蔡司SEM家族再添新成员全新Sigma300RISE关联显微系统上线
近期，蔡司在北京正式发布了全新Sigma300-RISE关联显微镜系统。作为一家拥有170多年历史且专注于显微技术研发的企业，蔡司从未停止其与科研俱进的脚步。 与德国Witec公司合作，蔡司对共焦Raman显微镜系统进行了改进，实现了快速Raman成像（Fast Raman Imaging），并成功将其集成到现有的SEM平台上，实现了关联SEM-EDS-Raman成像分析能力。至此，继EDS，EBSD, CL, EBL等各种分析与材料改性功能后，蔡司SEM平台的新家族成员 – RISE（Raman Imaging Scanning Electron Microscope）,即关联SEM-Raman显微镜系统的加入，为您的科研提供了全方位的解决方案。 作为全新的关联分析解决方案，蔡司Sigma300-RISE系统不仅能够实现FESEM和传统共焦Raman分析的所有功能，同时还带来了更为高效而强大的分析能力：基于蔡司独特Ge......阅读全文
SEM图像分析软件
SEM图片是电子扫面的图片，把微观世界放大到几千甚至上万倍，这个图片是需要你结合自身的知识背景加以专业的判断才能得出的结论的，而不是有什么软件会告诉你什么图片能说明啥。
SEM－和AFM对比
SEM 和AFM 是两种类型的显微镜,它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。SEM 需要真空环境中进行,而AFM 是在空气中或液体环境中操作。环境问题有时对解决具体样品显得尤为重要。首先,我们经常遇到的是像生物材料这一类含水试样的研究问题。这两种技术通过不同的方法互为补偿,SEM 需要环境室,而A
sem如何调清晰
关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。SEM想清楚这个要自己多试条件，不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的，当然条件确认的情况下，就是要看你的技术咯，电子束对中，像散调节，wobble，最后就是f
蔡司增强在多尺度和多模态图像工作流程方面的效率
研究人员将实现更快速的FIB-SEM样品制备、获得更精准的3D断层扫描图像和更完整的数据报告。 德国耶拿，2019年12月2日 现在，材料和生命科学领域的研究人员在研究3D样品时，可以更快速便捷地获取样品更深层次研究区域的信息。借助蔡司Crossbeam 350/550和Atlas 5的新功
新型ZEISS－MultiSEM－505－用于脑神经组织成像
蔡司将在2014年11月15日-19日，于华盛顿举行的神经系统科学年会上展出ZEISS MultiSEM 505，这是蔡司推出的一款新型扫描电镜。该仪器将会同时产生61条电子束，并提供每秒达到1220百万像素(每个像素尺寸为4nm)的捕获速度。如此高的捕获速度可用于大脑研究中神经组织成像，当前的
蔡司－Elyra－7－Lattice－SIM－全新推出
全新一代快速、温和的超高分辨率显微镜3D成像系统 2018年12月04日，蔡司推出了全新的Elyra 7 Lattice SIM ，这是一种快速、温和、灵活的全新超高分辨率显微镜3D成像系统。Lattice SIM 扩展了结构化照明显微镜（SIM）的应用范围：采用晶格图案而非光栅可使图像对比度更高
直击第二届进博会：这些分析仪器厂商的高光时刻来了！
分析测试百科网讯 11月5日，第二届中国国际进口博览会（以下简称“进博会”）在上海国家会展中心正式开幕。据了解，本届展会规模空前，约有来自150多个国家和地区的3000多家企业签约参展，共分为国家展区和七个企业展区，包括科技生活、汽车、装备、医疗器械及医药保健、品质生活、服务贸易和食品与农产品展
SEM样品要烘干水分？
1、高真空环境是分子流,湿的样品不断释放水蒸气,使高真空情况下,真空度很难上升,往往达不到比较优越的条件. 2、水蒸气和2000多度高温的钨丝反应,会加速电子枪灯丝挥发,极大降低灯丝寿命. 3、对电子束的散射,会造成信号损失 4、污染样品
TEM和SEM的区别：
TEM和SEM的区别：当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜收集二次电子和背散射电子的信息，透射电镜收集透射电子的信息。SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或
sem主要用于观察？
46个知识点扫盲 1. 光学显微镜以可见光为介质，电子显微镜以电子束为介质，由于电子束波长远较可见光小，故电子显微镜分辨率远比光学显微镜高。光学显微镜放大倍率最高只有约1500倍，扫描式显微镜可放大到10000倍以上。 2. 根据de Broglie波动理论，电子的波长仅与加速电压有关：
TEM和SEM的区别
当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜收集二次电子和背散射电子的信息，透射电镜收集透射电子的信息。 SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定
SEM与TEM的区别
一、性质不同1、SEM：根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。2、TEM：把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。二、原理不同1、TEM（1）吸收像：当电子被发射到高质量和高密度的样品时，主要的相位形
SEM与TEM的区别
一、性质不同1、SEM：根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。2、TEM：把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。二、原理不同1、TEM（1）吸收像：当电子被发射到高质量和高密度的样品时，主要的相位形
