各种仪器分析基本原理及谱图表示方法（二）

阻抗匹配与史密斯(Smith)圆图：基本原理（二）

我们知道反射系数定义为反射波电压与入射波电压之比：图3. 负载阻抗负载反射信号的强度取决于信号源阻抗与负载阻抗的失配程度反射系数的表达式定义为：由于阻抗是复数，反射系数也是复数为了减少未知参数的数量，可以固化一个经常出现并且在应用中经常使用的参数这里Z0 (特性阻抗)通常为常数并且是实数，是常用的归

分子诊断技术基本原理及常见方法（二）

［基础知识］质谱介绍及质谱图的解析

　　质谱介绍及质谱图的解析　　质谱法是将被测物质离子化，按离子的质荷比分离，测量各种离子谱峰的强度而实现分析目的的一种分析方法。质量是物质的固有特征之一，不同的物质有不同的质量谱——质谱，利用这一性质，可以进行定性分析（包括分子质量和相关结构信息）；谱峰强度也与它代表的化合物含量有关，可以用于定量分

粒径测量及用于磨料的各种颗粒仪器

   磨料是对粒度要求最严格的行业之一。我们从各磨料出口企业了解到，发达国家（如美国、德国、日本）的进口商大多采用激光粒度仪作为磨料粒度日常检测的仪器。日本磨料的国家标准仪器是库尔特（电阻法）计数器。可见，在磨料行业，全世界同时有多种不同原理的仪器在使用。但在应用实践中，不同仪器对同一样品的测量结果

质谱分析法术语质谱图

质谱图（mass spectrogram）质谱测定结果经计算机处理统计后，以棒状图（或数据列表形式）表示的谱图。它是二维图谱，横坐标表示离子的质荷比（m/z），对于单电荷的离子，电荷数z＝1，横坐标表示的数值即为离子的质量；纵坐标表示离子流的强度，通常用相对强度来表示，即把被记录的各个质量数的离子峰

乙苯的质谱图分析过程是什么

乙苯( ethylbenzene)一种芳烃。分子式C6H5C2H5。存在于煤焦油和某些柴油中。易燃,其蒸气与空气可形成爆炸性混合物。遇明火、高热或与氧化剂接触,有引起燃烧爆炸的危险。    乙苯的质谱图甲基的质谱峰可以区分乙苯（正丙苯）和异丙苯：周围氢原子数不同（N+1规则）亚甲基质谱峰可以区分乙苯

各种常用粒度测试方法特点分析

粉体材料有很多物理指标，主要反映在组成粉体材料颗粒的一些参数，包括粒度、粒形、表面积、孔径、带电特性以及堆积性能和流动性能等。粒度测试是一门跨学科、跨领域技术，它需要面向几十个领域中的各式粉体和千差万别的用户，因此要求从事颗粒测试工作的人员具有丰富的理论知识和实践经验。其中理论知识包括颗粒学、物理学

各种烟气分析方法的适用比较

　　传统的烟气分析方法即奥式气体分析法是利用不同的溶液来相继吸收气体试样中的不同组分：用40％的氢氧化钠吸收试样中的二氧化碳；用焦没食子酸钾溶液吸收试样中的氧气；用氨性氯化亚铜溶液来吸收试样中的一氧化碳。然后根据吸收前后试样体积的变化来计算各组分的含量。奥氏气体分析仪结够简单虽一次购置成本低但长期运

仪器分析概论（二）

二.电化学分析法电化学分析法是根据被测物质溶液的各种电化学性质（电极电位、电流、电量、电导或电阻等）来确定其组成及其含量的分析方法。1．电位分析法是用一个电极电位与被测物质活（浓）度有关的指示电极和另一个电位保持恒定的参比电极与试液组成化学电池，根据测量电池电动势或指示电极电位进行分析的方法称为电位

质谱中的各种离子

1). 分子离子(molecular ion)分子被电子束轰击失去一个电子形成的离子称为分子离子。分子离子用M+•表示。分子离子是一个游离基离子。在质谱图上，分子离子对应的峰为分子离子峰。分子离子峰的应用：分子离子峰的质荷比就是化合物的相对分子质量，所以，用质谱法可测分子量。2). 同位素离子(is

计量泵型号表示方法及含义

　　例如：JZ M  -3× 160/ 2　　 2——压力（MPa）　　 160——流量（l/h）　　 3——缸数（单缸不标注）　　 M——缸头形式（柱塞式不标注，M为隔膜式）　　 JZ——机座号　　 （微-Ｗ、小-Ｘ、中-Ｚ、大-Ｄ、特大-Ｔ）　　计量泵流量 Q=60Fsnηvi/60　　式中 Ｑ

常用的荧光分析方法及仪器

直接测定法利用物质自身发射的荧光进行测定分析。间接测定法不管是直接测定，还是间接测定，一般的采用标准工作曲线法，取各种已知量的荧光物质，配成一系列的标准溶液，测定出这些标准溶液的荧光强度，然后给出荧光强度对标准溶液的浓度的工作曲线。在同样的仪器条件下，测定未知样品的荧光强度，然后从标准工作曲线上查出

深度揭秘氦质谱检漏技术——氦质谱检漏的各种方法

利用氦质谱检漏仪进行检漏的方法很多，而检漏中所遇到的被检件的结构、大小、要求也是各式各样的，因此应根据这些特定的条件选择合适的检漏方法。一、喷吹法检漏系统如图15所示。图中的辅助泵是用来对被检容器进行预抽并当被检容器存在大漏时用来维持检漏仪的工作压力的。检漏时，先用辅助泵将被检容器抽到低真空，然后再

