F在性能和稳定性方面......阅读全文
TEM分析中电子衍射花样的标定原理:－孪晶电子衍射花样
二次衍射在电子束穿行晶体的过程中，会产生较强的衍射束，它又可以作为入射束，在晶体中产生再次衍射，称为二次衍射。二次衍射形成的新的附加斑点称作二次衍射斑。二次衍射很强时，还可以再行衍射，产生多次衍射。产生二次衍射的条件：1、晶体足够厚；2、衍射束要有足够的强度。二次衍射花样形成的示意图
TEM（透射电子显微镜）透射电子衍射图谱解析
TEM（透射电子显微镜）透射电子衍射图谱解析2017-12-04 07:00透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短
TEM分析中电子衍射花样的标定原理:－孪晶电子衍射花样
孪晶电子衍射花样所谓孪晶，通常指按一定取向关系并排生长在一起的同一物质的两个晶粒。从晶体学上讲，可以把孪晶晶体的一部分看成另一部分以某一低指数晶面为对称面的镜像；或以某一低指数晶向为旋转轴旋转一定的角度。孪晶的分类：1、按晶体学特点：反映孪晶和旋转孪晶；2、按形成方式：生长孪晶和形变孪晶；3、按孪晶
TEM分析中电子衍射花样的标定原理：电子衍射的成像原理
电子衍射谱的成像原理在用厄瓦尔德球讨论X射线或者电子衍射的成像几何原理时，我们其实是把样品当成了一个几何点，但实际的样品总是有大小的，因此从样品中出来的光线严格地讲不能当成是一支光线。之所以我们能够用厄瓦尔德来讨论问题，完全是由于反射球足够大，存在一种近似关系。如果要严格地理解电子衍射的形成原理，就
透射电子显微镜TEM的原理知识
透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件
透射电子显微镜的TEM成像原理
透射电子显微镜的成像原理 可分为三种情况： 吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。 衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分不
投射电子显微镜技术(TEM)成像特点
1 像平面上的电子像是原晶体(三维)在入射方向平面的(二维)投影,也就是将三维信息转换成二维图像.提高电子发射电压,提高透镜的焦距均可以扩大对比度(衬度)2电子衍射图谱反映的是电子和晶体场经过衍射作用后的图像,它反映的是晶体结构以及电荷分布.非晶样品无衍射图谱,多晶样品在同一衍射点上有多个衍射图像,
透射电子显微镜(Transmission－electron－microscopy,－TEM)
透射电镜具有很高的空间分辩能力，特别适合纳米粉体材料的分析。其特点是样品使用量少，不仅可以获得样品的形貌，颗粒大小，分布以还可以获得特定区域的元素组成及物相结构信息。透射电镜比较适合纳米粉体样品的形貌分析，但颗粒大小应小于300nm，否则电子束就不能透过了。对块体样品的分析，透射电镜一般需要对样品进
投射电子显微镜技术(TEM)成像特点
1 像平面上的电子像是原晶体(三维)在入射方向平面的(二维)投影,也就是将三维信息转换成二维图像.提高电子发射电压,提高透镜的焦距均可以扩大对比度(衬度)2电子衍射图谱反映的是电子和晶体场经过衍射作用后的图像,它反映的是晶体结构以及电荷分布.非晶样品无衍射图谱,多晶样品在同一衍射点上有多个衍射图像,
透射电子显微镜（TEM）的工作原理
工作原理透射电镜和扫描电镜一样，利用聚焦电子束作为照明源，不同的是，透射电镜是以透射电子为成像信号，而扫描电镜是以二次电子、背散射电子等为成像信号（如下图所示）。由于透射电镜样品需要很薄，大部分电子会穿透样品，其强度分布与所观察样品的形貌、组织、结构一一对应。透过样品后的电子束经物镜汇聚调焦和初级放
TEM物镜