SEM对样品的要求
对样品的要求1、不会被电子束分解2、在电子束扫描下热稳定性要好3、能提供导电和导热通道4、大小与厚度要适于样品台的安装5、观察面应该清洁，无污染物6、进行微区成分分析的表面应平整7、磁性试样要预先去磁，以免观察时电子束受到磁场的影响
SEM镀碳还是镀金
对于导电性较差或绝缘的样品若采用常规扫描电镜来观察，则必须通过喷镀金、银等重金属或碳真空蒸镀等手段进行导电性处理。所有的样品均必须无油污，无腐蚀等，以免对镜筒和探测器的污染。
结合SEM和TEM技术
结合SEM和TEM技术 还有一种电子显微镜技术被提及，它是透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）的结合，即扫描透射电镜（STEM）。 如今，大多数透射电镜（TEM）可以切换到“STEM模式”，用户只需要改变其对准程序。 在扫描透射电镜（STEM）模式下，光束被精确聚焦并扫描样品区域（如SEM），而图
SEM灯丝寿命的终结
SEM灯丝寿命的终结 如何判断灯丝寿命的尽头？对于钨灯丝，你根本看不到它的到来。这意味着灯丝可能在成像或分析过程断裂，这会带来很多不便。来自灯丝的碎片也可能污染真空柱的其他部件，这不仅需要换灯丝，还要清理、甚至更换其他部件，如韦氏帽。 当然，可以在使用寿命结束前更换灯丝，但它没有得到充分利用，因此需
SEM样品破坏的原因
样品破坏的原因 样品的破坏与加速电压有关，灯丝产生的电子可以与样品原子中的电子相互作用。如果样品中的价电子（可以参与形成化学键的电子）碰巧从原子中被激发，它将留下一个电子空位。该电子空位必须在100飞秒内被另一个电子填充，否则化学键将被破坏。 在导电材料中，这不是问题，因为电子空位填充在1飞秒（fs
sem样品要求有哪些
描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到3
SEM灯丝：使用寿命
灯丝：使用寿命 钨灯丝的平均寿命取决于它的使用，大约是150小时。有一些技巧可以延长灯丝的使用寿命。一种是当测完样品后，不要急着卸载样品，可以先等5分钟。这使灯丝冷却一点，减少氧化。当然，这个小技巧会降低测样效率，因为需要多等5分钟。 另一种选择是使用低加速电压、低束流成像，这可以增加灯丝寿命，但往
SEM，EDS，XRD的区别
SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪。能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪，是用于物
FTIR和SEM是什么
傅立叶转换红外线光谱(FTIR)测试:FTIR技术可以用来侦测各种不同的化学分子，并且对于同时出现的不同种类化学物质具有相当高的鉴别率。(SEM)扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。1942年，英国首先制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相时间太长，所
SEM、TEM、XRD的区别
SEM、TEM、XRD的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、一、名称不同1、SEM，英文全称：Scanning electron microscope，中文称：扫描电子显微镜。2、TEM，英文全称：Transmission Electron Microscope，中文称：透射电子显微镜3、X
只需3分钟，2018年电镜重点大事了然于胸
500万以上电镜中标汇总及分析 #abcd2 td{border:1px solid #666666} 采购单位
蔡司工业质量线上峰会即将召开
在第25个“世界计量日”到来之际，蔡司将于5月20日至24日举办ZEISS Quality Innovation Days中国场线上峰会。本次峰会以“蔡司，‘质’敬明天”为主题，紧扣今年世界计量日主题“Sustainability（可持续发展）”。会上，全球行业精英将共同围绕新能源、医疗、压铸、电子
卡尔蔡司发布激光层照显微系统
卡尔蔡司激光层照显微系统(Lightsheet Z.1) ――低光毒性的大型生物活体样本的三维荧光成像 2012年10月15日 德国，耶拿 / 美国，新奥尔良 在路易斯安那州新奥尔良的神经科学年度会议上，卡尔蔡司的显微镜事业部提出了一项新的显微技术，即激光层照显微镜(Light
蔡司全自动玻片扫描仪共享
仪器名称：蔡司全自动玻片扫描仪仪器编号：18508551产地：德国生产厂家：zeiss型号：axio scan z1出厂日期：购置日期：2018-12-25所属单位：生命学院>清华-IDG/麦戈文脑科学共享仪器开放实验室放置地点：医学科学楼D205固定电话：固定手机：13508411399固定ema
蔡司专访－|－聚焦精准医疗，构建多元合作
分析测试百科网讯，2021年3月28-30日，第十八届中国国际检验医学暨输血仪器试剂博览会（简称“CACLP”）在重庆国际博览中心召开。展台上，蔡司显微镜临床业务负责人黄代斌先生接受了分析测试百科网专访，他不仅带我们一览蔡司在肿瘤临床诊断领域的系列方案，还回顾了蔡司2020年在疫情大考下的奉献以
JKSEM1900型原位冷热台
JK-SEM1900型原位冷热台 JK-SEM1900型原位冷热台是一种在扫描电子显微镜（SEM）标准样品台上（无需改造电镜内部），提供样品原位变温测试的电镜附件。通过外接法兰装置实现对冷热台上的样品进行控温，稳定后温控精度可达±0.1℃ 可实现样品变温测试的温度范围：-185~50℃
Rise3002型颗粒图像仪的应用范围及技术参数
应用范围 适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、粉尘、填料等各种粉末颗粒的粒度测量、形貌观察和分析。 技术参数 1.量程范围：0.5～3000μm； 2.放大倍数：＞5000倍。 3.显微镜：光学显微镜 4.最大分辨率：0.1μm/像素； 5.准确性及重复性误差：＜3%； 6.数