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扫描探针显微镜的分类有哪些?

扫描探针显微镜不是简单成像的显微镜,而是可以用于在原子、分子尺度进行加工和操作的工具。扫描探针显微镜的应用领域是宽广的,无论是物理、化学、生物、医学等基础学科,还是材料、微电子等应用学科都有用武之地。扫描探针显微镜的种类 扫描探针显微镜主要可分为扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)、力调制显微镜(FMM)、相位检测显微镜(PDM)、静电力显微镜(EFM)、电容扫描显微镜(SCM)、热扫描显微镜(SThM)和近场光隧道扫描显微镜(NSOM)等各种系列显微镜。 这些显微镜都是基于探针在被测样本表面上进行横向和纵向扫描,并检测探针针头与样品表面之间相关检测量变化的原理研制的设备,因此,以上各系列显微镜被统称扫描探针显微镜(SPM)。扫描隧道显微镜 扫描隧道显微镜(STM)的基本原理是基于量子隧道效应。当针尖和试样面间距离足够小时(<0.4nm),在针尖和试样面间施加一偏置电压,便会产生隧道效应,电子在针尖和试......阅读全文

扫描探针显微镜的分类有哪些?

 扫描探针显微镜不是简单成像的显微镜,而是可以用于在原子、分子尺度进行加工和操作的工具。扫描探针显微镜的应用领域是宽广的,无论是物理、化学、生物、医学等基础学科,还是材料、微电子等应用学科都有用武之地。扫描探针显微镜的种类  扫描探针显微镜主要可分为扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)、

扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法

扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法。提供能够使用配置于扫描探针显微镜的物镜来自动地进行光杠杆的光轴调整的扫描探针显微镜和其光轴调整方法。是一种扫描探针显微镜(100),所述扫描探针显微镜(100)具备:悬臂支承部(11),以规定的安装角(θ)安装悬臂(4);移动机构(21),对悬臂的位置进

扫描探针显微镜及扫描方法

扫描探针显微镜和扫描方法,其能减小或避免因探针尖与样品碰撞而造成的损害,缩短测量时间,提高生产力和测量精确度,不受粘附水层的影响收集样品表面的观测数据,如形貌数据。显微镜具有振动探针尖的振动单元、探针尖与样品表面接近或接触时收集观测数据的观测单元、探针尖与样品表面接近或接触时检测探针尖振动状态变化的

扫描探针显微镜简介

  扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜(原子力显微镜AFM,激光力显微镜LFM,磁力显微镜MFM等等)的统称,是国际上近年发展起来的表面分析仪器,是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检

扫描探针显微镜概述

  扫描探针显微镜以其分辨率极高(原子级分辨率)、实时、实空间、原位成像,对样品无特殊要求(不受其导电性、干燥度、形状、硬度、纯度等限制)、可在大气、常温环境甚至是溶液中成像、同时具备纳米操纵及加工功能、系统及配套相对简单、廉价等优点,广泛应用于纳米科技、材料科学、物理、化学和生命科学等领域,并取得

扫描探针显微镜的特点

扫描探针显微镜具有极高的分辨率;得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像;使用环境宽松等特点。选择好的扫描探针显微镜推荐Park NX-Hivac。Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比,高真空测量

扫描探针显微镜的优势

  SPM作为新型的显微工具与以往的各种显微镜和分析仪器相比有着其明显的优势:  首先,SPM具有极高的分辨率。它可以轻易的“看到”原子,这是一般显微镜甚至电子显微镜所难以达到的。  其次,SPM得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像。而不同于某些分析仪器是通过间接的或计算的方法来推算样品的表

扫描探针显微镜的应用

  目前扫描探针显微镜中最为广泛使用管状压电扫描器的垂直方向伸缩范围比平面扫描范围一般要小一个数量级,扫描时扫描器随样品表面起伏而伸缩,如果被测样品表面的起伏超出了扫描器的伸缩范围,则会导致系统无法正常甚至损坏探针。因此,扫描探针显微镜对样品表面的粗糙度有较高的要求;  由于系统是通过检测探针对样品

扫描探针显微镜的特点

扫描探针显微镜具有极高的分辨率;得到的是实时的、真实的样品表面的高分辨率图像;使用环境宽松等特点。选择好的扫描探针显微镜推荐Park NX-Hivac。Park NX-Hivac通过为失效分析工程师提供高真空环境来提高测量敏感度以及原子力显微镜测量的可重复性。与一般环境或干燥N2条件相比,高真空测量

扫描探针显微镜的原理

扫描电子显微镜的原理是由最上边电子枪发射出百来的电子束,经栅极聚焦后,在加速电压作用下,经过二至三个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成一个细的电子束聚焦在样品表面。在末级透镜上边装有扫描线圈,在它的作用下使电子束度在样品表面扫描。由于高能电子束与样品物质的交互作用,结果产生了各种信息:二次电