深度揭秘氦质谱检漏技术——氦质谱检漏的各种方法

利用氦质谱检漏仪进行检漏的方法很多，而检漏中所遇到的被检件的结构、大小、要求也是各式各样的，因此应根据这些特定的条件选择合适的检漏方法。一、喷吹法检漏系统如图15所示。图中的辅助泵是用来对被检容器进行预抽并当被检容器存在大漏时用来维持检漏仪的工作压力的。检漏时，先用辅助泵将被检容器抽到低真空，然后再

与色谱图和质谱图相关的故障解决方法简介

　　1.故障现象：出现平失峰　　产生故障的可能原因及排除方法：　　a. 柱子中的样品过载，排除方法是分流进样或稀释样品；　　b. 检测器过载，排除方法是降低检测器电压。　　2.故障现象：保留时间不稳定　　产生故障的可能原因及排除方法：　　a. 毛细管柱的固定相发生降解，排除方法是切去毛细管柱端0.5

DNA指纹图谱分析（图）（二）

DNA指纹图谱法的基本操作：从生物样品中提取DNA（DNA一般都有部分的降解），可运用PCR技术扩增出高可变位点（如VNTR系统，串联重复的小卫星DNA等）或者完整的基因组DNA，然后将扩增出的DNA酶切成DNA片断，经琼脂糖凝胶电泳，按分子量大小分离后，转移至尼龙滤膜上，然后将已标记的小卫星DNA

二维核磁共振谱的基本原理

二维核磁共振谱的出现和发展,是近代核磁共振波谱学的最重要的里程碑。极大地方便了核磁共振的谱图解析。二维核磁共振谱是有两个时间变量,经两次傅里叶变换得到的两个独立的频率变量图一般把第二个时间变量t2表示采样时间,第一个时间变量t1则是与 t2无关的独立变量,是脉冲序列中的某一个变化的时间间隔。二维核磁

UPS故障分析及维修方法（二）

　　一、首先检查UPS的绝缘　　在EPS2000中，组件部分的直流地是悬空的，且和框架是隔离的，所以，必须考虑组件和框架之间的绝缘，通常在组件和框架之间潜在着几十伏的电位差。　　二、其次还要读出UPS显示器的故障报警信息　　三、零伏电压参考点　　1、PCB ALIP FAULT（电源板故障）

PCB失效分析案例及方法（二）

裂纹产生的机理：由于热胀冷缩原理，PCB板在回流焊和波峰焊时受高温膨胀，由于PCB板材的选择与表面处理工艺不匹配，板材便会给孔环一个向上的应力，将孔环向上顶起，造成孔环发生向两边翘起的形变，导致孔环出现裂纹。改善方案：①更换CTE更小的板材；②更换表面处理工艺。③ PTH孔电化学腐蚀失效2017年，

质谱分析法术语本底质谱图

本底质谱图（background mass spectrum）在不导入样品的情况下，由清洗仪器的残留溶剂、样品记忆、真空泵油蒸气、色谱柱流失、载气以及各种污染物所产生的质谱图，即为本底质谱图。如果本底质谱的离子峰多且很强，在进行样品测试时，不仅会影响仪器的最佳性能，还会成为样品谱图中的背景谱图（即本

气相色谱仪谱图异常峰分析

指单一成分的样品所出的峰上部有开叉现象。A.进样操作过程是否存在问题，重新进样再试。B.减少进样量。C.适当提高进样器温度，保证样品得到充分气化。D.色谱柱的一部分是否与柱箱内壁的金属面存在接触现象。E.将毛细管色谱柱的入口端一侧切除1∽2毫米或更换色谱柱。F.采用不分流进样方式时，如果需要较大的进

如何处理分析icpms质谱图

电感耦合等离子体质谱ICP-MS所用电离源是感应耦合等离子体（ICP），它与原子发射光谱仪所用的ICP是一样的，其主体是一个由三层石英套管组成的炬管，炬管上端绕有负载线圈，三层管从里到外分别通载气，辅助气和冷却气，负载线圈由高频电源耦合供电，产生垂直于线圈平面的磁场。如果通过高频装置使氩气电离，则氩

如何处理分析icpms质谱图

电感耦合等离子体质谱ICP-MS所用电离源是感应耦合等离子体（ICP），它与原子发射光谱仪所用的ICP是一样的，其主体是一个由三层石英套管组成的炬管，炬管上端绕有负载线圈，三层管从里到外分别通载气，辅助气和冷却气，负载线圈由高频电源耦合供电，产生垂直于线圈平面的磁场。如果通过高频装置使氩气电离，则氩

液质联用仪分析质谱图的程序

  解析未知样的质谱图，大致按以下程序进行：解析分子离子区1， 标出各峰的质荷比数，尤其注意高质荷比区的峰。2，识别分子离子峰。首先在高质荷比区假定分子离子峰，判断该假定分子离子峰与相邻碎片离子峰关系是否合理，然后判断其是否符合氮律。若二者均相符，可认为是分子离子峰。3，分析同位素峰簇的相对强度比及

xps图具体分析方法

XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面

xps图具体分析方法

XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面

xps图具体分析方法

XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面

xps图具体分析方法

XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面

xps图具体分析方法

XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面

xps图具体分析方法

XPS（X射线光电子能谱分析）分析方法包括：1、元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。2、元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析，包括表面的化学组成或元素组成，原子价态，表面能态分布，测定表面