物镜（object lens） 处于样品室下面，紧贴样品台，是电镜中的第1个成像元件，在物镜上产生哪怕是极微小的误差，都会经过多级高倍率放大而明显地暴露出来，所以这是电镜的一个最重要部件，决定了一台电镜的分辨本领，可看作是电镜的心脏。 （1）特点 物镜是一块强磁透镜，焦距
TEM原理
原 理透射电镜和光学显微镜的各透镜及光路图基本一致，都是光源经过聚光镜会聚之后照到样品，光束透过样品后进入物镜，由物镜会聚成像，之后物镜所成的一次放大像在光镜中再由物镜二次放大后进入观察者的眼睛，而在电镜中则是由中间镜和投影镜再进行两次接力放大后最终在荧光屏上形成投影供观察者观察。电镜物镜成像光路图
TEM样品
1. 样品一般应为厚度小于100nm的固体。2. 感兴趣的区域与其它区域有反差。3. 样品在高真空中能保持稳定。4. 不含有水分或其它易挥发物，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去。5. 对磁性试样要预先去磁，以免观察时电子束受到磁场的影响。TEM样品常放置在直径为3mm的200目样品网上，在样
日本企业推出新型电子黑板
日本夏普、理光等企业近期开展了电子黑板产品的研发，新开发的电子黑板具有小型化、智能化的特点，更加适应未来的多样化办公环境。 夏普公司将于2017年2月上市其研发的40型中型电子黑板，该电子黑板以人数较少的会议为目标对象，是目前日本国内最小的电子黑板。电子黑板使用面向液晶屏幕的专用笔进行书写，
日本电子扫描电镜共享
仪器名称：扫描电镜仪器编号：02012309产地：日本生产厂家：日本电子公司型号：JSM-6460LV出厂日期：200208购置日期：200210所属单位：材料学院>先进材料薄膜材料实验室放置地点：逸夫技科楼1134室固定电话：固定手机：固定email：联系人：曾飞（010-62795373,186
2025年度前三季度电镜中标盘点：最受欢迎的明星型号都有谁？
电镜是材料科学、生命科学、半导体工业、纳米技术等领域不可或缺的分析工具。电子显微镜主要包括：扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM），还有一种分类把聚焦离子束（FIB-SEM）单独分出来，但在本文的统计中，FIB-SEM算到扫描电镜中进行统计。 本文首先介绍了不同类型显微镜的工作原理、技术特点及
TEM分析中电子衍射花样的标定原理:－超点阵花样
超点阵花样当晶体是由两种或者两种以上的原子或者离子构成时，对于晶体中的任何一种原子或者离子，如果它能够随机地占据点阵中的任何一个阵点，则我们称该晶体是无序的；如果晶体中不同的原子或者离子只能占据特定的阵点，则该晶体是有序的。晶体从无序相向有序相转变以后，在产生有序的方向会出现平移周期的加倍，从而引起
TEM分析中电子衍射花样的标定原理:－菊池花样
在稍厚的薄膜试样中观察电子衍射时，经常会发现在衍射谱的背景衬度上分布着黑白成对的线条。这时，如果旋转试样，衍射斑的亮度虽然会有所变化，但它们的位置基本上不会改变。但是，上述成对的线条却会随样品的转动迅速移动。这样的衍射线条称为菊池线，带有菊池线的衍射花样称之为菊池衍射谱。菊池花样在晶体材料分析方面，
半导体展会|2024上海汽车电子芯片展览会「上海半导体展」
展会名称：2024中国（上海）国际半导体展览会英文名称：China (shanghai) int'l Circuit board & Electronic assembly Show 2024展会时间：2024年11月18-20日 论坛时间：2024年11月18-19日 展会地点：上海新国际
JEOL发布新型电子显微镜JEM1400Flash
分析测试百科网讯 近日，JEOL有限公司发布了新的电子显微镜JEM-1400Flash。 透射电子显微镜（TEM）用于生物学，纳米技术，聚合物和先进材料等广泛领域。在生物标本或大分子材料的观察中，通常首先在低放大倍率下确认细胞组织或材料的整个结构，然后在高倍率下仔细研究感兴趣的细小结构。为了顺
日本电子钨灯丝扫描电子显微镜共享
仪器名称：钨灯丝扫描电子显微镜仪器编号：15029083产地：日本生产厂家：日本电子型号：JSM-lT300出厂日期：2015.3购置日期：201512样品要求：样品室尺寸：330mm(长) x 285mm(深) x 340mm（高），可装直径≥200mm的样品固体或者粉末预约说明：节假日之外周二上
电子显微镜新型电子源在日本问世
近日，日本物质材料研究机构的研究人员开发出一种新型电子源，有望使电子显微镜的识别和测定能力得到飞跃式提高。 据介绍，开发出这种新型电子源的是日本物质材料机构的两名华人科学家，一次元材料组组长唐捷和研究员张涵（音译）。为了大幅度提高电子显微镜的性能，他们重点进行了新型电子源的
电子显微镜新型电子源在日本问世
近日，日本物质材料研究机构的研究人员开发出一种新型电子源，有望使电子显微镜的识别和测定能力得到飞跃式提高。 据介绍，开发出这种新型电子源的是日本物质材料机构的两名华人科学家，一次元材料组组长唐捷和研究员张涵（音译）。为了大幅度提高电子显微镜的性能，他们重点进行了新型电子源的开发，同时在电子放射
全国半导体照明电子行业测试标准发布
1月24日，由中国电子技术标准化研究所、工业和信息化部半导体照明技术标准化工作组等联合主办的2010年全国半导体照明电子行业标准发布及宣传贯彻大会在广东省江门市召开，标志着我国LED产业发展进入一个新的历史时期。 工业和信息化部于2005年成立了半导体照明技术标准工作组。经过多年的努力，工
超纯半导体开辟电子研究新领域
普林斯顿大学的研究人员创造了世界上最纯的砷化镓样品，这是用于卫星等专门系统的一种半导体。照片显示了观察二维平面电子的实验装置内的样品。样品的纯度揭示了在相对较弱的磁场下的奇异效应，这种效应尚未有确定的理论框架。 美国普林斯顿大学的研究人员研制出了世界上最纯净的砷化镓样品。砷化镓是一种半导体，用
新型薄膜半导体电子迁移速度创纪录
科技日报北京7月17日电 （记者刘霞）据美国趣味科学网站16日报道，来自美国麻省理工学院、美国陆军作战能力发展司令部（DEVCOM）陆军研究实验室和加拿大渥太华大学等机构的科学家，利用名为三元石英的晶体材料，成功研制出一种新型超薄晶体薄膜半导体。薄膜厚度仅100纳米，约为人头发丝直径的千分之一。其
超纯半导体开辟电子研究新领域
普林斯顿大学的研究人员创造了世界上最纯的砷化镓样品，这是用于卫星等专门系统的一种半导体。照片显示了观察二维平面电子的实验装置内的样品。样品的纯度揭示了在相对较弱的磁场下的奇异效应，这种效应尚未有确定的理论框架。图片来源：普林斯顿大学 美国普林斯顿大学的研究人员研制出了世界上最纯净的砷化镓样品。砷
新型薄膜半导体电子迁移速度创纪录
据美国趣味科学网站16日报道，来自美国麻省理工学院、美国陆军作战能力发展司令部（DEVCOM）陆军研究实验室和加拿大渥太华大学等机构的科学家，利用名为三元石英的晶体材料，成功研制出一种新型超薄晶体薄膜半导体。薄膜厚度仅100纳米，约为人头发丝直径的千分之一。其中电子的迁移速度创下新纪录，约为传统半导
日本电子又推出高端扫描电镜
2011年7月26日，日本电子株式会社全球又同步推出一款超高分辨率的热长发射扫描电镜JSM-7800F。它的分辨率可达 0.8nm (15kV)， 1.2nm (1kV)。稳定的大电流可实现高速精准的成分分析，且应用面极广。 在中国从推出之日起一年内为推广期，价格优惠。
TEM球差
球差不完美透镜导致的直接结果就是引入了让显微学者最头疼的球差。电子的聚焦是靠洛伦兹力来实现的，在洛伦兹力的作用下，电子以旋进的方式聚焦。在TEM里有一条光轴，就和光学显微镜中的光轴一样，偏离光轴时，透镜对光的聚焦能力和靠近光轴的聚焦能力是不同的。当然了，原则上是希望穿过透镜的光都能聚焦到焦点上。这点